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In the display industry, COG bonding method is being applied to production of LCD panels that are used for mobile phones and monitors, and is one of the mounting methods optimized to compete with the trend of ultra small, ultra thin and low cost of display. In COG bonding process, electrical charact...

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문제 정의

  • COG 접합 공정에서 미세피치(Fine Pitch)에 따른 본딩 접합 특성의 정확한 이해가 요구되며 각각의 요소들이 접합특성에 미치는 영향들을 수렴하여 실험을 진행하고자 하였다.
  • 본 논문에서는 COG 본딩 공정의 특성을 분석하고 공정조건에 따른 전기적, 기계적 접합특성의본석과 신뢰성 평가를 수행하여 ACF 사용에 따른 본딩의 최적 조건을 알아보고, 미세 피치 (Fine Pitch)화에 따라서 발생할 수 있는 접합 특성을 유추하고자 하였다.
  • 본 논문에서는 COG 본딩 공정의 파라미터를 도출하여 어떤 원인이 본딩 접합 특성에 영향을 미치고 있는가를 파악하고, 원인 인자들의 상호작용을 분석한 결과를 이용하여 최적의 본딩 조건의 특성을 파악하고자 하였다. 이러한 과정들을 통해서 COG 접합 특성에 대한 다음과 같은 결과를 얻었다.
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참고문헌 (18)

  1. Yim, M. J. and Park, K. W., "The contact resistance and reliability of anisotropically conductive film," IEEE Transactions on Advanced Packaging, Vol. 22, No. 2, pp. 166-173, 1999. 

  2. Kim, Y. J., Kim, E. R. and Ihm, D. W., "Anisotropic Conductive Film (ACF) prepared from epoxy-rubber resins and its fabrication and reliability for LCD," Journal of Information Display, Vol. 4, No. 1, pp. 17- 23, 2003. 

  3. Matsuda, K. and Watanabe, I., "Recent progress toward anisotropic conductive film in flat panel display and semiconductor packaging applications," IEEE Proceeding of HDP, pp. 8-13, 2004. 

  4. Cho, H. M. and Lee, Y. H., "Determination of Production Target for the TFT-LCD Manufacturing Line," Korean Academy of International Business, Vol. 11, No. 2, pp. 23-29, 2000. 

  5. Nishib, T., "Future for Low-Temperature polycryatalline silicon," Eurodisply 2002 Conference, pp. 269-272, 2002. 

  6. Ibarak, N., "Low-temperature Poly-Si TFT Technology," SID 99 Digset, pp. 407-413, 1999. 

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  8. Kim, J. H., Kang, I. S., Song, C. J., Hur, Y. J, Kim, H. N., Baek, E. and Seo, T. J., "Flip-chip packaging solution for CMOS image sensor device," Microelectron. Relia, Vol. 44, No. 1, pp. 155-161, 2004. 

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  10. Park, C. H., Chang, K. S., Hwang, J. H. and Kim, B. S., "Development of an ultra precision machine tool for micromachining on large surfaces," Int. J. of Precision Engineering and Manufacturing, Vol. 10, No. 4, pp. 85-91, 2009. 

  11. Koo, J. M. and Jung, S. B., "Interfacial Reaction and Bump Shear Property of Electroplated Sn-37Pb Solder Bump with Ni Under Bump Metallization during Multiple Reflows," Adv. Mater. Research, Vol. 15-17(THERMEC 2006 Supplement), pp. 181-186, 2006. 

  12. Fu, Y., Wang, Y., Wang, X. and Liu, J., "Experimental and Theoretical Characterization of Electrical Contact in Anisotropically Conductive Adhensive," IEEE Trans. Adv. Packag., Vol. 23, No. 1, pp. 15-21, 2000. 

  13. Choi, Y.J., Nam, S. H., Kang, H. W. and Lee, S. W., "Bonding Process Monitoring & Analysis System," Proc. of KSPE Autumn Conference, pp. 721-722, 2009. 

  14. Liu, J., "Conductive Adhesive for Electronics Packaging," Electrochemical Publications LTD, Port Erin, pp. 6-12, 1999. 

  15. Choi, Y. J., Lee, S. W. and Nam, S. H., "FLIP CHIP Bonding Optimization of CCM(Compact Camera Module)," Proc. of KSPE Autumn Conference, pp. 41-42, 2008. 

  16. Sony Chemical Data Sheet, "Anisotropic Conductive Film Technical Data," 2001. 

  17. Hitachi Chemical Data Sheet, "Anisotropic Conductive Film Technical Data," 2008. 

  18. JEDEC Standard, "Thermal Shock," JESD22-A106-A, 1995. 

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