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NTIS 바로가기Journal of electrical engineering & technology, v.8 no.5, 2013년, pp.1182 - 1187
Jeong, Sang-Hun (Dept. of Nuclear Convergence Technology Development Korea Atomic Energy Research Institute, Dept. of Electronic Engineering, Chonbuk National University) , Lee, Nam-Ho (Dept. of Nuclear Convergence Technology Development Korea Atomic Energy Research Institute) , Lee, Jong-Yeol (Dept. of Electronic Engineering, Chonbuk National University) , Cho, Seong-Ik (Dept. of Electronic Engineering, Chonbuk National University)
Transient radiation is emitted during a nuclear explosion and causes fatal errors as upset and latch-up in CMOS circuits. This paper proposes the transient radiation SPICE models of NMOS, PMOS, and INVERTER based on the transient radiation analysis using TCAD (Technology Computer Aided Design). To m...
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Larry L., "NUCLEAR EVENT DETECTOR", http://www.freepatentsonline.com/, pp. 2, Aug 1987.
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Lewis Cohn, Manfred Espig, Al Wolicki, Mayrant Simons, Clay Rogers, Alfred Costantine, "Transient Radiation Effects on Electronics(TREE) Handbook", Defence Nuclear Agency, 1996.
http://radhome.gsfc.nasa.gov/
https://www.escies.org/
Ahlbin, J., Gadlage, M., Atkinson, N., Narasimha- m, B., Bhuva, B., Witulski, A., Holman, W. Ea- ton, P. ; Massengill, L., "Effect of Multiple -Transistor Charge Collection on Single-Event Transient Pulse Widths", Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on, Issue, 99, pp 1, May, 2011.
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저자가 APC(Article Processing Charge)를 지불한 논문에 한하여 자유로운 이용이 가능한, hybrid 저널에 출판된 논문
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