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플립칩 패키지의 열소산 최적화 연구
A Study on the Optimization of Heat Dissipation in Flip-chip Package 원문보기

마이크로전자 및 패키징 학회지 = Journal of the Microelectronics and Packaging Society, v.20 no.3, 2013년, pp.75 - 80  

박철균 (부산대학교 인지메카트로닉스공학과) ,  이태호 (부산대학교 광메카트로닉스연구소) ,  이태경 (삼성전기) ,  정명영 (부산대학교 인지메카트로닉스공학과)

초록
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전자패키징 기술의 발전에 따라 패키지의 소형화는 집적화에 따른 열 소산 면적 감소로 인하여 패키지의 온도 상승을 초래한다. 온도 상승은 소자의 성능을 저해하여, 시스템 고장을 발생을 유발시키며 수명을 단축시킨다. 본 연구에서는 마이크로 패턴과 세미 임베디드 구조를 결합하여 열 소산을 극대화 시킬 수 있는 새로운 구조를 제안하여 열특성을 평가하였다. 제안 구조의 열특성 평가 결과, 기존 구조에 비하여 최대 온도는 $20^{\circ}C$낮았으며, 범프의 최대 응력은 20%이상 감소하여 제안 구조의 유효성을 확인하였다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

According to advance of electronic packaging technology, electronic package becomes smaller. Miniaturization of package causes the temperature rise of package. This can degrade life of electronic device and generate the failure of electronic system. In this study, we proposed a new semi-embedded str...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • FCBGA의 발열문제를 해결할 수 있는 모델을 제시하고자 한다. Fig.
  • 따라서 본 논문에서는 Fig. 10과 같이 semi-embedded 구조를 설계하여 기존의 플립칩 패키지에 있어서의 원활한 열소산을 구현하고자 하였으며, 시뮬레이션을 통한 열 해석을 수행하였다.
  • 앞 절에서 플립칩 패키지의 열특성을 향상시키기 위하여 마이크로 패턴을 이용한 구조와 세미 임베디드 구조를 통한 열소산 특성을 살펴보았다. 따라서 본 논문에서는 마이크로패터닝과 세미 임베디드 구조를 결합한 최적 열소산 구조를 구현하고, 제안한 구조에 대한 열특성을 평가하였다. 본 논문에서는 기존의 플립칩 패키지에 대하여 마이크로 패턴을 칩에 형성 하였으며, 칩과 패키지 기판을 메인보드 안쪽으로 실장시켜, 아래부분에 Heat Spreader를 구현하여 플립칩에서 발생하는 열을 원활히 소산할 수 있는 구조를 형성하였다.
  • 이는 범프와 솔더 볼의 열변형에 따라 시스템의 작동에 있어서 문제를 야기할 수 있을 것으로 사료된다. 따라서 본 논문에서는 범프와 솔더볼에 대한 열변형 특성을 정량적으로 분석하기 위하여 TCT(Theraml Cycling test)를 이용한 시뮬레이션을 추가적으로 진행하였다.
  • 본 논문에서는 모듈의 고집적화 및 소형화 추세에 따라 발생되는 패키징에 의한 발열 및 수명향상을 위하여 기존의 플립칩에서의 발열 특성을 분석하였고, 발열 문제를 해결할 수 있는 열설계 모델을 제시하였으며, 패턴의 피치와 높이에 따른 발열특성의 분석을 통하여 최적의 열소산 구조를 디자인하고자 하였다.
  • 본 논문에서는 모듈의 고집적화 및 소형화에 따라 발생하는 발열에 따른 성능 저하를 방지하기 위하여 기존의 플립칩에서의 발열 특성을 분석하고, 이에 따른 플립칩 패키지의 열응력 및 열변형 특성을 분석하였다.
  • 이후 전달된 열은 솔더볼을 통해 바깥쪽영역인 메인보드로 열소산이 이루어지게 된다. 본 논문에서는 칩에서 발생하는 열량을 계산하여, 이에 따른 플립칩 내에서의 온도 변화를 살펴보고, 열원을 제거했을 때의 온도변화를 통하여 최적의 열 소산 모델을 제시하고자 한다.
  • 본 연구에서는 최근 많이 사용되는 FCBGA (Flip-chip Ball Grid Array) 패키지에서 열을 효과적으로 소산하기 위한 새로운 구조를 제안하고, 시뮬레이션을 통하여 열 소산에 따르는 온도 분포, 열응력 및 열변형률을 해석함으로써, 열특성의 최적화를 수행하였다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
전자 소자 및 패키지의 장점은 무엇인가? 전자 소자 및 패키지는 낮은 작동 온도에서 더 효과적으로 전기적 신호의 송수신이 가능하며, 노이즈가 적기 때문에 효율적인 기능을 수행할 수 있을 뿐만 아니라, 소자의 수명 향상을 기대할 수 있다.2-3)
전자 소자의 단점은 무엇인가? 그러나, 전자 소자는 구동에 따라 발열이 필연적으로 발생하게 되고, 이러한 발열의 증가는 열팽창계수(CTE) 가 상이한 재료들이 적층된 구조로 구성되어 있는 패키지의 불 균일한 온도분포를 형성하여, 서로 다른 물질 간의 계면에서 균열과 박리와 같은 문제점들이 발생하게 한다.2-3) 이에 따라, 온도에 민감하게 반응하는 소자는 수명이 저하되어 시스템의 고장 등의 문제점을 초래한다.
Embedded PCB 기술의 한계는 무엇인가? 이러한 현재의 요구를 충족시키기 위하여 Embedded PCB가 대두되었다. 그러나 소자를 패키지의 내부 실장하는 기술이기 때문에, 소자의 불량에 따른 대처가 어려운 단점이 있어 일부 수동소자만을 임베디드 기술을 이용할 뿐 현재 널리 활용되지 못하고 있는 실정이다.8-10)
질의응답 정보가 도움이 되었나요?

