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[국내논문] 미세 전극 패턴을 갖는 알루미나 정전척을 이용한 LED용 사파이어 기판 흡착 연구
A Study on the Holding of LED Sapphire Substrate Using Alumina Electrostatic Chuck with Fine Electrode Pattern 원문보기

한국표면공학회지 = Journal of the Korean institute of surface engineering, v.44 no.4, 2011년, pp.165 - 171  

김형주 (경기대학교 신소재공학과) ,  신용건 (경기대학교 신소재공학과) ,  안호갑 (이지스코(주)) ,  김동원 (경기대학교 신소재공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this work, handling of sapphire substrate for LED by using an electrostatic chuck was studied. The electrostatic chuck consisted of alumina dielectric, which was doped with 1.2 wt% $TiO_2$. As the volume resistivity of alumina dielectric was decreased, the electrostatic force was incre...

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문제 정의

  • 본 논문에서는 발광다이오드 공정에 사용되는 절연체 사파이어 기판의 흡착에 대한 연구를 수행하였다. 알루미나 정전척의 정전기력을 높이기 위하여 미세화된 전극 패턴을 갖는 저저항의 알루미나 유전체를 제조하여 정전기력의 특성을 고찰하였다.
  • 본 논문에서는 전산모사를 이용하여 알루미나 정전척의 전극 패턴 미세화에 따른 전기장 변화를 고찰하였다. 전산모사는 전자기장을 포함하는 복합장 (coupled physics)을 해석하는 프로그램인 CoventorWare 를 사용하였으며 전산모사를 이용해 전극 간격 및 전극 폭에 따른 전기장 변화를 모의실험 하였다.
  • 절연체 사파이어 기판을 흡착하기 위해 인가전압에 따른 저저항 알루미나 정전척의 정전기력 변화를 알아보고자 한다. 실제로 저저항 알루미나 유전체에 전극 간격을 1.
  • 알루미나 정전척의 체적저항과 미세 전극 패턴들이 절연체인 발광다이오드용 사파이어 기판의 정전기력에 미치는 영향을 알아보았다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
쿨롱형 정전척에서 잔하들이 유전층을 통과하지 못하는 이유는? 쿨롱형 정전척은 정전척으로 사용되는 유전체 재료가 1015 Ω·cm 이상의 높은 체적저항으로 인해 전하들이 유전층을 통과하지 못하며, 전기장에 의해 발생하는 유전체의 유전분극으로 정전기력이 생성된다3). 반면에 존슨-라벡형 정전척은 쿨롱형 정전 척과 유사하게 유전분극으로 인한 정전기력을 가지고 있으면서, 낮은 유전체 저항으로 인해 표면전하들이 발생하여 이로 인해 높은 흡착력을 갖는다.
정전기력을 이용한 흡착의 분류는 어떻게 되는가? 정전기력을 이용하여 기판을 흡착하는 기술은 반도체 산업에서 플라즈마 식각 공정 및 증착 공정에 광범위하게 사용되고 있다. 정전기력을 이용한 흡착은 유전체가 가지고 있는 표면저항 및 체적저항에 따라 전하량 분포가 다르게 나타나고 흡착 메커니즘의 차이가 발생하여 쿨롱형 정전척(Coulomb type of electrostatic chuck) 및 존슨-라벡형 정전척 (Johnsen-Rahbek type of electrostatic chuck)으로 분리하여 적용하고 있다1,2).
발광다이오드 공정에서 정전척을 이용해 사파이어기판을 흡착하기 위해서는 기존의 실리콘 기판 흡착에 사용되었던 정전기력보다 높은 정전기력을 갖는 정전척이 요구되는 이유는? 반도체 성질의 실리콘 기판 흡착에 적용되는 정 전척 방식을 절연체인 사파이어 기판 흡착에 사용할 경우에는 기판 절연특성에 의해 낮은 정전기력을 나타낸다. 또한 반도체나 발광다이오드(light emitting diode) 공정에서 발생되는 열에 의해 디바이스나 다이오드의 열화현상이 발생되기 때문에 기판흡착을 위한 정전기력이 낮을 경우에는 정전척 내에 헬륨 냉각가스의 압력을 충분히 올려주지 못해 실리콘 웨이퍼나 사파이어 기판들을 충분히 냉각시킬 수가 없다6). 따라서 발광다이오드 공정에서 정전척을 이용해 사파이어기판을 흡착하기 위해서는 기존의 실리콘 기판 흡착에 사용되었던 정전기력보다 높은 정전기력을 갖는 정전척이 요구된다.
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참고문헌 (8)

  1. G. I. Shim, Hideo Sugai, Plasma Fusion Res., 3 (2008) 051. 

  2. S. Qin, A. McTeer, Jpn. J. Appl. Phys., 102 (2007) 064901. 

  3. J. Yoo, J. S. Choi, S. J. Hong, T. H. Kim, S. J. Lee, Proceedings of International Conference on Electrical Machines and Systems, Seoul, 2007. 

  4. T. Watanabe, T. Kitabayashi, C. Nakayama, Jpn. J. Appl. Phys., 32 (1993) 864. 

  5. R. Atkinson, Br. J. Appl. Phys., 2 (1969) 325. 

  6. D. R. Wright, D. C. Hartman, U. C. Sridharan, M. Kent, T. Jasinski, S. Kang, J. Vac. Sci. Technol., A, 10 (1992) 1065. 

  7. J. S. Choi, J. Yoo, S. J. Hong, T. H. Kim, S. J. Lee, Key Eng. Mater., 326 (2006) 1221. 

  8. K. Asano, F. Hatakeyama, K. Yatsuzuka, IEEE Trans. Ind. Appl., 38 (2002) 840. 

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