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NTIS 바로가기신뢰성응용연구 = Journal of the applied reliability, v.16 no.4, 2016년, pp.331 - 337
장인혁 (한국기계전기전자시험연구원) , 김정호 (한국기계전기전자시험연구원) , 임홍우 (한국기계전기전자시험연구원) , 오근태 (수원대학교) , 최연옥 (조선대학교)
Purpose: The purpose of this study is the analysis of the failure mechanisms effect of circuit design characteristics of the ballast for LED Lamp Methods: Recently, electronic circuit of ballasts for LED lamp are being occurred on various failure mechanisms (whiskers, ion migration, heat dissipation...
핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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가속수명시험이 신뢰성분석을 위해 널리 사용되는 이유는 무엇인가? | 제품의 신뢰성 개선을 위한 자료를 확보하기 위하여 일반적으로 널리 사용되는 방법이 가속수명시험이다. 가속수명시험은 다양한 환경적 스트레스를 통해 열화조건을 만들어 제품의 수명과 고장메커니즘을 빠르게 확인이 가능하여 시간과 비용을 단축시킬 수 있어 신뢰성분석을 위해 널리 사용되고 있다. [Table 2]는 국내․외 LED 및 유사 전원장치의 신뢰성 시험 관련 규격을 비교한 것이다. | |
LED 전원공급장치의 주요 고장현상은 무엇인가? | LED 전원공급장치의 주요 고장현상으로는 점등 불량, 이상 점등, 광속저하 등이 있다. 이러한 고장현상의 원인으로는 [Fig. | |
LED 전원공급장치의 주요 고장현상의 원인으로 어떤 것이 있는가? | 이러한 고장현상의 원인으로는 [Fig. 1]과 같이 스위칭소자의 파손, 커패시터의 파손, 저항소자의 탄화, 트랜스 코일 노화, 트랜스 파손 및 기타 Drive IC 파손, 커패시터 전해액 누출 및 손상, IC 칩 손상, PCB 번트, 스위칭 드라이버 탄화, 커패시터 탄화 등이 있다. 최근 소비자들의 다양한 기능의 요구로 인해 설계특성이 다양화되었고, 그로인해 고장현상 역시 다양하게 발생하고 있다. |
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RS-KORAS-KTC-002(2016), LED Electronic Control Gear for LED Modules.
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