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NTIS 바로가기Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers = 전자공학회논문지, v.54 no.3 = no.472, 2017년, pp.131 - 137
In order to safely protect high over current flowing into the main circuit at short-circuit without any explosion or fire, the enclosed cartridge fuse with a high interrupting capacity should be applied. But this fuse is impossible to be applied to an inner electronic circuit because of a limited sp...
핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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IT 네트워크 기반의 휴대용 전자 제품의 추세는? | 최근 이차전지의 용량이 상승함에 따라 회로의 단락 상황에서 유입되는 전류도 상승하게 되었고, 이로 인해 폭발 및 화재 등의 2차 피해가 우려 되고 있다. IT 네트워크 기반의 휴대용 전자 제품의 시장 성장으로 이차전지 충전기, 제어 시스템 회로 등은 더욱 소형화 되고 있는 추세로 인하여 회로 단락의 우려는 더욱 커지고 있다. 단락 시 이차전지 및 전자기기 시스템의 안전을 책임지는 보호소자인 퓨즈의 전기저항이 0Ω에 가까울수록 정전압 조건에서 유입 전류는 이론상 무한대의 전류가 전자기기로 유입되게 된다. | |
퓨즈의 역할은? | IT 네트워크 기반의 휴대용 전자 제품의 시장 성장으로 이차전지 충전기, 제어 시스템 회로 등은 더욱 소형화 되고 있는 추세로 인하여 회로 단락의 우려는 더욱 커지고 있다. 단락 시 이차전지 및 전자기기 시스템의 안전을 책임지는 보호소자인 퓨즈의 전기저항이 0Ω에 가까울수록 정전압 조건에서 유입 전류는 이론상 무한대의 전류가 전자기기로 유입되게 된다. 그림 1과 같이 일반적인 휴대폰 충전기의 단락 조건을 만든 전류 유입 테스트에서도 회로 입력 부에서 평균 25~35A의 과전류가 충전기에 인가되고, 최대 100A 이상의 과전류가 순간적으로 유입되기도 한다[1∼2]. | |
일반적인 휴대폰 충전기의 유입 전류는? | 단락 시 이차전지 및 전자기기 시스템의 안전을 책임지는 보호소자인 퓨즈의 전기저항이 0Ω에 가까울수록 정전압 조건에서 유입 전류는 이론상 무한대의 전류가 전자기기로 유입되게 된다. 그림 1과 같이 일반적인 휴대폰 충전기의 단락 조건을 만든 전류 유입 테스트에서도 회로 입력 부에서 평균 25~35A의 과전류가 충전기에 인가되고, 최대 100A 이상의 과전류가 순간적으로 유입되기도 한다[1∼2]. |
Lee Chun-Ha, Kim Shi-Kuk, Ok Kyung-Jae "A Study on the causal analysis of electrical fire by using fuse," Seoul, Korea, Journal of Korean institute of fire science & engineering. Vol. 22, No. 1, pp. 24-28, 2008.
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C. K. Ji and K. O. Kim, "Definitions for miniature fuses and general requirements for miniature fuse-links" Korea, Standards, KS C IEC- 60127, 02. 07, pp. 1-18, 2005.
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