$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

불산 중 극미량 음이온 분석을 위한 고상 추출법 및 이온크로마토그래프를 이용한 동시분석법 확립
Optimization of solid phase extraction and simultaneous determination of trace anions in concentrated hydrofluoric acid by ion chromatography 원문보기

분석과학 = Analytical science & technology, v.29 no.5, 2016년, pp.219 - 224  

윤석환 (솔브레인) ,  조동호 (솔브레인) ,  김현지 (솔브레인) ,  신호상 (공주대학교)

초록
AI-Helper 아이콘AI-Helper

A sensitive method to detect trace anions in hydrofluoric acid (HF) by solid-phase extraction (SPE) clean-up and ion chromatography (IC) was described. Fluoride in HF solution was eliminated with solid-phase extraction, and residual fluoride, acetate, chloride, bromide, nitrate, phosphate and sulfate were consecutively separated with IC. The SPE parameters (selection of adsorbent, sample volume and pH, elution solvent and its volume) were optimized and selected. The removal effect of fluoride in HF solution was the best on Oasis WAX column, and the optimum conditions (1.0 mL of 25 % HF solution and 50 mM ammonium acetate 5 mL as elution solvent) were established by the variation of parameters. Under the established condition, the method detection limits of chloride, bromide, nitrate, phosphate, and sulfate were 0.04~0.30 µg/L in 25 % HF solutions (w/w) and the relative standard deviation was less than 5 % at concentrations of 20.0 and 40.0 µg/L. The concentrations of anions in a 25 % HF had detectable levels of 4.2 to 47.5 µg/L. The method was sensitive, reproducible and simple enough to permit the reliable routine analysis of anions in HF solution used in the process of producing semiconductors.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

불산 중 극미량 음이온의 고상추출과 이온크로마토그래프를 이용한 고감도 분석법이 개발되었다. 불산 중 불소이온이 고상에 의해 제거하였고 이어서 음이온 (F−, CH3COO−, Cl−, Br−, NO3−, PO43−, SO42−)들이 이온크로마토그래프를 이용하여 연속적으로 분리하였다. 고상 추출법에 영향을 주는 각 인자들 (흡착제의 선택, 시료의 부피 및 pH, 용출 용액과 용출용액의 부피)을 결정하였으며 그 결과 흡착제로서 Oasis WAX 컬럼이...

주제어

AI 본문요약
AI-Helper 아이콘 AI-Helper

* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.

문제 정의

  • 본 연구에서는 기존의 IC에 추가적인 시스템을 설치하지 않고 25% HF 내에 미량으로(㎍/L 이하) 존재하는 음이온 불순물을 검출하기 위해 고체상 추출법 (SPE, solid phase extraction)9-11을 활용하여 HF 중 불소이온(F)을 선택적으로 제거한 후 IC에서 음이온들을 분리 정량하는데 목적이 있다.
본문요약 정보가 도움이 되었나요?

참고문헌 (11)

  1. “Health management assistant for the workers in the semiconductor industry”, 1st Ed., Occupational Safety & Health Research Institute, Ulsan, 2012. 

  2. SEMIPARK, www.semipark.co.kr, Assessed 16 May, 2016. 

  3. K. S. Chung, H. J. Sung, K. A. Lee and T. S. Kim, Anal. Sci. Tech ., 4 (3), 259-266 (1991). 

  4. K. Wang, Y. Lei, M. Eitel and S. Tan, J. Chromatogr. A , 956 , 109-120 (2002). 

  5. Y. W. Heo, J. I. Gil and H. B. Lim, Anal. Sci. Technol ., 11 (4), 311-315 (1998). 

  6. M. J. Kang and S. G. Lee, Anal. Sci. Technol ., 11 (6), 495-498 (1998). 

  7. Dionex, http://www.dionex.com/en-us/documents/technical-notes/ic-hplc/lp-72156.html, Assessed 03 Aug, 2016. 

  8. Semiconductor Equipment and Materials International, ‘SEMI International Standards: Process Chemicals Volume’, 6760-6765, SEMI, CA, USA, 2005. 

  9. A. Zwir-Ferenc and M.Biziuk, Polish J. of Environ. Stud ., 15 (5), 677-690 (2006). 

  10. I. Sowa, M. Wojciak-Kosior and R. Kocjan, Polish J. of Environ. Stud ., 22 (3), 881-884 (2013). 

  11. H. Shi, Z. Wang, H. Wang, R. Zhao and M. Ding, Chin. J. Chem . 29 (4), 778-782 (2011). 

저자의 다른 논문 :

섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로