$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

BCD 프로세스를 이용한 파워 스위칭 센서 IC의 제작과 특성 연구
Electrical Characteristics of Power Switching Sensor IC fabricated in Bipolar-CMOS-DMOS Process 원문보기

전기전자학회논문지 = Journal of IKEEE, v.20 no.4, 2016년, pp.428 - 431  

김선정 (SunnyIC Co., Ltd., Dept. of Electrical Engineering, Korea University)

초록
AI-Helper 아이콘AI-Helper

현재 바이폴러만의 프로세스(bipolar only process)로 사용되는 전력반도체는 대부분의 반도체 생산업체에서 제공하는 Bipolar-CMOS-DMOS(BCD) 프로세스를 사용함으로써 하나의 웨이퍼에 여러 IP와 기존 IC들을 융합하여 복합칩으로 구현하고자 한다. 이번 연구에서는 보편적으로 사용되는 IP인 레귤레이터(regulator)와 연산 증폭기를 바이폴러만의 프로세스에서 BCD 프로세스로 구현하였다. 이를 사용한 간단한 응용으로 파워 스위칭 센서 IC를 설계하여 실리콘 칩에서 검증하였다. 검증 결과로 시뮬레이션과 작동 테스트가 잘 일치하고 있음을 확인할 수 있었다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Power semiconductor devices had been producted with bipolar only processes, but Bipolar-CMOS-DMOS(BCD) processes have been adapted recently to fabricate these devices since most foundry companies have provided BCD processes instead of Bipolar only processes. In this study, Regulator and OP Amp are u...

주제어

AI 본문요약
AI-Helper 아이콘 AI-Helper

* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.

문제 정의

  • 기준 전압은 제너 다이오드의 역전압과 NPN 소자의 다이오드 연결구조로 구현할 수 있다. 또한, 연산 증폭기는 VIN, VR의 입력 단자와 OUT_D의 출력단자로 되어 있으며, VR단자는 기준전압 발생 회로의 의해 구현된 약 2V의 전압이 가해짐을 연구를 통해 확인하고자 한다. 입력신호는 IC 회로 외부에 연결된 ZCT에 의해 유도된 전류 신호가 입력되는데 이 전류는 저항을 통하여 전압으로 변화되어 VIN단자로 입력된다.
본문요약 정보가 도움이 되었나요?

참고문헌 (3)

  1. M. Popovich, E. Friedman, M. Sotman, A. Kolodny, "On-Chip Power Distribution Grids with Multiple Supply Voltages for High Performance Integrated Circuits," IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems, vol.16, pp. 908-921, 2008. 

  2. M. Ker, C. Yen, "Investigation and design of on-chip power-rail ESD clamp circuits without suffering latchup-like failure during system-level ESD test," IEEE J. Solid-State Circuits, vol.43, no.11, pp. 2533-2545, 2008. 

  3. Y. Yin, X. Yu, Z. Wang, B. Chi, "An efficiency-enhanced stacked 2.4-GHz CMOS power amplifier with mode switching scheme for WLAN applications," IEEE Trans. Microw. Theory Tech., vol.63, no.2, pp. 672-682, 2015. 

관련 콘텐츠

오픈액세스(OA) 유형

GOLD

오픈액세스 학술지에 출판된 논문

이 논문과 함께 이용한 콘텐츠

저작권 관리 안내
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로