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[국내논문] 회절격자 간섭계를 이용한 초정밀 스테이지의 6 자유도 운동 특성 측정
Measurement of a Six-degree-of-freedom Dynamic Characteristics using Angle Sensor-Implemented Grating Interferometry 원문보기

한국정밀공학회지 = Journal of the Korean Society for Precision Engineering, v.29 no.8, 2012년, pp.906 - 912  

이차범 (광주과학기술원 기전공학부) ,  김규하 (광주과학기술원 기전공학부) ,  이선규 (광주과학기술원 기전공학부)

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This paper presents the new method for a six-degree-of-freedom (DOF) motion measurement and those dynamic characterizations in an ultraprecision linear stage using angle sensor-implemented grating interferometry. It consists of a diffractive optical element, a corner cube, four separate two-dimensio...

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문제 정의

  • 연구에서는 선행 연구를 통해 구현된 실험 장치에서 계단 응답을 통한 선형 이송 스테이지에서의 6-DOF 성분의 동특성을 측정하고, 볼 스크류 스테이지의 이송 속도에 따른 테이블의 6-DOF 성분의 운동 특성을 실험적으로 측정하였고, 이러한 결과로부터 볼 스크류 스테이지의 운동 특성에 영향을 미치는 인자에 대해서 논의하였다.
  • 회절격자 간섭계를 사용한 다자유도 운동오차 측정 시스템은 고분해능과 고속응답 특성을 가지고 있기 때문에 오차 측정과 동시에 스테이지의 다자유도 운동 특성 측정이 용이하다. 본 연구에서는 계단 이송 응답을 통해 압전소자 구동 나노 스테이지와 볼 스크류 구동 스테이지에서의 6-DOF 운동 특성과 슬라이드 테이블의 구동 속도에 따른 운동 특성을 측정하기 위해 두 종류의 선형 스테이지를 실험 대상으로 선정하였다.
  • 본 연구에서는 미세 구동 영역에서 이송 속도에 따른 스테이지 운동 특성을 비교하기 위하여 스테이지에 X 방향으로 100 ㎛의 변위를 발생할 수 있도록 계단 입력을 인가하여 6-DOF 운동 특성을 측정하였다. 측정 결과, Fig.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
선형 스테이지는 어디에 주로 사용되나요? 선형 스테이지는 공작기계, 반도체 공정 시스템, 정밀 조립 장치 등에 주로 사용된다. 2-4,10-13 선형 스테이지에서의 테이블 이송 시, 운동 오차는 기준 좌표계{R}와 스테이지 좌표계{D}와의 차이를 나타내며, 동차 변환 행렬을(HTM) 이용하여 식 (1)과 같이 간단하게 표기할 수 있다.
정밀 기계에서 스테이지의 운동오차는 어떠한 결과를 가져오나요? 4-6 모든 스테이지는 크고 작은 회전 운동오차, 선형 운동오차와 같은 6-DOF 운동오차를 가지고 있다. 이러한 정밀 기계에서의 스테이지의 운동오차는 스 테이지의 제어 및 가공물의 가공 품질을 저하시키는 결과를 가져오게 된다. 7-10 선형 이송 스테이지에서의 다자유도 운동오차 측정을 위하여 기존에는 레이저 간섭계와 오토콜리메이터를 이용하였으나, 최근 들어서는 각도 측정 센서와 회절격자 간 섭계를 활용한 새로운 측정 방법들이 적극 활용되고 있다.
선형 이송 스테이지에서 다자유도 운동오차 측정을 위하여 최근 각도 측정 센서와 회절격자 간섭계를 이용한 새로운 측정 방법이 활용되는 이유는 무엇인가요? 7-10 선형 이송 스테이지에서의 다자유도 운동오차 측정을 위하여 기존에는 레이저 간섭계와 오토콜리메이터를 이용하였으나, 최근 들어서는 각도 측정 센서와 회절격자 간 섭계를 활용한 새로운 측정 방법들이 적극 활용되고 있다. 10-13 그 이유는 레이저 간섭계보다는 회절 격자 간섭계가 비용면에서 저렴할 뿐만 아니라, 대기 환경에서의 온도, 압력, 습도변화에 대해 덜 민감한 특성으로 인해 선형 및 회전 이송계 적용에 용이하다고 판단되기 때문이다. 10 Huang 은 각도 센서와 회절격자 간섭계를 활용하여 선형 스테이지의 3-DOF 운동을 측정하였고, 11 Kimura 는 각도 센서를 활용하여 2 차원 표면 측정 장치를 구현하여, 10 ㎛ 주기를 갖는 2 차원 그리드 면의 토포그라피를 측정하였다.
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참고문헌 (21)

  1. Lee, H.-S. and Kim, S.-W., "Real-Time Correction of Movement Errors of Machine Axis by Twyman-Green Interferometry," Journal of the KSME, Vol. 17, No. 12, pp. 3115-3123, 1993. 

