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전기광학효과를 이용한 전계 프로브 센서
Field Probe Sensor Based on the Electro-Optic Effect 원문보기

한국광학회지 = Korean journal of optics and photonics, v.20 no.2, 2009년, pp.71 - 75  

경운환 (광운대학교 전자공학과) ,  김건덕 (광운대학교 전자공학과) ,  어윤성 (광운대학교 전자공학과) ,  이상신 (광운대학교 전자공학과)

초록
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본 논문에서는 전기광학효과를 갖는 $LiNbO_3$GaAs 물질 기반의 전계 프로브 센서를 제안하고 구현하였다. 이 센서를 이용하여 RF 링 공진필터 소자로부터 방사되는 수평 및 수직방향 성분의 필드세기를 측정하였다. 구현된 $LiNbO_3$ 및 GaAs센서로부터 계산된 감도는 각각 $9.315{\mu}V/\sqrt{Hz}$$49.346{\mu}V/\sqrt{Hz}$였으며, 신호 대 잡음비${\sim}50\;dB$${\sim}40\;dB$였다. 그리고 각 센서의 주파수 응답특성은 ${\sim}1.2\;GHz$였다. 마지막으로 센서를 이용하여 테스트 회로의 근접 필드 분포를 측정하였으며, 이는 HFSS 시뮬레이션 결과와 잘 일치하였다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

A compact electric field probe sensor incorporating two different electro-optic materials of $LiNbO_3$ and GaAs was proposed and fabricated, and it was used to measure the strength of the horizontal and vertical fields generated by a microstrip ring-resonator filter. The sensitivities of ...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 본 논문에서는 전기광학효과를 이용한 필드 측정용 프로브 센서를 구현하였다. 구현된 프로브 센서를 이용하여 필터소자에서 발생하는 필드를 측정한 결과, 필터소자의 선로 사이의 필드분포를 효과적으로 측정할 수 있었으며, 이는 HFSS 시뮬레이션 결과와 잘 일치하였다.

가설 설정

  • [12] 소자의 크기는 60 × 50 mm2이고회로선로의 두께는 1 mm이다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
각종 전자기기에서 발생하는 필드는 어떤 역할을 하는가? 각종 전자기기에서 발생하는 필드는 전자회로의 특성을 왜곡시키고, 무선통신 및 인체에 영향을 끼치는 것으로 알려져 있다.[1] 이러한 필드의 영향을 효과적으로 분석하기 위해서는 전계 센서가 필요하며, 이러한 센서는 안테나 근접장 패턴 분포 조사 등에도 응용될 수 있다.
센서 내부에 집적된 안테나에 의해 송수신된 신호의 특성을 통하여 필드를 감지할 경우 어떤 문제점이 있는가? [3-5] 기존에는 센서 내부에 집적된 안테나에 의해 송수신된 신호의 특성을 통하여 필드가 감지된다. 이 경우에 안테나의 금속 성분 등이 필드 자체의 분포를 왜곡시키는 문제점이 있다.[6] 이러한 문제점을 극복하기 위해서 금속이 아닌 전기광학효과를 갖는 물질을 이용하여 필드감지 센서가 구현되었다.
필드의 영향을 효과적으로 분석하기 위해서는 무엇이 필요한가? 각종 전자기기에서 발생하는 필드는 전자회로의 특성을 왜곡시키고, 무선통신 및 인체에 영향을 끼치는 것으로 알려져 있다.[1] 이러한 필드의 영향을 효과적으로 분석하기 위해서는 전계 센서가 필요하며, 이러한 센서는 안테나 근접장 패턴 분포 조사 등에도 응용될 수 있다.[2] 또한 이를 활용하여 고전압, 고전력 환경 하의 장비로부터 지속적으로 방출되는 필드 분포와 초소형 소자의 근접필드를 측정할 수 있다.
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참고문헌 (13)

  1. P. Bernardi, M. Cavagnaro, S. Pisa, and E. Piuzzi, 'Specific absorption rate and temperature increases in the head of a cellular-phone user,' IEEE Trans. Microwave Theory Tech., vol. 34, no. 7, pp. 1118-1126, 2000 

  2. E. Bonek, D. Hornbachner, E. Riedl-Bratengeyer, W. Hardrian, and R. Jobst, 'Electro-optic ELF field sensor,' Electron. Lett., vol. 28, no. 21, pp. 1994-1995, 1992 

  3. K. Yang, L. P. B. Katehi, and J. F. Whitaker, 'Electro-optic field mapping system utilizing external gallium arsenide probes,' Appl. Phys. Lett., vol. 77, no. 4, pp. 486-488, 2000 

  4. M. Shinagawa and T. Nagatsuma, 'Electro-optic sampling using an external GaAs probe tip,' Electron. Lett., vol. 26, no. 17, pp. 1341-1343, 1990 

  5. B. Kolner and D. Bloom, 'Electrooptic sampling in GaAs integrated circuits,' IEEE J. Quantum Electron., vol. 22, no. 1, pp. 79-93, 1986 

  6. S. H. Zainud-Deen, M. E. S. Badr, E. El-Deen, K. H. Awadalla, and H. A. Sharshar, 'Microstrip antenna with defected ground plane structure as a sensor for landmines detection,' Progress in Electromagnetics Research B, vol. 4, pp. 27-39, 2008 

  7. S. Wakana, T. Ohara, M. Abe, E. Yamazaki, M. Kishi, and M. Tsuchiya, 'Fiber-edge electrooptic/magnetooptic probe for spectral-domain analysis of electromagnetic field,' IEEE Trans. Microwave Theory Tech., vol. 48, no. 12, pp. 2611-2616, 2000 

  8. H. Togo, N. Shimizu, and T. Nagatsuma, 'Tip-on-fiber electro-optic probe for near-field measurement,' NTT Tech. Rev., vol. 4, no. 1, pp. 12-20, 2006 

  9. W. K. Kuo, W. H. Chen, Y. T. Huang, and S. L. Huang, 'Two-dimensional electric-field vector measurement by a $LiTaO_3$ electro-optic probe tip,' Appl. Opt., vol. 39, no. 27, pp. 4985-4993, 2000 

  10. K. Yang, G. David, S. Robertson, J. F. Whitaker, and L. P. B. Katehi, 'High-resolution electro-optic mapping of near-field distributions in integrated microwave circuits,' IEEE MTT-S Digest, vol. 2, no. 2, pp. 949-952, 1998 

  11. M. Iwanami, S. Hoshino, M. Kishi, and M. Tsuchiya, 'Wideband magneto-optic probe with 10 μm-class spatial resolution,' Jpn. J. Appl. Phys., vol. 43, no. 4B, pp. 2288-2292, 2004 

  12. U. H. Kyoung, G. D. Kim, S. S. Lee, and Y. S. Eo, 'Microstrip ring resonator filter enabling enhanced sideband suppression,' Microwave Opt. Technol. Lett., vol. 50, no. 11, pp. 2866-2869, 2008 

  13. S. Wakana, E. Yamazaki, S. Mitani, H. Park, M. Iwanami, S. Hoshino, M. Kishi, and M. Tsuchiya, 'Performance evaluation of fiber-edge magnetooptic probe,' IEEE J. Lightwave Technol., vol. 21, no. 12, pp. 3292-3299, 2003 

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