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NTIS 바로가기한국산학기술학회논문지 = Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society, v.22 no.1, 2021년, pp.327 - 332
At the package level, semiconductor reliability inspections involves mounting a semiconductor chip package on a test socket. The form of the test socket is basically determined by the form of the chip package. It also acts as a medium to connect with test equipment through mechanical contact of the ...
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Hyoung-Keun Park, "Development of Machine Vision Monitoring System for Semiconductor Package Sorter", International Journal of Control and Automation, Vol. 9, No. 4, pp.63-72, 2016 DOI: https://dx.doi.org/10.14257/ijca.2016.9.4.07
Hyoung-Keun Park, Keun-Wang Lee "Development of DWCCS for Chemical Temperature Control of Semiconductor Manufacturing", International Journal of Control and Automation, Vol. 6, No. 3, pp.125-132, 2013 Website: https://www.earticle.net/Article/A20769
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