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63Ni 밀봉선원용 Ni 전기도금 박막에서 Ni 농도가 잔류응력에 미치는 영향
Effects of Ni Concentration on Residual Stress in Electrodeposited Ni Thin Film for 63Ni Sealed Source 원문보기

한국표면공학회지 = Journal of the Korean institute of surface engineering, v.50 no.1, 2017년, pp.29 - 34  

윤필근 (한밭대학교 신소재공학과) ,  박덕용 (한밭대학교 신소재공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Chloride plating solution was fabricated by dissolving metal Ni powders in a mixed solution with HCl and de-ionized water. Effects of $Ni^{2+}$ and saccharin concentrations in the plating baths on current efficiency, residual stress, surface morphology and microstructure of Ni films were ...

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문제 정의

  • 본 연구에서는 도금용액 내 Ni2+ 농도와 saccharin(첨가제)의 농도 변화가 전기도금 된 Ni 박막/후막의 전류효율, 잔류응력, 표면형상, 미세조직에 미치는 영향을 고찰하였다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
HCl과 DI-water를 9:1 비율로 혼합한 용액에 금속 Ni 분말을 용해하여 chloride 도금용액을 제조하여, 해당 용액의 전기도금공정에 의하여 제조된 Ni 필름의 특성에 미치는 도금용액의 Ni2+이온농도 및 saccharin 농도의 영향에 대한 연구를 수행한 결과는? 이 용액을 이용하여 전기도금공정에 의하여 제조된 Ni 필름의 특성에 미치는 도금용액 내의 Ni2+ 이온 농도 및 saccharin 농도의 영향에 대한 연구가 수행되었다. 0.2 M Ni2+ 농도의 경우 saccharin의 첨가에 따라 전류효율의 감소가 관찰되었다. 이는 전기도금이 진행됨에 따라 낮은 Ni2+ 농도 때문에 음극 표면 쪽으로 Ni2+ 이온의 확산 속도가 음극 표면에서 Ni2+ 이온 소모(Ni의 환원) 속도를 따라가지 못하는 확산지배공정(diffusion control process)에 기인한다고 판단되었다. 0.2 M 및 0.7 M Ni2+ 농도의 경우 모두에서 saccharin을 0.0975 M까지 함유한 도금용액으로부터 전기도금 된 Ni 박막은 140 ~ 750 MPa의 인장응력을 나타냈다. 0.2 M Ni2+ 농도의 경우 Ni이 전기도금 될 때 saccharin에 포함되어 있는 S가 Ni과 codeposition 되지 않았기 때문에 약 400 MPa의 잔류응력을 나타냈다고 판단되며, 0.7 M Ni2+ 농도의 경우 S가 Ni과 codeposition 되어 잔류응력의 감소가 이루어졌다고 판단된다. Saccharin의 첨가는 Ni 필름의 성장 방향에 영향을 미쳤으며, 결정립 미세화를 초래하였음이 관찰되었다.
63Ni 박막/후막을 제조하는 방법에는 어떤것이 있는가? 방사성동위원소 63Ni 박막/후막을 제조하는 방법으로는 여러 가지 방법[chemical vapor deposition(CVD), physical vapor deposition(PVD), 무전해도금, 전기도금 등]들이 제안되고 있다. 방사성동위원소를 사용하여 박막/후막을 제조할 때는 여러 가지 제약들(hot-cell 작업, 방사성 물질 폐기처리 등) 때문에 챔버 등의 오염을 방지하고, 단순한 제조 방법이 사용되어야 한다.
63Ni는 어디에 쓰이는가? 43 KeV 이고, 최대 약 67 KeV 이다. 방사성동위원소 63Ni은 전지(nano-nuclear battery), 전자포획검출기, thermoluminescence dosimeter(TLD), 폭발물 탐지기, 유해가스 탐지기, microirradiator 등에 사용되고 있다 [1-4].
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참고문헌 (15)

  1. M. Petec, J.S. Wike, B.P. Phillips, C.A. Sampson, Plating Nickel-63 on Copper Coupons, Chemical Technology Division (1989). 

  2. S.D. Cooper, M.A. Moseley, E.D. Pellizzari, Surrogate standards for the determination of individual polychlorinated biphenyls using high-resolution gas chromatography with electron capture detection, Anal. Chem. 57 (1985) 2469-2473. 

  3. M. Kumar, J. Udhayakumar, S.S. Gandhi, A.K. Satpati, A. Dash, M. Venkatesh, An electrochemical method for the preparation of $^{63}Ni$ >63 Ni source for the calibration of thermoluminescence dosimeter (TLD), Appl. Rad. Isot. 67 (2009) 1042-1049. 

  4. J.L. Steeb, Nickel-63 Microirradiators and Applications, Ph.D. Thesis, Georgia Institute of Technology (2010). 

  5. K.-Y. Park, Y.R. Uhm, S.J. Choi, D.-Y. Park, The effects of current density on the grain size of electroplated thick film nickel(Ni) by using Ni metal powder dissolved chloride bath, J. Kor. Magn. Soc. 23 (2013) 12-17. 

  6. P.G. Yoon, K.-Y Park, Y.R. Uhm, S.J. Choi, D.-Y. Park, Effects of electrodeposition conditions on properties of Ni thin films electrodeposited from baths fabricated by dissolving metal Ni powders, J. Kor. Inst. Surf. Eng. 48 (2015) 73-81. 

  7. D.-Y. Park, K.S. Park, J.M. Ko, D.-H. Cho, S.H. Lim, W.Y. Kim, B.Y. Yoo, N.V. Myung, Electrodeposited $Ni_{1-x}Co_x$ nanocrystalline thin films: structure-property relationships, J.Electrochem. Soc. 153 (2006) C814-C821. 

  8. J.W. Dini, Electrodeposition-The Materials Science of Coatings and Substrates, Noyes Publ. Park Ridge, NJ (1993) 279, 331 & 339. 

  9. B.-Z. Lee, D.N. Lee, Spontaneous growth mechanism of tin whiskers, Acta Mater. 46 (1998) 3701-3714. 

  10. K.-N. Tu, J.W. Mayer, L.C. Feldman, Electronic Thin Film Science for Electrical Engineers and Materials Scientists, Macmillan Publishing Company, New York, New York, 1992, Chap. 4. 

  11. G. A. Di Bari, M. Schlesinger, M. Paunovic, Modern Electroplating, 4th ed. Wiley-Interscience, New York (2000) 139-199. 

  12. D.-Y. Park, Study of stress changes in nanocrystalline Ni thin films eletrodeposited from chloride baths, J. Korean Electo-chem. Soc. 14 (2011) 163-170. 

  13. P.C. Crouch, H.V. Hendricksen, Trans. Institute of Metal Finishing, 61 (1983) 133. 

  14. R. Weil, The origins of stress in electrodeposits plating, Plating, 57 (1970) 1231-1237, 58 (1971) 50-56, 58 (1971) 130-146. 

  15. D.-Y. Park, R.Y. Song, J.M. Ko, B.Y. Yoo, N.V. Myung, Stress changes of nanocrystalline CoNi thin films electrodeposited from chloride baths, Electrochem. Solid-State Lett. 8 (2005) C23-C25. 

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