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NTIS 바로가기전력전자학회지 = The journal of the Korean Institute of Power Electronics, v.23 no.3, 2018년, pp.53 - 57
최성순 (전자부품연구원 신뢰성연구센터)
초록이 없습니다.
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이상용, 신뢰성공학, 형설출판사, pp. 31-36.
R. Bayerer, "Model for power cycling lifetime of IGBT Modules-various factors influencing lifetime," CIPS, 2008.
F. Auerbach, "Power-cycling-stability of IGBTmodules," IEEE Industry Applications Society Annual Meeting, 1997.
A. Stupar, "Advanced setup for thermal cycling of power modules following definable junction temperature profiles," International Power Electronics Conference, 2010.
S. Schuler and U. Scheuermann, "Impact of test control strategy on power cycling lifetime," PCIM 2010, 2010.
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