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NTIS 바로가기한국방사선학회 논문지 = Journal of the Korean Society of Radiology, v.13 no.6, 2019년, pp.831 - 840
노봉규 (세심광전자기술) , 백삼학 (세심광전자기술) , 강석준 (호서대학교 전자디스플레이 공학부) , 이종모 (호서대학교 전자디스플레이 공학부) , 배병성 (호서대학교 전자디스플레이 공학부)
The X-ray detector by liquid crystal with front light was proposed and verified by a X-ray image. The proposed detector utilizes the visible light instead of the electric signal by transistor. Therefore, it shows low noise and can be fabricated at low cost. The liquid crystal detector uses the orien...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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평판형 검출기에는 어떠한 방식이 있는가? | 의료 진단에 X선 검출기가 널리 사용이 되고 있고 필름 방식에서 디지탈방식으로 변화 되면서 여러 가지 X선 검출기가 개발되었다. 평판형 검출기로서 X선을 직접 전기신호로 변화하는 방식과 X선을 가시광으로 변환한 다음 가시광을 검출하는 간접 방식이 있다.[1] 두 경우 모두 매트릭스로 구성이 되는 박막 트랜지스터 배열의 기판이 필요하며 공정의 복잡성과 낮은 수율이 원가의 상승 요인이다. | |
액정 X선 검출기는 어떤 구조인가? | 액정 X선 검출기는 편광판과 검광판 사이에 광도전체와 액정층이 적층된 구조인 감지 패널이 놓인 구조이다. 광도전체에 X선을 쪼여주면, 전자와 정공이 만들어지는데, 상하 ITO (Indium Tin Oxide;ITO)막 사이에 DC (Direct Current; DC) 전기장을 걸어서, 전자와 전공을 분리하여 반대 극성의 ITO막으로 모이게 한다. | |
액정 X선 검출기는 어떤 과정을 통하여 X 선량을 측정하는가? | 액정 X선 검출기는 편광판과 검광판 사이에 광도전체와 액정층이 적층된 구조인 감지 패널이 놓인 구조이다. 광도전체에 X선을 쪼여주면, 전자와 정공이 만들어지는데, 상하 ITO (Indium Tin Oxide;ITO)막 사이에 DC (Direct Current; DC) 전기장을 걸어서, 전자와 전공을 분리하여 반대 극성의 ITO막으로 모이게 한다. 액정층에 접하는 광도전체 경계면에는 정공이, 대향하는 광도전층 경계면에는 전자가 분포한다. 분리된 전하량에 따라서 액정층의 배열이 달라지므로, 액정층을 지나는 읽는-빔(Read Beam)의 편광투과특성을 재면 광도전층의 전하밀도를 알 수 있고 광도전층의 전하밀도는 X선량에 따라 변하므로 X선량을 측정할 수 있다. |
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