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평행판 도파관 THz 분광을 이용한 폭발물 RDX 검출
Detection of Explosive RDX using Parallel Plate Waveguide THz-TDS 원문보기

전기학회논문지 = The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers, v.61 no.12, 2012년, pp.1939 - 1943  

유병화 (우석대학교 대학원 전기전자공학과) ,  정동철 (우석대학교 전기전자공학과) ,  강승범 (SE중공업 중앙연구소) ,  곽민환 (창원문성대학 전기과) ,  강광용 (전자통신연구원 테라헤르츠 연구팀)

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In this paper we presented the detection of the explosive material RDX using a parallel plate waveguide (PPWG) THz time domain spectroscopy (TDS). Normally the explosive materials have been characterized through identification of vibrational fingerprint spectra. Until now, most of all THz spectrosco...

주제어

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제안 방법

  • 그림 6(a)에 평행판 도파관을 이용, THz-TDS에 의해 측정된 RDX의 기준펄스와 신호펄스를 제시하였다. 기준펄스는 35 psec ∼ 36.
  • 본 논문에서는 다양한 분야에서 물질 분석에 관한 연구가 진행되고 있는 THz-TDS 시스템을 이용하여 폭발물질 RDX의 시간지연과 에너지 흡수를 비롯한 흡수 스펙트럼을 분석하였다. THz-TDS 시스템에 평행판 도파관을 제작하여 RDX를 분광, 물질의 고유 흡수 스펙트럼을 확인하였다. 평행판 도파관을 이용한 경우 물질의 특성을 나타내는 흡수 스펙트럼에서의 첨두값이 기존의 방법에 비해 매우 선명하게 고찰할 수 있음도 확인하였다.
  • THz-TDS 시스템을 이용하여 THz 대역에서의 폭발물질 RDX의 흡수 스펙트럼을 측정하기 위해 그림 3과 같이 평행판 도파관을 이용해 폭발 물질인 RDX를 측정하는 시스템을 구축하였다. 그림 3의 (a)는 미량 (700 ㎍)의 RDX 폭발물질을 넣은 평행판 도파관을 THz 빔 경로상에 위치시킨 사진이며 그림 3의 (b)는 도파관 안의 아래쪽에는 폭발 물질을 넣고 위쪽에는 빈공간으로 남겨놓은 평행판 도파관의 구조를 제시한 것이다.
  • 그림 3의 (a)는 미량 (700 ㎍)의 RDX 폭발물질을 넣은 평행판 도파관을 THz 빔 경로상에 위치시킨 사진이며 그림 3의 (b)는 도파관 안의 아래쪽에는 폭발 물질을 넣고 위쪽에는 빈공간으로 남겨놓은 평행판 도파관의 구조를 제시한 것이다. 따라서 기준펄스의 측정은 도파관 위쪽의 빈 공간에 테라헤르츠 파를 입사시켜서 실시하였으며 신호펄스의 측정은 폭발 물질이 탑재된 도파관의 아래쪽에 테라헤르츠 파를 입사시켜 실시하였다.
  • 본 논문에서는 다양한 분야에서 물질 분석에 관한 연구가 진행되고 있는 THz-TDS 시스템을 이용하여 폭발물질 RDX의 시간지연과 에너지 흡수를 비롯한 흡수 스펙트럼을 분석하였다. THz-TDS 시스템에 평행판 도파관을 제작하여 RDX를 분광, 물질의 고유 흡수 스펙트럼을 확인하였다.
  • 본 논문에서는 평행판 도파관 (Parallel plate waveguide : PPWG)을 이용하여 분말 가루 형태의 폭발물질인 RDX의 고유 흡수 스펙트럼을 분석하였다. 실험결과, 평행판 도파관을 이용한 THz TDS 분석은 기존의 Teflon sample을 이용한 THz TDS 분석에 비해 극히 미량만으로도 폭발물질을 분석할 수 있었다.
  • 실험을 실시하기에 앞서 광 초퍼와 수분에 의한 영향을 조사하였다. 광 초퍼의 경우, 실험 시스템의 진동을 야기할 수 있으며 수분의 경우 결과 분석에 잡음으로 작용할 수 있다.

