![Fig. 2. The low and high magnification SEM images of e-jet printed micropatterns using UV curable polymer (NOA 74) and a metal-coated glass nozzle [(a), (b) 5 μm, and (c) 1 μm internal diameter at the tip].](http://ocean.kisti.re.kr/downfile/bibText/kieeme/JJJRCC/2022/v35n1/JJJRCC_2022_v35n1_18_f0001.png "Fig. 2. The low and high magnification SEM images of e-jet printed micropatterns using UV curable polymer (NOA 74) and a metal-coated glass nozzle [(a), (b) 5 μm, and (c) 1 μm internal diameter at the tip].")
![Fig. 3. The low and high magnification SEM images of e-jet printed micropatterns using polystyrene and a metal-coated glass nozzle [(a), (b) 5 μm, and (c) 1 μm internal diameter at the tip].](http://ocean.kisti.re.kr/downfile/bibText/kieeme/JJJRCC/2022/v35n1/JJJRCC_2022_v35n1_18_f0002.png "Fig. 3. The low and high magnification SEM images of e-jet printed micropatterns using polystyrene and a metal-coated glass nozzle [(a), (b) 5 μm, and (c) 1 μm internal diameter at the tip].")
![Fig. 4. The SEM images of e-jet printed micropatterns using green/red quantum dots (QDs) solution and a metal-coated glass nozzle [(a) 5 μm, (b) 2 μm, and (c) 1 μm internal diameter at the tip].](http://ocean.kisti.re.kr/downfile/bibText/kieeme/JJJRCC/2022/v35n1/JJJRCC_2022_v35n1_18_f0003.png "Fig. 4. The SEM images of e-jet printed micropatterns using green/red quantum dots (QDs) solution and a metal-coated glass nozzle [(a) 5 μm, (b) 2 μm, and (c) 1 μm internal diameter at the tip].")
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이젯 프린터를 사용한 고분자/퀀텀닷 마이크로 패터닝 공정
Micropattern Arrays of Polymers/Quantum Dots Formed by Electrohydrodynamic Jet (e-jet) Printing
원문보기
전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers, v.35 no.1, 2022년, pp.18 - 23
김시몬 (숭실대학교 유기신소재파이버공학과) , 이수언 (숭실대학교 스마트웨어러블공학과) , 김봉훈 (숭실대학교 유기신소재파이버공학과)
초록
이젯 프린팅은 직접적인 비접촉 마이크로 팹기술의 하나로서 노즐과 기판 사이에 강한 전기장을 가함으로써 넓은 범위의 마이크로/나노패턴 어레이를 구현할 수 있는 다목적 팹공정이다. 제조된 고분자/퀀텀닷 마이이크로 패턴의 모양과 두께는 자동화된 프린트 기계에 설치된 노즐 직경과 공정에 사용된 잉크 성분에 일반적으로 정밀한 의존성을 갖는다. 본 논문의 목적은 실험 결과에 영향을 미칠 수 있는 각각의 공정 변수 효과를 설명하기 위해서 이젯 프린팅된 고분자/퀀텀닷의 전형적인 실제 예를 설명하는데 있다. 여기서 우리는 마이크로/나노 해상도로 두께가 정밀하게 제어된 고분자/퀀텀닷 패턴을 제조할 수 있는 몇 가지 이젯 프린팅 공정을 구현하였다.
Abstract
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Electrohydrodynamic jet (e-jet) printing, a type of direct contactless microfabrication technology, is a versatile fabrication process that enables a wide range of micro/nanopattern arrays by applying a strong electric field between the nozzle and the substrate. In general, the morphology and the th...
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참고문헌 (30)
-
M. Zhang, G. Li, L. Huang, P. Ran, J. Huang, M. Yu, H. Yuqian, J. Guo, Z. Liu, and X. Ma, Appl. Mater. Today, 22, 100903 (2021). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.apmt.2020.100903]
-
H. Li, Z. Wang, Y. Cao, Y. Chen, and X. Feng, ACS Appl. Mater. Interfaces, 13, 1612 (2021). [DOI: https://doi.org/10.1021/acsami.0c19837]
-
K. Kim, G. Kim, B. R. Lee, S. Ji, S. Y. Kim, B. W. An, M. H. Song, and J. U. Park, Nanoscale, 7, 13410 (2015). [DOI: https://doi.org/10.1039/C5NR03034J]
-
C. Zhao, Y. Zhou, S. Gu, S. Cao, J. Wang, M. Zhang, Y. Wu, and D. Kong, ACS Appl. Mater. Interfaces, 12, 47902 (2020). [DOI: https://doi.org/10.1021/acsami.0c12415]
-
T. Ahmadraji, L. Gonzalez-Macia, T. Ritvonen, A. Willert, S. Ylimaula, D. Donaghy, S. Tuurala, M. Suhonen, D. Smart, A. Morrin, V. Efremov, R. R. Baumann, M. Raja, A. Kemppainen, and A. J. Killard, Anal. Chem., 89, 7447 (2017). [DOI: https://doi.org/10.1021/acs.analchem.7b01012]
-
X. Chu, G. Chen, X. Xiao, Z. Wang, T. Yang, Z. Xu, H. Huang, Y. Wang, C. Yan, N. Chen, H. Zhang, W. Yang, and J. Chen, Small, 17, 2100956 (2021). [DOI: https://doi.org/10.1002/smll.202100956]
-
S. Abdolhosseinzadeh, R. Schneider, A. Verma, J. Heier, F. Nuesch, and C. J. Zhang, Adv. Mater., 32, 2000716 (2020). [ DOI: https://doi.org/10.1002/adma.202000716]
-
P. Ren, Y. Liu, R. Song, B. O'Connor, J. Dong, and Y. Zhu, ACS Appl. Electron. Mater., 3, 192 (2021). [DOI: https://doi.org/10.1021/acsaelm.0c00747]
-
H. S. An, Y. G. Park, K. Kim, Y. S. Nam, M. H. Song, and J. U. Park, Adv. Sci., 6, 1901603 (2019). [DOI: https://doi.org/10.1002/advs.201901603]
-
D. Song, A. Mahajan, E. B. Secor, M. C. Hersam, L. F. Francis, and C. D. Frisbie, ACS Nano, 11, 7431 (2017). [DOI: https://doi.org/10.1021/acsnano.7b03795]
-
K. Fukuda and T. Someya, Adv. Mater., 29, 1602736 (2017). [DOI: https://doi.org/10.1002/adma.201602736]
-
K. Cao, F. Zhang, A. Zaeri, R. Zgeib, and R. C. Chang, Adv. Mater. Technol., 6, 2100251 (2021). [DOI: https://doi.org/10.1002/admt.202100251]
-
Y. Zhong, H. Yu, P. Zhou, Y. Wen, W. Zhao, W. Zou, H. Luo, Y. Wang, and L. Liu, ACS Appl. Mater. Interfaces, 13, 39550 (2021). [DOI: https://doi.org/10.1021/acsami.1c06205]
-
S. Su, J. Liang, Z. Wang, W. Xin, X. Li, and D. Wang, Nanoscale, 12, 24450 (2020). [DOI: https://doi.org/10.1039/D0NR08236H]
-
J. Yong, Y. Liang, