최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체, v.45 no.9 = no.375, 2008년, pp.33 - 40
윤현준 (연세대학교 공과대학 전기전자공학과) , 양명훈 (연세대학교 공과대학 전기전자공학과) , 김용준 (연세대학교 공과대학 전기전자공학과) , 박영규 (연세대학교 공과대학 전기전자공학과) , 박재석 (연세대학교 공과대학 전기전자공학과) , 강성호 (연세대학교 공과대학 전기전자공학과)
As the speed of memory is improved vey fast the advanced test equipments are needed to test the ultra-high speed memory devices efficiently. It is necessary to develop the Algorithmic Pattern Generator (ALPG) that tests fast memory devices effectively using the instructions that testers want to use....
* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.
S. Kikuchi, Y. Hayashi, T. Matsumoto, R. Yoshino, R. Takagi, "A 250 MHz shared-resource VLSI test system with high pin count and memory test capability", Proceedings of IEEE International Test Conference, pp. 558-566, Washington, D.C., USA, August 1989
H. Imada, K. Fujisaki, T. Ohsawa, M. Tsuto, "Generation technique of 500 MHz ultra-high speed algorithmic pattern", Proceedings of IEEE International Test Conference, pp. 677-684, Washington, D.C., USA, October 1996
K. Yamasaki, I. Suzuki, A. Kobayashi, K. Horie, Y. Kobayashi, H. Aoki, H. Hayashi, K. Tada, K. Tsutsumida, K. Higeta, "External Memory BIST for System-in-Package", Proceedings of IEEE International Test Conference, pp. 1-10, Austin, Texas, USA, November 2005
A. T. Sivaram, D. Fan, A. Yiin, "Efficient Embedded Memory Testing With APG", Proceedings of IEEE International Test Conference, pp. 47-54, Baltimore, MD, USA, October 2005
윤현준, 양명훈, 김용준, 박영규, 이대열, 강성호, "고속 메모리 테스트를 위한 파이프라인 ALPG", 테스트 학술대회, 서울, 대한민국, 2007년 6월
ATL-51 Pattern Program Reference Manual. Release 2004. 04, Advantest Corporation, Tokyo, Japan
Virtex-4 User Guide. Release 2007. 04, Xilinx Inc., San Jose, CA
Synplify Userguide. Release 2004. 02, Synplicity Inc., Sunnyvale, CA
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.