최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기한국재료학회지 = Korean journal of materials research, v.24 no.11, 2014년, pp.617 - 624
To elucidate the effects of a pretreatment process on the uniformity of Ag electroless plating on Cu flakes, pretreatment time was mainly considered with a mixed solution of 0.15 M ammonium hydroxide and 0.0375 M ammonium sulphate. Optical inspection of Ag-coated Cu flakes determined that the optima...
* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.
핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
---|---|---|
Ag 페이스트는 어디에 사용되었는가? | 대표 도전성 페이스트(paste)인 Ag 페이스트는 도전 배선 및 패턴 형성용으로 각종 전기·전자모듈의 제조에 광범위하게 사용되어 왔다.1-3) 그러나 Ag 페이스트의 높은 가격은 전기·전자모듈의 제조 단가를 증가시켜 제품의 경쟁력을 약화시키므로 최근 들어서는 페이스트 제조 시 저가의 금속 필러(filler)를 Ag 플레이크(flake) 대신 첨가시켜 유사한 도전 특성과 더불어 제품의 가격 경쟁력을 동시에 확보하고자 하는 움직임이 시도되고 있다. | |
Ag 코팅 Cu 플레이크의 장점은? | 그러나 Cu는 Ag와는 달리 대기 중에서도 지속적으로 서서히 산화막을 형성시키며,7-9) 가열 중 더욱 급속히 산화되는 특성이 있어10,11) 그동안 Ag를 대체하는 필러 소재로 광범위하게 적용되지 못했다. 이에 최근 들어서는 Ag 코팅 Cu 분말의 적용 연구가 활발히 시작되고 있는데,7-9,11-15) 이러한 코어(core)-쉘(shell) 형태의 입자는 까다로운 제조법에도 불구하고 Ag 코팅층의 두께가 매우 얇으므로 가격 경쟁력은 충분히 확보할 수 있으면서도 필러 금속의 표면 산화는 효과적으로 막을 수 있다는 구조적 장점을 가진다. | |
Ag 페이스트의 문제점은? | 대표 도전성 페이스트(paste)인 Ag 페이스트는 도전 배선 및 패턴 형성용으로 각종 전기·전자모듈의 제조에 광범위하게 사용되어 왔다.1-3) 그러나 Ag 페이스트의 높은 가격은 전기·전자모듈의 제조 단가를 증가시켜 제품의 경쟁력을 약화시키므로 최근 들어서는 페이스트 제조 시 저가의 금속 필러(filler)를 Ag 플레이크(flake) 대신 첨가시켜 유사한 도전 특성과 더불어 제품의 가격 경쟁력을 동시에 확보하고자 하는 움직임이 시도되고 있다.4-6) Cu는 Ag 다음으로 전기전도도 및 열전도도가 우수한 금속이다. |
V. Brusic, G. S. Frankel, J. Roldan and R. Saraf, J. Electrochem. Soc., 142(8), 2591 (1995).
F. Fievet, F. Fievet-Vincent, J. P. Lagier, B. Dumont and M. Figlarz, J. Mater. Chem., 3, 627 (1993).
A. Sinha and B. P. Sharma, Mater. Res. Bull., 37, 407 (2002).
S. Wu, Mater. Lett., 61, 1125 (2007).
X. Xu, X. Luo, H. Zhuang, W. Li and B. Zhang, Mater. Lett., 57, 3987 (2003).
D. S. Jung, H. M. Lee, Y. C. Kang and S. B. Park, J. Colloid Interface Sci., 364, 574 (2011).
J. Zhao, D. M. Zhang and J. Zhao, J. Solid State Chem., 184, 2339 (2011).
N. Cabrera and N. F. Mott, Rep. Prog. Phys., 12, 164 (1949).
S. -S. Chee and J. -H. Lee, J. Mater. Chem. C, 2, 5372 (2014).
H. T. Hai, J. G. ahn, D. J. Kim, J. R. Lee, H. S. Chung and C. O. Kim, Surf. Coat. Technol., 201, 3788 (2006).
M. Grouchko, A. Kamyshny and S. Magdassi, J. Mater. Chem., 117, 3057 (2009).
Y. Peng, C. Yang, K. Chen, S. R. Popuri, C. -H. Lee and B. -S. Tang, Appl. Surf. Sci., 263, 38 (2012).
A. Muzikansky, P. Nanikashvili, J. Grinblat and D. Zitoun, J. Phys. Chem. C, 117, 3093 (2013).
M. J. Dignam and D. B. Gibbs, Can. J. Chem., 48, 1242 (1970).
N. S. Mclntyre, S. Sunder, D. W. Shoesmith and F. W. Stanchell, J. Vac. Sci. Tech., 18, 714 (1981).
D. W. Shoesmith, S. Sunder, M. G. Bailey, G. J. Wallace and F. W. Stanchell, J. Electroanal. Chem., 143, 153 (1983).
Y. Plyuto, J. -M. Berquier, C. Jacquiod and C. Ricolleau, Chem. Commun., 1653 (1999)
R. G. Haverkamp and A. T. Marshall, J. Nanopart. Res., 11, 1453 (2009).
Z. Wang, Z. Zhao and J. Qiu, J. Phys. Chem. Solids, 69, 1296 (2008).
X. Chen, C. -H. Cui, Z. Guo, J. -H. Liu, X. -J. Huang and S. -H. Yu, Small, 7(7), 858 (2011).
G. Yildiz, H. Catalgil-Giz and F. Kadirgan, J. Appl. Elrctrochem., 30, 71 (2000).
V. Prokopec, J. Cejkova, P. Matejka and P. Hasal, Surf. Interface Anal., 40, 601 (2008).
M. Clupek, V. Prokopec, P. Matejka and K. Volka, J. Raman Spectrosc., 39, 515 (2008).
X. Wen, W. Zhang and S. Yang, Langmuir, 19, 5898 (2003).
C. Lu, L. Qi, J. Yang, D. Zhang, N. Wu and J. Ma, J. Phys. Chem. B, 108, 17825 (2004).
*원문 PDF 파일 및 링크정보가 존재하지 않을 경우 KISTI DDS 시스템에서 제공하는 원문복사서비스를 사용할 수 있습니다.
오픈액세스 학술지에 출판된 논문
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.