최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기전기학회논문지 = The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers, v.67 no.11, 2018년, pp.1512 - 1516
박근석 (Dept. of Southwestern, Research Institute of Medium & Small Shipbuilding) , 최준웅 (Dept. of Southwestern, Research Institute of Medium & Small Shipbuilding) , 이대동 (Dept. of Electrical Engineering, Hanbat National University)
The power system and control system constantly reveals surge voltage such as switching surge of lighting devices and power conversion devices, operating and stops surge of rotating devices, charge & discharge surge, opening & closing surge of circuit breakers and the like. Such a surge voltages can ...
핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
---|---|---|
산업에서 사용되는 전력 및 제어 시스템은 어떻게 변화하는가? | 산업에서 사용되는 전력 및 제어 시스템은 PLC 제어 시스템에서 FPGA, ARM 등 반도체 및 컴퓨터 기반의 임베디드 시스템의 초고속 제어기술로 변화되고 있다. 이는 12 V~24 V의 전자식접촉제어방식에서 5 V, 3 V, 1. | |
반도체 등의 제어소자의 단점은 무엇인가? | 8 V까지 매우 낮은 전압 반도체 회로의 직접제어방식으로 발전되었고 높은 전송속도와 제어속도를 갖는 장점을 갖고 있다[1]. 하지만 반도체 등의 제어소자는 과도전압과 노이즈에 민감하게 반응하고 소자가 소손되거나오동작이 발생하였을 경우 원인을 규명하기가 매우 힘든 단점을 갖고 있으며 대부분의 주요 원인은 서지전압으로 나타난다. “서지전압”이란 전력 또는 유틸리티 그리드에서 마이크로초에서 수초 동안 돌발적으로 발생하여 충격성을 갖는 정격이상의 과도전압을 말한다. | |
반도체 및 컴퓨터 기반의 임베디드 시스템의 장점은 무엇인가? | 산업에서 사용되는 전력 및 제어 시스템은 PLC 제어 시스템에서 FPGA, ARM 등 반도체 및 컴퓨터 기반의 임베디드 시스템의 초고속 제어기술로 변화되고 있다. 이는 12 V~24 V의 전자식접촉제어방식에서 5 V, 3 V, 1.5 V, 0.8 V까지 매우 낮은 전압 반도체 회로의 직접제어방식으로 발전되었고 높은 전송속도와 제어속도를 갖는 장점을 갖고 있다[1]. 하지만 반도체 등의 제어소자는 과도전압과 노이즈에 민감하게 반응하고 소자가 소손되거나오동작이 발생하였을 경우 원인을 규명하기가 매우 힘든 단점을 갖고 있으며 대부분의 주요 원인은 서지전압으로 나타난다. |
A study on the Surge Protection of Shipboard Electrical and Electronic Devices, HMOU, Master's degree, park, sung ju, 2010.
Kostas Samaras, "Electrical Surge-Protection Devices for Industrial Facilities-A Tutorial Review", IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRY APPLICATIONS, Vol. 43, No. 1, JANUARY/FEBRUARY 2007.
Bok-Hee Lee, Bong Lee, Su-Bong Lee, Sung-Man Kang, "Effects of Lightning Surges on the Life of ZnO Varistors", KIEE, Vol. 55, No. 5, 2006.
R. B, Standler, "Protection of Electronic Circuits from Overvoltage", John Wiley & Sons., Inc., pp. 123-155, 1989.
IEEE 1100-2005, IEEE Recommended Practice for Powering and Grounding Electronic Equipment, 2005.
IEEE C62.45, IEEE Recommended Practice on Surge Test for Equipment Connected to Low-Voltage AC Power Circuit, 2002.
IEC61643-11, Low-voltage surge protective devices - Part11 : Surge protective devices connected to low - voltage power systems-Requirements and test methods, 2011.
IEC61000-4-5, Electromagnetic compatibility(EMC) - Part4-5:Testing and measurement techniques-Surge immunity test, 2014.
*원문 PDF 파일 및 링크정보가 존재하지 않을 경우 KISTI DDS 시스템에서 제공하는 원문복사서비스를 사용할 수 있습니다.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.