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NTIS 바로가기주관연구기관 | 숭실대학교 Soongsil University |
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보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2014-05 |
과제시작연도 | 2013 |
주관부처 | 미래창조과학부 Ministry of Science, ICT and Future Planning |
등록번호 | TRKO201500002781 |
과제고유번호 | 1345212740 |
사업명 | 일반연구자지원(교육부) |
DB 구축일자 | 2015-05-09 |
DOI | https://doi.org/10.23000/TRKO201500002781 |
본 과제에서는 NAND형 플래시메모리의 교란(Disturbance)에 따른 고장(Fault)을 효율적으로 테스트할 수 있는 알고리즘의 개발과 이 알고리즘의 적용이 가능한 PMBIST(Programmable Memory BIST)의 개발을 목표로 한다. 플래시 메모리의 교란에 의한 고장을 검출하는 알고리즘을 FSM 방식과 마이크로 코드 방식을 혼합한 프로그래머블 MBIST에 도입하여 공정상의 수율변화에 적합한 알고리즘을 적용시킬 수 있도록 한다. 최종 설계된 PMBIST 구조는 Verilog HDL로 작성되고 FPGA를 이용하여 기능
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