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반사방지 나노구조의 성형성과 광학적 특성에 대한 이형 온도의 영향
Effects of Demolding Temperature on Formability and Optical Properties of Anti-reflective Nanostructure 원문보기

마이크로전자 및 패키징 학회지 = Journal of the Microelectronics and Packaging Society, v.23 no.2, 2016년, pp.91 - 96  

여나은 (부산대학교 인지메카트로닉스공학과) ,  심영보 (부산대학교 광메카트로닉스공학과) ,  조상욱 (부산대학교 인지메카트로닉스공학과) ,  김두인 (부산대학교 BK21+나노융합인지메카트로닉스공학 사업단) ,  김기남 ((주)서영) ,  장경수 (나노종합기술원) ,  정명영 (부산대학교 광메카트로닉스공학과)

초록
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본에서는 저반사 나노구조 필름의 열 나노임프린트 공정 최적화를 위해 나노구조의 성형성과 광학적 특성에 대한 이형 온도의 영향을 평가하였다. 이형 온도에 따른 광학적 특성을 평가한 결과 $70^{\circ}C$까지는 이형 온도가 증가함에 따라 투과율과 반사율 특성이 향상되는 거동을 보였으나 그 이후에는 오히려 투과율이 감소하고 반사율이 증가하는 경향을 보였다. 이와 같은 이형온도에 따른 거동은 성형성에도 유사하게 관찰되었으며 자유체적 형성과 고분자 유동에 의한 것으로 보인다. 따라서, 이형 온도에 따라 고분자의 유동과 자유체적의 형성에 의한 패턴의 성형성이 결정되며, 이로 인해 광학적 특성에 영향을 줄 수 있음을 확인하였다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this study, effects of demolding temperature (DT) on the formability and optical properties were evaluated in order to optimize thermal nanoimprint lithography for anti-reflective film. Characterization on optical property showed that optical performance was gradually enhanced as the DT increased...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 본 논문에서는 나노임프린트 공정을 사용하여 나방 눈 패턴의 저 반사 효과를 얻기 위해 공정 변수의 하나인 이형 온도를 변화시켜 최적의 공정조건을 연구하였다. 이형 온도는 30℃에서 100℃까지 20℃씩 증가시켜 진행하였으며, 반사율 및 투과율 측정 장치를 통해 나방 눈 패터닝 PMMA 필름의 SEM 이미지와 반사율 및 투과율을 측정하여 비교 하였다.
  • 본 논문에서는 이와 같은 불완전 충진 등의 결함을 감소시킬 수 있는 방법으로 임프린트 공정변수들 중 이형 온도(demolding temperature, DT)의 영향을 평가하였다. 이를 위하여 다양한 이형 온도에서 열 나노임프린트를 이용하여 저 반사 나노구조를 성형하였으며, 성형된 나노 구조의 성형성 및 필름의 광학적 특성을 평가하였다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
열 나노임프린트 공정이란? 열 나노임프린트 공정은 레지스트 고분자(resist polymer) 를 유리전이온도(glass transition temperature, Tg) 이상으로 가열한 후, 높은 압력을 가하여 스탬프의 모양대로 성형하는 방법이다. 열 나노임프린트 공정은 재현성이 높고 저 비용으로 공정이 가능하여 매우 경제적이라는 장점이 있어 나노스케일의 패턴의 대면적 성형에 적합한 차세대 리소그래피 기술로 인정받고 있다.
열 나노임프린트 공정의 장점은? 열 나노임프린트 공정은 레지스트 고분자(resist polymer) 를 유리전이온도(glass transition temperature, Tg) 이상으로 가열한 후, 높은 압력을 가하여 스탬프의 모양대로 성형하는 방법이다. 열 나노임프린트 공정은 재현성이 높고 저 비용으로 공정이 가능하여 매우 경제적이라는 장점이 있어 나노스케일의 패턴의 대면적 성형에 적합한 차세대 리소그래피 기술로 인정받고 있다.5,7 그러나 구조물의 크기가 점점 감소하고 복잡해질수록 불완전 충진(nonfull)과 같은 문제점들이 발생하고 있다.
기존의 반사 방지막의 단점은? 2 기존의 반사 방지막은 주로 굴절률이 다른 박막을 다층으로 적층하는 방법으로 제작되어 왔다.3,4 이와 같은 방법은 다층을 균일하게 제작하는데 어려움이 있으며, 모든 파장영역에서 적용하기에는 어려운 단점이 있다. 따라서 최근에는 가시광선 파장 대 이하의 주기를 가지는 포물선 구조의 원뿔 패턴을 형성하여 나방의 눈을 모사하는 반사방지막을 제작하고 있다.
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참고문헌 (18)

