최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기반도체디스플레이기술학회지 = Journal of the semiconductor & display technology, v.17 no.1, 2018년, pp.50 - 53
박일후 (고려대학교 공과대학 전기전자공학과) , 나인엽 (고려대학교 마이크로) , 주현필 (고려대학교 공과대학 전기전자공학과) , 김규태 (고려대학교 공과대학 전기전자공학과)
Cyclic measurement system using relay circuit for organic light emitting diode (OLED) was demonstrated. The OLED characterization such as current-voltage, impedance, and capacitance-voltage is performed in sequence, repetitively and automatically under full control of the personnel computer (PC) wit...
* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.
핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
---|---|---|
유기발광다이오드의 문제점은? | 그러나 발광물질과 전하 전송 물질로 사용되는 유기물의 재료 특성으로 인해 상대적으로 낮은 수명과 안정성을 지닌다는 문제가 있어 유기 재료에 대한 연구와 개발이 이루어져 왔다[2][3]. | |
반복 계측 행위의 특징은? | 반복 계측 행위는 릴레이 회로(Relay Circuit)와 컴퓨터 시스템을 통해 자동으로 제어하여 계측자가 일일이 측정에 관여하지 않고 데이터를 확보할 수 있도록 했다. | |
소자의 성능과 수명을 평가하기 위해 일반적으로 사용하는 장비는? | 소자의 성능과 수명을 평가하기 위해 일반적으로 광전자 계측기기와 외부 스트레스를 인가할 수 있는 전문 열화 장비가 사용된다. 전문 열화 장비는 일반적으로 크고 무거우며, 비싸다. |
Hung, L., Chen, C., "Recent progress of molecular organic electroluminescent materials and devices," Materials Science & Engineering R:Reports, Vol. 39, pp. 143-222, 2002.
Qian, L., Zheng, Y., Xue, J., and Holloway, P., "Stable and efficient quantum-dot light-emitting diodes based on solution-processed multilayer structures," Nature Photonics, Vol. 5, pp. 543-548, 2011.
Jang, J. G., Ahn, J. M., Shin, S. B., Chang, H. J., Gong, S. C., Shin, H. K., Gong, M. S., Lee, C. W, "Fabrication and Characterization of Blue OLED using TMP-BiP Host and DJNBD-1 Dopant," J. of The Korean Society of Semiconductor & Display Technology, Vol. 6, pp. 19-23, 2007.
Kondakov, D., Sandifer J., Tang, C., and Young, R., "Nonradiative recombination centers and electrical aging of organic light-emitting diodes: Direct connection between accumulation of trapped charge and luminance loss," J. of Applied Physics. Vol. 93, pp. 1108-1119, 2003,.
Raffo, A., Di G., Traverso, P., Santarelli, A., and Vannini, G., "An Automated Measurement System for the Characterization of Electron Device Degradation Under Nonlinear Dynamic Regime," IEEE Transactions On Instrumentation And Measurement, Vol. 58, pp. 2663-2670, 2009.
Kim, S. H., Lee, Y. J., Byun, K. N., Jung, S. Y., Lee, B. S., Yoo, H. S., "Characterization of High Efficient Red Phosphorescent OLEDs Fabricated on Flexible Substrates," J. of The Korean Society of Semiconductor & Display Technology, Vol. 4, pp. 15-19, 2005.
*원문 PDF 파일 및 링크정보가 존재하지 않을 경우 KISTI DDS 시스템에서 제공하는 원문복사서비스를 사용할 수 있습니다.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.