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폴리머 위에 엑시머 레이저 방법으로 결정화된 다결정 실리콘의 특성
Characteristics of Excimer Laser-Annealed Polycrystalline Silicon on Polymer layers 원문보기

융합정보논문지 = Journal of Convergence for Information Technology, v.9 no.3, 2019년, pp.75 - 81  

김경보 (인하공업전문대학 금속재료과) ,  이종필 (중원대학교 전기전자공학전공) ,  김무진 (중원대학교 전기전자공학전공) ,  민영실 (중원대학교 제약공학과)

초록
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본 논문은 유기물로 이루어진 폴리머 기판상에 저온 다결정 실리콘 박막트랜지스터 제조방법에 대해 연구하였다. 먼저, 폴리머 기판에 화학증착방식으로 비결정 실리콘 박막을 증착하였고, 열처리 장치인 퍼니스로 탈수소 및 활성화 공정을 430도에서 2시간동안 진행하였다. 이후 엑시머 레이저를 이용하여 결정화를 진행하여 다결정 실리콘 반도체 막을 제조하였다. 이 박막은 박막트랜지스터 제작을 위한 활성층으로 사용하였다. 제작된 p형 박막트랜지스터는 이동도 $77cm^2/V{\cdot}s$, on/off 전류비는 $10^7$이상의 동작특성을 보였고, 이는 결정화된 박막내부에 결함 농도가 낮음을 의미한다. 이 결과로 유기물 기판상에 엑시머 레이저로 형성된 다결정 실리콘으로 제작된 전자소자는 플렉서블 AMOLED 디스플레이 회로 형성에 최적의 기술임을 알 수 있다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this work, we investigated a low temperature polycrystalline silicon (LTPS) thin film transistors fabrication process on polymer layers. Dehydrogenation and activation processes were performed by a furnace annealing at a temperature of $430^{\circ}C$ for 2 hr. The crystallization of am...

주제어

표/그림 (14)

AI 본문요약
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문제 정의

  • 레이저로 결정화된 폴리실리콘은 scanning electron microscopy (SEM), atomic force microscopy (AFM) 기법들을 이용하여 표면 형상, 입자 크기 및 결정 구조에 대해 분석을 진행하였다. 또한, 이 반도체 막을 기반으로 제조된 박막트랜지스터의 특성 및 플렉서블 AMOLED 디스플레이에 대한 연구를 진행하였다.
  • 비정질 실리콘을 다결정 실리콘으로 바꾸는 결정화 기술 중 현재 가장 각광받고 양산에 적용되고 있는 것은 자외선 파장을 가진 엑시머 레이저를 비정질 실리콘에 조사하는 기술이다[1,2]. 또한, 이 방법은 국소영역을 녹여서 나노시간 내에 응고가 일어나기 때문에 하부 기판에의 영향이 적어, 유기물로 이루어진 플렉서블 기판상에 형성된 비정질 실리콘의 결정화에 대한 가능성을 제시한다. A.

