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[국내논문] 자동외관검사를 위한 확률기반 불량 확인 알고리즘 개발
Development of Probability Based Defect Verification Algorithm for Automatic Visual Inspection 원문보기

반도체디스플레이기술학회지 = Journal of the semiconductor & display technology, v.16 no.2, 2017년, pp.1 - 8  

김영흡 (동양미래대학교 기계공학과) ,  유선중 (동양미래대학교 기계공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

The visual inspection of electronic parts consists of two steps: automatic visual inspection and verification inspection. In the stage of a verification inspection, the human inspector sequentially inspects all the areas which detected in the automatic inspection. In this study, we propose an algori...

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AI 본문요약
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문제 정의

  • 본 논문에서는 특정 부품의 표면에서 검출된 다수의 검출위치들에 대해서 어떠한 순서로 확인검사를 수행하는 것이 최소한의 횟수로 불량을 탐지해 낼 수 있는지에 대해서 연구하였다. 기존의 방법은 자동외관검사장비에서 탐지된 검출위치들의 공간좌표를 기준으로 하여 순차적인 방법으로 확인검사를 수행하였다.
  • 이와 비교하여 본 연구에서는 검출위치들의 소위 사후 확률(posterior)을 기준으로 확인검사 순서를 정하는 방법을 제시한다. 여기서 사후확률이란 자동외관검사장비에서 탐지한 특정 검출위치가 인간검사원의 확인검사에 의해서 불량으로 최종 판정될 확률을 의미한다.
  • 4(c), (d)의 경우는 양자의 판단이 서로 상이한 경우에 해당됨을 알 수 있다. 그럼에도 불구하고 본 연구에서는 베이즈추정으로부터 계산된 사후확률을 이용하여 후행하는 확인검사의 순서를 효율화할 수 있음을 3.3절에서 실험 결과로 제시하고자 한다.
  • 이에 비하여 우측 그림들은 베이즈추정에 의한 경우이며 사후확률 Pbad를 기준으로 내림차순으로 확인검사를 수행하였다. 실험은 동일 필터에 대해서 양불 판정이 확정될 때까지 소요되는 확인검사의 횟수를 비교하는 것으로 하였다.
  • 본 연구에서는 과거검사결과의 정보를 바탕으로 하여 현재의 특정 검출위치에 대한 사후확률을 기준으로 하여 확인검사의 순서를 결정하는 방법을 제시하였다. 사후확률은 머신러싱 기법의 일종인 베이즈추정의 방법을 적용하여 계산할 수 있는데, 구체적으로는 나이브베이즈 알고리즘을 적용하였다.

가설 설정

  • 그런데 우도의 계산을 위해서는 식 (5) 우측항의 P(x| ck)에 대해서 특정 분포를 가정하는 것이 필요하다. 본 연구에서는 xi가 연속변수일 경우는 정규분포(Gauss distribution)로, 이산변수일 경우는 다항분포(multinomial distribution)로 가정한다.[7,8] 우도 또한 과거검사 결과로부터 계산할 수 있다.
  • 본 실험에서는 연속변수인 x5 ~ x8에 대해서는 정규분포를, 이산변수인 나머지 요소에 대해서는 다항분포로 가정하고 우도를 계산하였다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
외관불량의 검출은 일반적으로 몇 단계로 구성되는가? 외관불량의 검출은 2단계로 구성되는 것이 일반적이다. 1단계에서는 고해상도 광학계 및 이미지 처리 알고리즘으로 구성된 자동화된 외관검사장비(visual inspection machine)를이용하여 제품 표면에서 불량으로 의심되는 모든 공간좌표(이하 검출위치, detected point)를 탐색해 낸다.
외관불량의 검출의 2단계에 대하여 설명하시오 외관불량의 검출은 2단계로 구성되는 것이 일반적이다. 1단계에서는 고해상도 광학계 및 이미지 처리 알고리즘으로 구성된 자동화된 외관검사장비(visual inspection machine)를이용하여 제품 표면에서 불량으로 의심되는 모든 공간좌표(이하 검출위치, detected point)를 탐색해 낸다. 2단계에서는 인간검사원(human inspector)이 광학현미경을 이용하여 각각의 검출위치에 실재 외관불량이 존재하는지 여부를 시각적인 방법으로 확인검사(verification inspection) 한다.[4]
전자부품의 외관검사공정에서는 자동외관검사 외에 반드시 필요한 것은? 전자부품의 외관검사공정에서는 자동외관검사 외에 인간검사원에 의한 확인검사 과정이 반드시 필요하다. 자동외관검사의 경우 외관불량의 유출을 방지하기 위하여 제품 표면에서 불량으로 의심되는 영역(검출위치)을 넓은범위에서 모두 탐지해 내게 된다.
질의응답 정보가 도움이 되었나요?

참고문헌 (8)

  1. S. Yoo, "System Design for High-speed Visual Inspection of Electronic Components", Journal of the Semiconductor & Display Technology, Vol. 11, No. 3. September, pp. 39-44, 2012. 

  2. J. H. Lee, "Study on the Optical Analysis Equipment Control System for Electronic Parts Inspection", Journal of the Semiconductor & Display Technology, Vol. 14, No. 4. December, pp. 67-71, 2015. 

  3. K. W. Ko, Y. J. Lee, B.-W. Choi and J.-H. Kim," Development of Automatic Visual Inspection for the Defect of Compact Camera Module," ICCAS2005, pp. 2414-2417, 2005. 

  4. David M. Eagleman, "Visual illusion and neurobiology", Nature, 2, pp. 920-926, 2001. 

  5. Russell, S., Norvig, P., Artificial Intelligence: A Modern Approach, 2nd ed., Prentice Hall, 2003. 

  6. H. Zhang, "The Optimality of Naive Bayes", The 17th International FLAIRS Conference, Miami Beach, Florida, May 17-19, 2004. 

  7. J. H. George; P. Langley, "Estimating Continuous Distributions in Bayesian Classifiers", Proc. Eleventh Conf. on Uncertainty in Artificial Intelligence. Morgan Kaufmann. pp. 338-345, 1995. 

  8. A. McCallum, K. Nigam, "A comparison of event models for Naive Bayes text classification", AAAI-98 workshop on learning for text categorization. 1998. 

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