$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

슈퍼컴퓨터에 사용되는 저전력 프로세서 패키지의 신뢰성 평가
Reliability Assessment of Low-Power Processor Packages for Supercomputers 원문보기

마이크로전자 및 패키징 학회지 = Journal of the Microelectronics and Packaging Society, v.23 no.2, 2016년, pp.37 - 42  

박주영 (울산과학기술원 제어설계공학과) ,  권대일 (울산과학기술원 제어설계공학과) ,  남덕윤 (한국과학기술정보연구원 슈퍼컴퓨터개발센터 슈퍼컴퓨터SW연구실)

초록
AI-Helper 아이콘AI-Helper

전력가격의 상승으로 데이터센터의 운영비 부담이 늘어나는 가운데, 슈퍼컴퓨터에 저전력 프로세서를 사용하여 데이터센터의 전력소모를 감소시키는 연구가 활발하다. 일반적으로 모바일 기기 등의 운용환경을 기준으로 신뢰성 평가가 이루어지는 저전력 프로세서를 슈퍼컴퓨터에 사용하는 경우 상대적으로 가혹한 운용환경으로 인해 물리적, 기계적 신뢰성 문제가 발생할 수 있다. 이 논문은 슈퍼컴퓨터 운용 환경을 바탕으로 저전력 프로세서 패키지의 수명을 평가하였다. 먼저 문헌조사, 고장모드 및 치명도 분석을 통해 저전력 프로세서 패키지의 주요 고장원인으로 온도 사이클을 선정하였다. 부하-온도 관계를 확인하기 위해 단계적인 부하를 가하며 프로세서의 온도를 측정하였다. 가장 보수적인 운용조건을 가정하고 온도 사이클에 관련된 고장물리 모델을 이용한 결과 저전력 프로세서 패키지의 기대수명은 약 3년 이하로 예측되었다. 실험 결과를 바탕으로 저전력 프로세서 패키지의 기대수명을 향상하는 방법을 제시하였다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

While datacenter operation cost increases with electricity price rise, many researchers study low-power processor based supercomputers to reduce power consumption of datacenters. Reliability of low-power processors for supercomputers can be of concern since the reliability of many low-power processo...

주제어

AI 본문요약
AI-Helper 아이콘 AI-Helper

문제 정의

  • 따라서 저전력 프로세서가 슈퍼컴퓨터에 사용될 경우 운용환경 차이로 인한 손상이 예상된다. 이 연구에서는 슈퍼컴퓨터에 사용되는 저전력 프로세서 패키지의 고장 원인들을 파악하고 가장 치명적 고장원인에 대한 정량적 수명평가를 실시하여 저전력 프로세서 패키지의 신뢰성을 예측하고자 한다.

가설 설정

  • KISTI가 보유한 슈퍼컴퓨터를 참고한 결과, 슈퍼 컴퓨터의 사용률은 주기적으로 변화하며 평균적으로 85%임을 알 수 있었다. 사용률에 따라 슈퍼컴퓨터의 프로세서 부하 또한 변화할 것으로 예상되어, 1시간당 평균 1건의 고성능 연산작업요구를 가정한 뒤 사용률에 따라 고성능 연산작업은 51분, 부하가 없는 유휴 상태는 9분으로 정의하였다.
  • 슈퍼컴퓨터는 정비 시에도 항상 전원을 켜고 있으며 장비교체 시에만 전원을 끄는데, 이는 일반적인 상황이 아니라고 판단하여 전원조작 없이 항상 켜진 상태로 가정하였다. KISTI가 보유한 슈퍼컴퓨터를 참고한 결과, 슈퍼 컴퓨터의 사용률은 주기적으로 변화하며 평균적으로 85%임을 알 수 있었다.
본문요약 정보가 도움이 되었나요?

