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문제 정의
- (2011)은 실제 무기체계의 고장자료를 활용하여 Martinez(1984)가 제시한 저장 신뢰도 모형을 이용하여 최적의 검사주기를 결정하기 위한 대안을 제시하였다. 또한, 많은 연구자들은 비용을 고려하여 최적의 검사주기를 결정하고자 하였다. Ito and Nakagawa(1992, 1995)은 시스템은 주기적인 시점에 완전 수리를 수행하는 부품과 검사를 수행하지 않는 부품 등의 두 가지 품목으로 이루어져 있으며, 시스템의 신뢰도가 미리 주어진 값보다 같거나 작아질 때 오버홀(Overhaul)을 수행하는 시스템을 고려하여, 비용을 최소화하는 최적 검사주기를 결정하였다.
- Cho and Lee (2008)는 검사 시스템의 오류가 있다는 가정 하에 불완전한 간이검사와 완전한 정밀검사를 단계적으로 사용하여 오버홀 때까지의 단위시간 당 기대비용을 최소화하는 검사주기를 결정 하였다. 본 논문에서는 Martinez(1984) 모형을 기반으로 하여 수정된 원샷 시스템의 저장 신뢰도 모형을 제안한다. 제 2장에서는 원샷 시스템의 검사주기를 결정할 때 가장 많이 참고가 되는 Martinez(1984) 검사주기 모형에 대해 살펴본다.
- 특히 국방 분야에서의 원샷 시스템 운용 환경과 같이 갑작스러운 임무를 성공적으로 수행하기 위해서 저장 기간 동안 주기적으로 검사를 하고, 고장 발견 시 정비를 할 필요가 있다. 본 논문에서는 원샷 시스템의 고장시간이 지수분포 뿐 만 아니라 와이블 분포를 따를 경우의 저장 신뢰도 모형을 추가적으로 제시함으로써 좀 더 현실에 적합한 원샷 시스템의 저장 신뢰도 모형을 제시한다.
- 본 논문은 미사일 같이 장기간 저장되면서 수명동안 한 번 이하의 임무를 수행하는 원샷 시스템의 저장 신뢰도를 산출하는 방법에 대하여 연구하였다. 시스템의 고장시간이 지수분포와 와 이블 분포를 따를 경우 Martinez(1984)와 동일한 운용 형태를 고려하여, 수정된 저장 신뢰도 모형을 통해 검사주기 별 저장 신뢰도를 산출하였다.
가설 설정
- (1) 시스템의 고장시간은 지수분포를 따른다.
- 그리고 지수분포의 경우 두 모형을 비교하여서 기존 모형이 신뢰도를 초과 추정함을 수치 예제를 통해 확인하였다. 와이블 분포의 경우는 신뢰도 분석을 위해 검사에서의 수리에 대해 최소 수리를 가정하여 분석하였다.
- Martinez(1984)가 제안한 수리 모형과 본 논문에서 제안한 수리 모형의 실험은 [Figure 4]와 같이 동일한 입력 정보를 가진다. 원샷 시스템의 수명은 10년이라고 가정하였고, 검사 간격은 주기적으로 1년과 2년 다 수행하도록 하였다.
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