참고문헌 (14)

  1. C. F. Coombs, "Printed Circuits Handbook", sMcGraw Hill Book Co., Chap.3, (2007). 

  2. Y. Song, S. B. Lee, S. H. Jeon, B. S. Yim, H. S. Chung and J. M. Kim "Underfill Flow Characteristics for Flip-Chip Packaging", J. Microelectron. Packag. Soc.,16(3), 39 (2009). 

  3. J. H. Ann, K. S. Kim, Y. C. Lee, Y. Kim and S. B. Jung "Regulation in Shear Test Method for BGA of Flip-chip Package", J. Microelectron. Packag. Soc., 17(3), 1 (2010). 

  4. J.U. Knickerbocker, et al., "three-dimensional silicon integration", IBM Journal of Research and Development, 52(6), 553- 569, (2008). 

  5. Sakuma, K. et al, "Characterization of Stacked Die using Dieto- Wafer Intergration for High Yield and Throughput", Proc 58th Electronic Components and Technology Connf, Orlando, FL, pp. 18-23 (2008). 

  6. JHwang et al., "Fine pitch chip interconnection technology for 3D integration", Electronic Components and Technology Conference (ECTC), pp. 1399-1403 (2010). 

  7. Y. C. Chiou, Y. M. Jen, S H Huang, "Finite element based fatigue life estimation of the solder joints with effect of intermetallic compound growth", Microelectronics Reliability 2319-2329, 51 (2011). 

  8. C. Y. H. Lu, "Growth Mechanism of the Cathode IMC Layer in Solder Bump Joints", Transactions of JWRI, Special Issue on WSE2011 (2011). 

  9. M. Huang, L. Chen, S. Zhou, S. Ye, "Effect of surfacce finish (OSP and ENEPIG) on Failure mechanism induced by electromigration in Sn-3.0Ag-0.5Cu flip chip solder interconnect", APM2011 (2011). 

  10. A. Qasaimeh, S. Lu, P. Borgesen, "Crack Evolution and Rapid Life Assessment for Lead Solder Joints", Electronic Components and Technology Conference (2011). 

  11. C. G. Song, S. H. Choa, "Numerical Study of Warpage and Stress for the Utra Thin Package", J. Microelectron. Package. Soc., 17(4), 49(2010). 

  12. M. O. Alam ,H. Lu, C. Bailey, Y. C. Chan, "Finite-element simulaation of stress intensity factors in solder joint intermetallic compounds", IEEE Trans Device Mater Ral, 9, 40(2011). 

  13. Y. M. Jen, Y. C. Chiou ,C. L. Yu, "Fracture mechanics study on the intermetallic compound cracks for the solder joints of electronic packages.", Eng Fail Anal, 18, 797 (2011). 

  14. Nguyen, T.T., D. Lee, J. B. Kwak, S. Park, "Effects of glue on reliability of flip chip BGA packages under thermal cycling", Microelectronics Reliability, 50(7), 1000 (2010). 

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