질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
국내 100여개 데이터센터들의 2013년 전력소모량은 얼마인가? 데이터센터는 서버 및 냉각시설의 운영을 위해 다량의 전력을 소모하는데, 그린피스 조사결과에 따르면 국내 100여개 데이터센터들의 2013년 전력소모량은 약 26억 kWh 로 추산되고 있다.1) 이는 한 달간 1,200만 가구가 사용 가능한 전력수준으로, 데이터센터 수, 전력소비량, 전력가격 및 랙(rack) 단위 발열밀도 또한 증가추세에 있어 운영비 절감을 위해 데이터센터의 효율적인 전력관리가 중요해 지고 있다.
데이터센터는 전력량의 대부분은 어디에 소비하는가? 데이터센터는 전력량의 대부분을 서버의 전력소비 및 컴퓨터 발열로 인한 냉방부하로 소비하고 있다.3,4) 일례로, 한국과학기술정보연구원 (KISTI)의 슈퍼컴퓨팅 센터의 경우 수전용량의 약 59%를 냉방설비에 사용 중이다.
데이터센터가 전력량 소비 대부분을 냉방부하로 사용하고 있는 실제 사례는 무엇인가? 데이터센터는 전력량의 대부분을 서버의 전력소비 및 컴퓨터 발열로 인한 냉방부하로 소비하고 있다.3,4) 일례로, 한국과학기술정보연구원 (KISTI)의 슈퍼컴퓨팅 센터의 경우 수전용량의 약 59%를 냉방설비에 사용 중이다.5)이에 따라 데이터센터의 냉방에너지 소비와 열 부하를 줄이기 위해 서버 및 슈퍼컴퓨터의 에너지 효율이 중요시 되면서, 최근 저전력 프로세서를 사용하여 데이터센터의 소비전력을 줄이려는 시도들이 있다.
질의응답 정보가 도움이 되었나요?

참고문헌 (24)

  1. J. lee, "Is Your Internet Clean? (in Kor.)", Greenpeace Korea, (June 3, 2015) from http://www.greenpeace.org/korea/multimedia/publications/2015/climate-energy/change-it-report/ 

  2. M. K. Patterson and D. Fenwick, "The State of Datacenter Cooling: A review of current air and liquid cooling solutions", Intel Corporation White Paper, (March, 2008) from http://www.ceclimited.com/sites/all/themes/creative/state-of-datecenter-cooling.pdf 

  3. K. J. Cho, S. H. Shin and J. Y. Lee, "Case Study and Energy Impact Analysis of Cooling Technologies as Applied to Green Data Centers (in Kor.)", Journal of the Architectural Institute of Korea Planning & Design, 29(3), 327 (2013). 

  4. H. Zhang, S. Shao, H. Xu, H. Zou and C. Tian, "Free Cooling of Data Centers: A Review", Renewable and Sustainable Energy Reviews, 35(1), 171 (2014). 

  5. Y. H. Ryu, J. W. Sung, D. S. Kim and S. H. Kil, "A Study on the Infra-Capacity Analysis for Optimal Operating Environments of Supercomputer Center (in Kor.)", Journal of the Korea Institute of Ecological Architecture and Environment, 10(2), 19 (2010). 

  6. V. Mehta, "Exploiting CUDA Dynamic Parallelism for low power ARM based prototypes", Nvidia GPU Technology conference On-demand, (April, 2015) from http://on-demand.gputechconf.com/gtc/2015/presentation/S5384-Vishal-Mehta.pdf 

  7. Hewlett-Packard Development Company, "HP Project Moonshot Changing the game with extreme low-energy computing" HP business white paper, (May, 2012) from http://h20195.www2.hp.com/V2/GetPDF.aspx/4AA3-9839ENW.pdf 

  8. M. Igarashi, T. Uemura, R. Mori, H. Kishibe, M. Nagayama, M. Taniguchi, K. Wakahara, T. Saito, M. Fujigaya and K. Fukuoka, "A 28 nm High-k/MG Heterogeneous Multi-Core Mobile Application Processor With 2 GHz Cores and Low-Power 1 GHz Cores", Journal of Solid-State Circuits, 50(1), 92 (2015). 

  9. N. Rajovic, P. M. Carpenter, I. Gelado, N. Puzovic, A. Ramirez and M. Valero, "Supercomputing with Commodity CPUs: Are Mobile SoCs Ready for HPC?", Proceedings of the International Conference on High Performance Computing, Networking, Storage and Analysis (SC'13), Denver, CO, 1-12, Association for Computing Machinery (ACM) (2013). 

  10. T. Shimoto, K. Kikuchi, K. Baba, K. Matsui, H. Honda and K. Kata, "High-performance FCBGA based on multi-layer thin-substrate packaging technology", Microelectronics Reliability, 44(3), 515 (2004). 

