최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기반도체디스플레이기술학회지 = Journal of the semiconductor & display technology, v.11 no.3, 2012년, pp.39 - 44
Electronics in modern lives have become more miniaturized and precise. Multi Layered Ceramic Capacitor (MLCC) occupies 50% of electronic components consisting of electronics. This high volume of the production needs high speed and more precise machine performances. The dominate parts of the producti...
* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.
핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
---|---|---|
MLCC란 무엇인가? | 또한 우주-항공산업 분야 및 자동차 산업 현장에서 측정장비 및 전기 제어장치가 사용되는 모든 곳에는 초소형의 SMD(Surface Mount Device) Chip 형태의 전자부품이 사용된다. 대표적으로 MLCC(Multi Layered Ceramic Capacitor)는 전하를 일시적으로 저장하는 콘덴서의 일종이며, 오늘날 SMT에 사용하는 가장 보편적인 콘덴서 형태이다. SMD Chip 중에서도 대표적으로 최근 MLCC 제조기술은 전자장비들의 계속적인 소형화 추세를 가능하게 하도록 초소형화, 고용량화 되어가고 있다. | |
SMD의 형태는 무엇이 있는가? | 전자 부품의 소형화에 따른 전자기기의 핵심부품(저항, 커패시터, 인덕터)은 SMD(Surface Mount Device)형태로 일반화되어 제조되고 있는 주된 SMD의 형태는 칩인덕터(Chip Inductor), 칩 저항(Chip Resistor), 칩커패시터(Chip Capacitor) 등이 있으며 이것에 대한 칩 커패시터의 다양한 형태 및 크기는 Fig. 1에 나타내었다. | |
전자부품 제조 설비의 성능이 중요하다는 것을 증명하는 사례는 무엇인가? | 결국 전자부품 생산장비의 생산공정, 검사공정, 포장공정까지 모든 공정에 고생산성, 고품질성이 포함된 포괄적인 장비 기술이 필요하다. 예를 들어 MLCC 검사 및 Taping 장비는 최대 5,000(ea/min)의 생산량을 보이는 일본업체와 달리 국내 업체의 기술력으로는 생산성과 품질을 기대하기 어려운 실정이다. 국내 한 Vision 업체에서 용량검사, 외관검사, Taping, 세가지 공정을 처리하는 설비를 제작한 바 있으나, 일본 설비에 비해 생산성이 60~65%정도밖에 되지 않아 생산성 저하문제로 현장에서 더 이상 사용하지 않고 있다. 각각의 요소 기술 개발 및 고속 공정에서의 각 요소별 동작 동기화 기술개발이 절실한 상황이다. 따라서 전자부품 제조 설비의 성능이 매우 중요하며, 현재 가장 필요시 되고 있는 부분은 전자부품의 외관을 실시간으로 고속 검사하는 기술이며 다양한 전자부품의 외관 검사기술들이 개발되고 있다[1-3]. |
김기순, 김기영, 김준식, "초소형 RF-chip inductor 의외관검사알고리즘에관한연구,"한국신호처리.시스템학회논문집, 1권, 1-1 호, pp. 89-96, 2000.
김한나, 강수민, 허경무,"BGA 솔더볼외관검사시스템개발,"정보및제어심포지엄논문집, pp. 57-59, 2010.
Hong-Dar Lin., "Computer-aided visual inspection of surface defects in ceramic capacitor chips," Journal of Materials Processing Technology ,Vol. 189, Issues 1-6, pp. 19-25, July 2007.
한종우, 최영규, "제지공정의실시간검출을위한영상기반웹검사시스템," 반도체디스플레이기술학회지, Vol. 9, No. 2, pp. 47-51, 2010.
김현진, 이인호, 박창준, 오원근,"WindowNT 기반의다중스레드를이용한 IC 리드프레임검사시스템,"대한전자공학회학술대회, 10(1), pp. 511-514, 1997..
Slabaugh G, Boyes R, Yang X, "Multicore Image Processing with OpenMP," IEEE signal processing magazine, Vol. 27 No.2, pp. 134-138, 2011.
정영훈, "OpenMP 병렬프로그래밍," FREELEC, 2011.
*원문 PDF 파일 및 링크정보가 존재하지 않을 경우 KISTI DDS 시스템에서 제공하는 원문복사서비스를 사용할 수 있습니다.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.