대상 데이터

  • 모드 잠김 방식의 Ti:Sapphire 펨토초 레이저는 15 ∼ 30 fs의 펄스폭과 80 MHz의 반복률로 중심 파장 795 nm, 펄스폭 62 nm의 펄스 파를 방사한다. 테라헤르츠 파의 발진 및 검출하기 위한 광전도안테나는 Low-Temperature-Grown GaAs (LT-GaAs)로 제작하여 사용했다. 발진 및 검출 안테나에 입력되는 펨토초 레이저의 파워는 각각 40 및 20 mW, 발진기에 가해지는 바이어스 전압은 15 ∼ 21 V였다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
분말 가루 형태의 폭발물질인 RDX의 고유 흡수 스펙트럼을 분석한 결과 폭발물질 분석에 더 유리한 분석방법은? 본 논문에서는 평행판 도파관 (Parallel plate waveguide : PPWG)을 이용하여 분말 가루 형태의 폭발물질인 RDX의 고유 흡수 스펙트럼을 분석하였다. 실험결과, 평행판 도파관을 이용한 THz TDS 분석은 기존의 Teflon sample을 이용한 THz TDS 분석에 비해 극히 미량만으로도 폭발물질을 분석할 수 있었다. 이러한 결과는 추후 평행판 도파관 이용한 THz TDS 분석이 극미량의 생화학 물질 분석 등으로도 활용범위를 확대할 수 있을 것으로 기대된다 [7-8].
테라헤르츠 (Terhertz, THz)파란? 테라헤르츠 (Terhertz, THz)파는 마이크로파와 적외선 사이의 주파수 대역으로 0.1 ~ 10 THz의 주파수 범위를 가지며 1 THz는 1 ps 진동수를 가진다. 또한 테라헤르츠 파는 30 ㎛의 파장, 33 ㎝-1의 파수, 에너지로는 4.1 meV에 해당하고 등가온도는 47.6 K를 가지는 원 적외선 영역의 전자기파이다. 더불어 테라헤르츠 파는 전파와 광파의 중간 성질을 가지며 일반적으로 사용되는 전자 및 광학기술로 테라헤르츠 파의 발생과 측정이 어려워 1990년대 초반까지 “THz Gap"이라 알려져 왔다. 그러나 최근에 반도체 재료기술의 발전과 광, 나노 기술의 발전으로 테라헤르츠 파 영역에서 많은 진전이 이루어졌다. 테라헤르츠 파 기술은 마이크로파와 광파가 투과 할 수 없는 물질을 쉽게 투과하고, 광파가 가지는 직진성을 동시에 지니고 있어 시간영역 분광학(THz Time Domain Spectroscopy : THz-TDS) 및 THz-Imging 등의 기술과 더불어 의료, 물리, 화학, 생물, 보안, 국방, 환경, 신물질 개발, 통신 분야 등 다양한 분야로 그 응용범위가 확대되고 있다 [1-2].
테라헤르츠 파 기술의 활용분야는? 그러나 최근에 반도체 재료기술의 발전과 광, 나노 기술의 발전으로 테라헤르츠 파 영역에서 많은 진전이 이루어졌다. 테라헤르츠 파 기술은 마이크로파와 광파가 투과 할 수 없는 물질을 쉽게 투과하고, 광파가 가지는 직진성을 동시에 지니고 있어 시간영역 분광학(THz Time Domain Spectroscopy : THz-TDS) 및 THz-Imging 등의 기술과 더불어 의료, 물리, 화학, 생물, 보안, 국방, 환경, 신물질 개발, 통신 분야 등 다양한 분야로 그 응용범위가 확대되고 있다 [1-2].
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참고문헌 (10)

  1. X-C.Zhang and Jingzhou Xu, "Introduction to THz Wave Photonics", Springer, July 2009. 

  2. B.B. Hu and M. C. Nuss, "Imaging with terahertz waves", Optics Letters., vol. 20, pp. 1716-1718, 1995. 

  3. M C kemp et. al., "Security applications of terahertz technology", Pro. of SPIE, vol. 5070, pp. 44-52, 2003. 

  4. J. Chen et. al., "Absorption coefficients of selected explosives and related compounds in the range of 0.1 - 2.8 THz", Opt. Exp, vol. 5, pp. 12060-12067, 2007. 

  5. N. Laman et. al., "High resolusion waveguide THz spectroscopy of biological molecules", Biophysics J., vol. 94, pp. 1010-1020, 2008. 

  6. Joseph Melinger et. al., "Guided wave terahertz characterization of fingerprint lines in threat materials", Proc. of SPIE, vol. 7671, pp. 767-772, 2010. 

  7. G. Gallot. S. P. Jamison, R. W. McGowan, and D. Grischkowsky, "Terahertz waveguides", J. Opt. Soc. Am. B, vol. 17, pp. 851-863, 2000. 

  8. A. Bingham, Y. Zhao, and D. Grischkowsky, "THz parallel plate photonic waveguide", Appl. Phys. Lett., vol. 87, pp. 5110-5117, 2005. 

  9. Seung Beom Kang et. al., "Optical and Dielectric Properties of Chalcogenide Glasses at Terahertz Frequencies", ETRI Journal, vol. 31, pp. 667-674, 2009. 

  10. Byung Hwa Yoo et. al., "Guided wave specroscopy of explosive materials", J. of Korean Institue of Electromagnetic Eng. and Sci. vol. 11, no. 1 pp. 42-50, 2011. 

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