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전력전달 및 분배 향상을 위한 Interconnect 공정 기술
Interconnect Process Technology for High Power Delivery and Distribution 원문보기

마이크로전자 및 패키징 학회지 = Journal of the Microelectronics and Packaging Society, v.19 no.3, 2012년, pp.9 - 14  

오경환 (서울과학기술대학교 글로벌융합산업공학과) ,  마준성 (서울과학기술대학교 NID융합기술대학원) ,  김성동 (서울과학기술대학교 기계시스템디자인공학과) ,  김사라은경 (서울과학기술대학교 NID융합기술대학원)

초록
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전자 소자의 기술이 발달함에 따라 전력은 증가하고, 전압은 낮아지고, 입출력 범프 수가 증가하는 반면, 범프 피치는 크게 줄어들지 못하기 때문에 전력전달과 분배 문제는 점점 심각해지고 있다. 그동안 전력전달 문제를 해결하기 위해선 대부분 회로나 아키텍처 차원에서 에너지를 적게 소모하는 방법을 주로 연구해 왔으나, 최근 회로분야와 동시에 새로운 공정설계를 통해서 전력전달 및 분배를 높이고 발열 문제도 처리하는 interconnect 공정 기술이 중요시 되고 있다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Robust power delivery and distribution are considered one of the major challenges in electronic devices today. As a technology develops (i.e. frequency and complexity, increase and size decreases), both power density and power supply noise increase, and voltage supply margin decreases. In addition, ...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 본 논문에서는 MANET에서 적용 가능한 전력인지 라우팅 프로토콜을 제안하였다.
  • 본 논문에서는 멀티미디어 ad hoc 네트워크에 적용할 수 있는 적절한 전송지연을 보장하면서 전력소비를 최소화 하는 라우팅 프로토콜을 제안한다.
  • 앞에서 설명한 ABL 범프는 2개 이상의 같은 전력범프를 연결하여 범프 면적을 높이고, 패드 opening 또는 SRO 사이즈를 크게 하여 전력전달과 분배를 높이는데 목적이 있다. Fig.

가설 설정

  • 1. 모든 노드 nj는 Ej = ∞로 초기화 한다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
interconnect 공정 기술은 어떤 역할을 하는가? 그동안 전력기술에 대한 대부분의 연구개발은 소자의 회로(circuit)나 아키텍처(architecture) 차원에서 에너지를 적게 소모하도록 하는 방법이 주를 이루어 왔다.6-10) 그러나 최근 소자의 소형화, 고성능화에 따라 회로 분야의 접근과 동시에 공정을 통해 전력전달을 높이고 발열 문제도 처리하는 interconnect 공정 기술이 관심의 대상이 되고 있다. 하지만 아직까지는 전력전달이나 분배를 위한 공정설계나 interconnect 공정 기술 개발은 매우 미진한 상태이다.
전력 인테그리티는 어떠한 요소에 영향을 받는가? 이는 공급되는 전압이 줄면서 전압에 대한 직접 소자의 민감도(sensitivity)가 높아지기 때문이다. 전력 인테그리티는 칩(chip)과 패키지(package)를 연결하는 범프, 칩과 패키지내의 배선 라인, 배선 라인과 범프를 연결하는 칩의 패드(pad) opening과 패키지의 SRO(Solder resist opening)에 큰 영향을 받는다. 즉, 전력전달 향상을 위한 공정설계의 해결과제 중 하나는 칩에 직접적 영향을 주는 패키지와 보드의 글로벌 전력전달 시스템과 칩 전력전달 시스템을 동시에 해결할 수 있는 공정 설계를 간구해야 된다는 것이다.
고밀도 패키징의 성능을 높이기 위해서 패키징 전력 인테그리티를 해결해야 하는 이유는 무엇인가? 또한 전자 소자의 패키징 기술은 지속적으로 많은 pincount를 가진 고밀도 패키징으로 발전하고 있고, 고밀도 패키징의 성능을 높이기 위해서는 전류 급등(surge)에 의한 패키징 전력 인테그리티를 해결해야 하는 문제도 야기되고 있다. 이는 공급되는 전압이 줄면서 전압에 대한 직접 소자의 민감도(sensitivity)가 높아지기 때문이다. 전력 인테그리티는 칩(chip)과 패키지(package)를 연결하는 범프, 칩과 패키지내의 배선 라인, 배선 라인과 범프를 연결하는 칩의 패드(pad) opening과 패키지의 SRO(Solder resist opening)에 큰 영향을 받는다.
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참고문헌 (32)

  1. N. H. Khan, S. M. Alam and S. Hassoun, "Power Delivery Design for 3-D ICs Using Different Through-Silicon Via (TSV) Technologies", IEEE Trans. VLSI systems, 19(4), 647 (2011). 

  2. R. S. List, C. Webb and S. E. Kim, "3D Wafer stacking technology", Proc of AMC, 29 (2002). 

  3. R. Plieninger, M. Dittes and K. Pressel, "Modern IC packaging trends and their reliability implications", Microelectron. Reliab., 1868 (2006). 

  4. ITRS from http://www.itrs.net 

  5. R. Bhooshan and B. P Rao, "Optimum IR Drop Models for Estimation of Metal Resource Requirements for Power Distribution Network", IFIP on VLSI, 292 (2007). 

  6. M. Ketkar and E. Chiprout, "A microarchitecture based framework for pre- and post-silicon power delivery analysis", Microarchitecture, 42, 179 (2009). 

