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산화물 반도체 기반의 이종접합 광 검출기
Metal Oxide-Based Heterojunction Broadband Photodetector 원문보기

전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers, v.31 no.3, 2018년, pp.165 - 170  

이상은 (인천대학교 전기공학과) ,  이경남 (인천대학교 전기공학과) ,  예상철 (인천대학교 전기공학과) ,  이성호 (인천대학교 전기공학과) ,  김준동 (인천대학교 전기공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this study, double-layered TCO (transparent conductive oxide) films were produced by depositing two distinct TCO materials: $SnO_2$ works as an n-type layer and ITO (indium-doped tin oxide) serves as a transparent conductor. Both transparent conductive oxide-films were sequentially dep...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 이번 연구는 SnO2와 p-Si의 single junction을 이용한 광전소자의 제작과 ITO층을 이용한 성능 향상에 그 목적이 있다. 이는 향후 Si 기반의 광전소자 개발에 있어 보다 다양한 방식을 제시할 수 있을 것이다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
ITO의 가장 큰 장점은? 5 eV 이상의 optical band gap을 가지고 있다. ITO의 가장 큰 장점은 높은 투과성을 가짐과 동시에 10-4 cmΩ의 낮은 저항을 가지고 있다는 점이다 [9-11].
TCO의 특징 중 가시광선 영역의 빛을 전기에너지로 바꿀 수 있게 하는 것은? TCO (transparent conductive oxide)는 높은 투과율과 전기전도도를 가지는 독특한 물질이다. 가시광선 영역(380~780 nm)에서 투과율이 80%가 넘고 Optical bandgap은 3.0 eV가 넘으며 10-3~10-4 Ω의 비저항을 갖는다. TCO의 이러한 특징은 가시광선 영역의 빛을 전기에너지로 바꾸는 데 효과적이다 [1-4].
SnO2의 특징은? TCO 물질 중 하나인 SnO2는 n-type 반도체로서 3.6eV의 넓은 optical band-gap을 가지고 있으며 200℃부터 600℃까지 넓은 온도범위에서 공정이 가능하다. 또한 물리적으로 안정하며 무독성의 성질을 가지고 있고 수급 여건이 좋고 경제적으로도 뛰어나다. 이러한 이점들 때문에 금속산화물들 중에서도 SnO2와 관련한 많은 연구가 이루어지고 있다 [7].
질의응답 정보가 도움이 되었나요?

참고문헌 (11)

  1. J. George, R. Haley, B. Pate, S. Rozeveld, M. Krafft, M. T. Bernius, and S. Yeung, Proc. 2009 34th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC) (IEEE, Philadelphia, USA, 2009). p. 000440. 

  2. D. W. Kang, S. H. Kuk. K. S. Ji, H. M. Lee, and M. K. Han, Sol. Energy Mater. Sol. Cells, 95, 138 (2011). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.solmat.2010.04.068] 

  3. D. J. Lee, J. Kim, G. E. Fernandes, J. H. Kim, C. M. Bledt, K. B. Kim, and J. Xu, Proc. 2015 Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO) (IEEE, San Jose, USA, 2015) p. 1. 

  4. R.E.I. Schropp, J. K. Rath, and L. T. Yan, Proc. 2011 37th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (IEEE, Seattle, USA, 2011) p. 000274. 

  5. C. Guillen and J. Herrero, Thin Solid Films, 520, 1 (2011). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2011.06.091] 

  6. J. H. Yun and J. Kim, Mater. Lett., 70, 4 (2012). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.matlet.2011.11.053] 

  7. P. S. Kolhe, P. M. Koinkar, N. Maiti, and K. M. Sonawane, Phys. B, 524, 90 (2017). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.physb.2017.07.056] 

  8. M. Batzill and U. Diebold, Prog. Surf. Sci., 79, 47 (2005). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.progsurf.2005.09.002] 

  9. M.F.B.M. Nasir and M. H. Mamat, Proc. 2016 IEEE Student Conference on Research and Development (SCOReD) (IEEE, Kuala Lumpur, Malaysia, 2016) p. 1. 

  10. B. He, Z. Q. Ma, J. Xu, L. Zhao, N. S. Zhang, F. Li, C. Shen, L. Shen, X. J. Meng, C. Y. Zhou, Z. S. Yu, and Y. T. Yin, Superlattices Microstruct., 46, 664 (2009). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.spmi.2009.04.013] 

  11. S. S. Shinde and K. Y. Rajpure, Mater. Res. Bull., 46, 1734 (2011). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.materresbull.2011.05.032] 

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