  11. K. H. Kim, H. Lee, J. W. Jeong, J. H. Kim and S. H. Choa, "Numerical Analysis of Warpage and Stress for 4-layer Stacked FBGA Package", J. Microelectron. Package. Soc., 19(2), 7 (2012). 

  12. A. Syed, J. Scanlan, S. W. Cha, W. J. Kang, E. S. Sohn, T. S. Kim and C. G. Ryu, "Impact of Package Design and Materials on Reliability for Temperature Cycling, Bend, and Drop Loading Conditions," Proc. 58th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), Orlando, 1453, IEEE Components, Packaging and Manufacturing Technology Society (CPMT) (2008). 

  13. D. Barbini and M. Meilunas, "Reliability of Lead-free LGAs and BGAs: Effects of Solder Joint Size, Cyclic Strain and Microstructure", SMTA International Proceedings, Fort Worth, Texas, 292, Surface Mount Technology Association (SMTA) (2011). 

  14. T. E. Wong, B. A. Reed, H. M. Cohen and D. W. Chu, "Development of BGA solder joint vibration fatigue life prediction model", Proc. 49th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), San Diego, CA, 149, IEEE Components, Packaging and Manufacturing Technology Society (CPMT) (1999). 

  15. J. E. Luan, T. Y. Tee, Y. G. Kim, H. S. Ng, X. Baraton, R. Bronner and M. Sorrieul, "Drop impact life prediction model for lead-free BGA packages and modules", Proc. 6th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Micro-Electronics and Micro-Systems, (EuroSimE), Berlin, Germany, 559, IEEE Components, Packaging and Manufacturing Technology Society (CPMT) (2005). 

  16. Nemeth, P. "Accelerated Life Time Test Methods for New Package Technologies", 24th International Spring Seminar on Electronics Technology: Concurrent Engineering in Electronic Packaging, Calimanesti-Caciulata, Romania, 215, IEEE. (2001). 

  17. A. Weissel and F. Bellosa, "Dynamic Thermal Management for Distributed Systems", Proceedings of the First Workshop on Temperature-Aware Computer Systems (TACS'04), Munich, Germany, 3-13 (2004). 

  18. R. A. Steinbrecher and R. Schmidt, "Data Center Environments ASHRAE's Evolving Thermal Guidelines", ASHRAE Journal 53(12), J. Scott, Ed., pp.42-49, Atlanta, GA (2011). 

  19. K. Ebrahimi, G. F. Jones and A. S. Fleischer, "A review of data center cooling technology, operating conditions and the corresponding low-grade waste heat recovery opportunities", Renewable and Sustainable Energy Reviews, 31(1), 622. (2014). 

  20. International Standard IEC 60812: Analysis Techniques for System Reliability: Procedure for Failure Mode and Effects Analysis (FMEA), International Electrotechnical Commission, (2006). 

  21. H. Chung, M. Kang and H. D. Cho, "Heterogeneous Multi-Processing Solution of Exynos 5 Octa with ARM $^{(R)}$ big. LITTLE $^{TM}$ Technology", Samsung Electronics Co., (2012) from https://www.arm.com/files/pdf/Heterogeneous_Multi_Processing_Solution_of_Exynos_5_Octa_with_ARM_bigLITTLE_Technology.pdf 

  22. R. D. Gerke and G. B. Kromann, "Solder Joint Reliability of High I/O Ceramic-Ball-Grid Arrays and Ceramic Quad-Flat-Packs in Computer Environments: the PowerPC 603 TM and PowerPC 604 TM microprocessors", IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies, 22(4), 488. (1999). 

  23. V. Vasudevan and X. Fan, "An Acceleration Model for Lead-Free (SAC) Solder Joint Reliability under Thermal Cycling", Proc. 58th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), Orlando, 139, IEEE Components, Packaging and Manufacturing Technology Society (CPMT) (2008). 

  24. S. H. Kim, G. T. Park, B. R. Lee, J. M. Kim, S. Yoo and Y. B. Park, "Effects of PCB Surface Finishes on in-situ Intermetallics Growth and Electromigration Characteristics of Sn-3.0Ag-0.5Cu Pb-free Solder Joints", J. Microelectron. Package. Soc., 22(2), 47 (2015). 

저자의 다른 논문 :

LOADING...

관련 콘텐츠

오픈액세스(OA) 유형

GOLD

오픈액세스 학술지에 출판된 논문

이 논문과 함께 이용한 콘텐츠

섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로