가설 설정

  • 5(b)의 엑시머 레이저 결정화시 박막이 뜯겨져 나가는 것을 막기 위해 질소 분위기의 430도 온도에서 약 2시간 정도 열처리[Fig. 3(b) 장비 사용]를 하면 비정질 실리콘 내부의 수소가 제거된다. 이미 코팅되어 있는 폴리머막은 유기물로 이루어졌기 때문에 일반적으로 200도 이상의 고온에서는 견딜 수 없지만 본 연구진이 개발한 열처리 방법을 통해 400도 이상에서도 견딜 수 있도록 하였으며, 이후 308nm 파장의 XeCl 레이저를 이용하여 비정질 실리콘 층을 조사하면 Fig.
  • 그 이유는 레이저 조사된 비정질 실리콘은 순간적이지만, 액체로 변하기 때문이며, 이는 최상부의 온도가 아주 높게 올라감을 의미 한다. Energy balance 방정식을 이용하여 진행하였으며, 펄스 레이저 조건은 shot과 shot 사이의 overlap은 95%, 빔폭은 0.4mm, 주파수는 100Hz, 레이저 on시간은 50nsec, 에너지는 350mJ/cm2 , 공정 시간은 10초 지났을 때로 가정하였으며, 이 시간이면, 가장 높은 온도 값이 거의 변하지 않는 상태이기 때문이다. 프로그램명은 ABQUS로 상용 소프트웨어다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
플라스틱 기판의 특징은 무엇인가? 다음 세대의 디스플레이는 모든 외부 회로를 기판상에 제조하는 것이다. 또한, 플라스틱 기판은 글라스로 사용되는 기판과 비교했을 때 더 가볍고, 휘어짐이 가능하고 값이 싸기 때문에 Fig. 2와 같이 이와 같은 기술에 대해 많은 연구가 진행되고 있다[5-8].
레이저로 결정화된 폴리실리콘 분석에 이용한 기법은? 본 연구에서는 레이저 결정화 전 비정질 실리콘을 탈수소하기 위해 430도 온도에서 2시간 열처리를 진행하였으며, 또한, 폴리실리콘 내에 주입된 도펀트들을 활성화시키기 위해서 같은 조건으로 열처리했다. 레이저로 결정화된 폴리실리콘은 scanning electron microscopy (SEM), atomic force microscopy (AFM) 기법들을 이용하여 표면 형상, 입자 크기 및 결정 구조에 대해 분석을 진행하였다. 또한, 이 반도체 막을 기반으로 제조된 박막트랜지스터의 특성 및 플렉서블 AMOLED 디스플레이에 대한 연구를 진행하였다.
자외선 파장을 가진 엑시머 레이저를 사용하여 비정질 실리콘에 조사하였을 때 장점은 무엇인가? 비정질 실리콘을 다결정 실리콘으로 바꾸는 결정화 기술 중 현재 가장 각광받고 양산에 적용되고 있는 것은 자외선 파장을 가진 엑시머 레이저를 비정질 실리콘에 조사하는 기술이다[1,2]. 또한, 이 방법은 국소영역을 녹여서 나노시간 내에 응고가 일어나기 때문에 하부 기판에의 영향이 적어, 유기물로 이루어진 플렉서블 기판상에 형성된 비정질 실리콘의 결정화에 대한 가능성을 제시한다. A.
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참고문헌 (15)

  1. G. H. Jin, J. H. Cho, W. P. Lee, Y. G. Mo, H. D. Kim, S. S. Kim, M. J. Kim & J. H. Song (2011). Simple Fabrication of a Three-Dimensional CMOS Inverter Using p-Type Poly-Si and n-Type Amorphous Ga-In-Zn-O Thin-Film Transistors. IEEE Electron Device Letters, 32(9), 1236-1238. DOI : 10.1109/LED.2011.2161258 

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  11. G. H. Jin, S. M. Choi, M. J. Kim, S. C. Kim & J. H. Song. (2012). New Pixel Circuit Design Employing an Additional Pixel Line Insertion in AMOLED Displays Composed by Excimer Laser-Crystallized TFTs. Journal of Display Technology, 8(8), 479-482. DOI : 10.1109/JDT.2012.2191533 

  12. M. J. Kim, G. H. Jin, K. B. Kim & J. H. Song. (2014). Characteristics of polycrystalline Si TFTs fabricated on glass substrates by excimer laser annealing with nickel-sputtered amorphous Si films. Displays, 35, 1-5. DOI : 10.1016/j.displa.2013.10.002 

  13. K. B. Kim, G. H. Jin, M. J. Kim, S. C. Kim & C. W. Jeon. (2014). Effects of Grain Size in Sequential Lateral Solidification Processed on Active Matrix Organic Light Emitting Diode Displays. ECS Solid State Letters, 3(8), R40-R43. 

  14. K. Shirai, F. Oshiro & T. Noguchi. (2011). Influence of Grain Size Deviation on the Characteristics of Poly-Si Thin Film Transistor. Journal of the Korean Physical Society, 59(2), 298-303. 

  15. G. H. Jin & M. J. Kim. (2009). Effects of gate insulator using high pressure annealing on the characteristics of solid phase crystallized polycrystalline silicon thin-film transistors. Journal of Applied Physics, 105(7), 074507. 

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