  2. Slocum, A. H., "Precision machine design," Englewood Cliffs, NJ: Prentice-Hall, 1992. 

  3. Hwang, J., Park, C. H., Lee, C. H., Kim, D. I., and Kim, S. W., "The Analysis of Motion Error in Scanning Type XY Stage," Proc. of KSPE Autumn Conference, pp. 1380-1383, 2004. 

  4. Park, C. H. and Lee, H., "Motion Error Analysis of the Porous Air Bearing Stages Using the Transfer Function," Journal of the KSPE, Vol. 21, No. 7, pp. 185-194, 2004. 

  5. Park, S.-R., Hoang, T.-K., and Yang, S.-H., "A new optical measurement system for determining the geometrical errors of rotary axis of a 5-axis miniaturized machine tool," Journal of Mechanical Science and Technology, Vol. 24, No. 1, pp. 175-179, 2010. 

  6. Kim, W.-S., Lee, D.-J., and Lee, S.-K., "Influence of a high vaccum on the precise positioning using an ultrasonic linear motor," Review of Scientific Instruments, Vol. 82, No. 1, Paper No. 015112, 2011. 

  7. Hwang, Y., Kuriyagawa, T., and Lee, S.-K., "Wheel curve generation error of aspheric microgrinding in parallel grinding method," International Journal of Machine Tools and Manufacturing, Vol. 6, No. 1, pp. 59-64, 2006. 

  8. Kim, W.-S., Yun, C.-H., and Lee, S.-K., "Nano Positioning of a High Power Ultrasonic Linear Motor," Japanese Journal of Applied Physics, Vol. 47, No. 7, pp. 5687-5692, 2008. 

  9. Fan, K. C., Chen, M. J., and Huang, W. M., "A sixdegree-of-freedom measurement system for the motion accuracy of linear stage," International Journal of Machine Tools and Manufacturing, Vol. 38, No. 3, pp. 155-164, 1998. 

  10. Gao, W., "Precision Nanometrology: Sensors and Measuring Systems for nanomanufacturing," Springer, 2010. 

  11. Huang, H. L., Liu, C. H., Jywe, W. Y., Wang, M. S., and Fang, T. H., "Development of a three-degree-offreedom laser linear encoder for error measurement of a high precision stage," Review of Scientific Instruments, Vol. 78, No. 6, Paper No. 066103, 2007. 

  12. Kimura, A., Gao, W., and Kiyono, S., "Design and construction of a surface encoder with dual sinegrids," Int. J. Precis. Eng. Manuf., Vol. 8, No. 2, pp. 20-25, 2007. 

  13. Lee, C., Kim, G. H., and Lee, S.-K., "Design and construction of a single unit multi-function optical encoder for a six-degree-of-freedom motion error measurement in an ultraprecision linear stage," Measurement Science and Technology, Vol. 22, No. 10, Paper No. 105901, 2011. 

  14. Ogata, K., "System Dynamics, 4th ed.," Prentice Hall, 2003. 

  15. Dorf, R. C. and Bishop, R. H., "Modern Control Systems," Prentice Hall, 2008. 

  16. Kim, G. H., Lee, C., Kim, J.-H., and Lee, S.-K., "Straightness and parallelism mea surement of machine tool slideways using multi-point method," Proc. of the ASPEN, Paper No. 0106, 2011. 

  17. Kim, G. H., Lee, S. K., Lee, C. B., Kim, J. H., and Lee, D. J., "Multi-point method for straightness and parallelism measurement of slideways," Proc. of KSPE Autumn Conference, pp. 824-825, 2011. 

  18. Kim, S.-M. and Lee, S.-K., "Prediction of thermoelastic behavior in spindle bearing system considering surroundings," International Journal of Machine Tools and Manufacturing, Vol. 41, No. 6, pp. 809-831, 2001. 

  19. Lee, S.-K., Yoo, J.-H., and Yang, M.-S., "Effect of thermal deformation on machine tool slide guide motion," Tribology International, Vol. 36, No. 1, pp. 41-47, 2003. 

  20. Futami, S. and Furutani, A., "Nanometer positioning and its micro-dynamics," Nanotechnology, Vol. 1, No. 1, pp. 31-37, 1990. 

  21. Wu, R.-H. and Tung, P.-C., "Studies of stick-slip friction, presliding displacement, and hunting," Journal of Dynamic Systems, Measurement, and Control, Vol. 124, No. 1, pp. 111-117, 2002. 

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