  7. N. H. Khan, S. M. Alam and S. Hassoun, "System level comparison of power delivery design for 2D and 3D ICs 3D System Integration", IEEE 3DIC, 1 (2009). 

  8. B. Amelifard and M. Pedram, "Optimal Selection of Voltage Regulator Modules in a Power Delivery Network", IEEE DAC, 168 (2007). 

  9. M. Budnik and K. Roy, "A Power Delivery and Decoupling Network Minimizing Ohmic Loss and Supply Voltage Variation in Silicon Nanoscale Technologies", IEEE Trans. VLSI Systems, 14(12), 1336 (2006). 

  10. C. Wang, H. Cheng, C. Chiu, C. Hung and C. Kuo, "Through co-design to optimize power delivery distribution system using embedded discrete de-coupling capacitor", IEEE CPMT, 1 (2010). 

  11. J. Sun, J. Q. Lu, D. Giuliano, T. P. Chow, R. J. Gutmann, "3D Power Delivery for Microprocessors and High-Performance ASICs", IEEE APEC, Feb. (2007). 

  12. G. Schrom, P. Hazucha, J. Hahn, V. Kursun, D. Gardner, S. Narendra, T. Karnik and V. De, "Feasibility of Monolithic and 3D-Stacked DC-DC Converters for Microprocessors in 90 nm Technology Generation", ISLPED, 263 (2004). 

  13. G. Huang, M. Bakir, A. Naeemi and H. Chen, J. Mei, "Power delivery for 3D chip stacks: Physical modeling and design implication", IEEE EPEP, 205 (2007). 

  14. M. B. Healy and S. K. Lim, "Distributed TSV Topology for 3-D Power-Supply Networks", IEEE Trans. VLSI systems, 1 (2011). 

  15. S. Kim, B. Martell, D. Ayers, S. List, P. Moon and S. Towle, "Thick metal layer integrated process flow to improve power delivery and mechanical buffering", US Patent No. 6, 977, 435 (2005). 

  16. A. J. McNamara, Y. Joshi and Z. M. Zhang, "Characterization of nanostructured thermal interface materials", Int. J. Therm. Sci., In Press, Available online, November (2011). 

  17. J. Xu and T. S. Fisher, "Enhancement of thermal interface materials with carbon nanotube arrays", Int. J. Heat Mass Transf., 49(9-10), 1658 (2006). 

  18. A. Hamdan, A. McLanahan, R. Richards and C. Richards, "Characterization of a liquid-metal microdroplet thermal interface material", Exp. Therm. Fluid Sci., 35(7), 1250 (2011). 

  19. S. N. Paisner, "Nanotechnology and mathematical methods for high-performance thermal interface materials", Global SMT & Packag., 36 (2008). 

  20. H. Shin, H. Lee, J. Bang, S. Yoo, S. Jung and K. Kim, "Variation of Thermal Resistance of LED Module Embedded by Thermal Via", J. Microelectron. Packag. Soc., 17(4), 95 (2010). 

  21. W. S. Lee, Y. W. Ko, C. S. Yoo, K. C. Kim and J. C. Park, "A Study on the Thermal Behavious of Via Design in the Ceramic Package", J. Microelectron. Packag. Soc., 10(1), 39 (2003). 

  22. J. Darabi and K. Ekula, "Development of a chip-integrated micro cooling device", Microelectronics, 34(11), 1067 (2003). 

  23. Y. M. Hung and Q. Seng, "Effects of geometric design on thermal performance of star-groove micro-heat pipes", Int. J. Heat Mass Transf., 54(5-6), 1198 (2011). 

  24. J. Vaes, W. Dehaene, E. Beyne and Y. Travaly, "Integration challenges of copper Through Silicon Via (TSV) metallization for 3D-stacked IC integration", Microelectron. Eng., 88(50, 745 (2011). 

  25. D. Kearney, T. Hilt and P. Pham, "A liquid cooling solution for temperature redistribution in 3D IC architectures", Microelectron., In Press, Available online, June (2011). 

  26. F. Schindler-Saefkow, O. Wittler, D. May and B. Michel, "Thermal Management in a 3D PCB Package with Water Cooling", IEEE ESTC, 107 (2006). 

  27. R. Hon, S. W. Ricky Lee, S. X. Zhang and C. K. Wong, "Multi-Stack Flip Chip 3D Packaging with Copper Plated Through-Silicon Vertical Interconnection", IEEE EPTC, 384 (2005). 

  28. D. Sekar, C. King, B. Dang, T. Spencer, H. Thacker, P. Joseph, M. Bakir and J. Meindl, "A 3D-IC Technology with Integrated Microchannel Cooling", IEEE IITC, 13 (2008). 

  29. C. R. King, Jr., J. Zaveri, M. S. Bakir and J. D. Meindl, "Electrical and Fluidic C4 Interconnections for Inter-layer Liquid Cooling of 3D ICs", IEEE ECTC, 1674 (2010). 

  30. K. W. Yan, R. W. Johnson, R. Stapleto and K. Ghosh, "Double Bump Flip-Chip Assembly", IEEE Trans. EPM 29(2), 119 (2006). 

  31. M. Topper, V. Glaw, P. Coskina, J. Auersperg, K. Samulewicz, M. Lange, C. Karduck, S. Fehlberg, O. Ehrmann and H. Reichl, "Wafer Level Package using Double Balls", Int. Sym. APM, 198 (2000). 

  32. B. Keser, B. Yeung, J. White and T. Fang, "Encapsulated double- bump WL-CSP: design and reliability", IEEE ECTC 35 (2001). 

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