  1. A. R. Parker and H. E. Townley, "Biomimetics of photonic nanostructures"", Nature nanotechnology 2(6), 347 (2007). 

  2. S. H. Kim, S. U. Cho, Y. S. Kim and M. Y. Jeong, "Fabrication of Multi-height Nanostructures for High Antireflection and Superhydrophobicity", Journal of the Korean Society for Precision Engineering, 349 (2011). 

  3. B. J. Bae, S. H. Hong, S. U. Kwak and H. Lee, "Fabrication of Moth-Eye Pattern on a Lens Using Nano Imprint Lithography and PVA Template", Journal of the Korean institute of surface engineering 42(2), 59 (2009). 

  4. S. R. Kennedy and M. J. Brett, "Porous broadband antireflection coating by glancing angle deposition", Applied optics, 42(22), 4573 (2003). 

  5. D. G. Choi, K. J. Lee, J. H. Jeong, K. D. Kim, J. H. Choi, J. H. Lee, A. Ali and E. S. Lee, "Fabrication of Synthetic Moth-Eye Anti-Reflection Structure Using Nanoimprint", Journal of The Korean Society of Mechanical Engineers spring conference, 13-17 (2008). 

  6. M. H. Kwon and H. Lee, "Fabrication of Functional ZnO Nano-particles Dispersion Resin Pattern Through Thermal Imprinting Process", Journal of the Korean Society for Precision Engineering, 28(12), 1419 (2011). 

  7. K. H. Moon, S. B. Shin, I. S. Park, H. Lee, H. S. Cha and J. H. Ahn, "UV-nanoimprint Patterning Without Residual Layers Using UV-blocking Metal Layer", J. Microelectron. Packag. Soc., 12(4), 275 (2005). 

  8. Y. Hirai, M. Fujiwara, T. Okuno, Y. Tanaka, M. Endo, S. Irie, K. Nakagawa and M. Sasago, "Study of the resist deformation in nanoimprint lithography", Journal of Vacuum Science & Technology B, 19(6), 2811 (2001). 

  9. B. H. Kim, K. S. Kim, J. H. Ban, J. K. Shin and H. Y. Kim, "Micro/Nano Rheological Characteristics of PMMA in Hot Embossing Process", Journal of the Korean Society for Technology of Plasticity, 259 (2004). 

  10. C. Gourgon, C. Perret, G. Micouin, F. Lazzarino, J. H. Tortai, O. Joubert and J. P. E. Grolier, "Influence of pattern density in nanoimprint lithography", Journal of Vacuum Science & Technology B, 21(1), 98 (2003). 

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  14. H. S. Park, H. H. Shin, S. W. Seo, M. Y. Sung, W. B. Choi, S. W. Choi and S. Y. Park, "Novel Process to Improve Defect Problems for Thermal Nanoimprint Lithography", IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, 20(1), 13 (2007). 

  15. S. G. Park, Z. Song, L. Brumfield, A. Amirsadeghi and J. J. Lee, "Demolding temperature in thermal nanoimprint lithography", Applied Physics A, 97(2), 395 (2009). 

  16. T. Leveder, S. Landisa, L. Davoustb and N. Chaixc, "Optimization of demolding temperature for throughput improvement of nanoimprint lithography", Microelectronic Engineering, 84(5), 953 (2007). 

  17. H. K. Raut, V. A. Ganesh, A. S. Nair and S. Ramakrishna, "Anti-reflective coatings: A critical, in-depth review", Energy Environ. Sci., 4(10), 3779 (2011). 

  18. N. Yamada, O. N. Kim, T. Tokimitsu, Y. Nakai and H. Masuda, "Optimization of anti-reflection moth-eye structures for use in crystalline silicon solar cells", Progress in Photovoltaics: Research and Applications, 19(2), 134 (2011). 

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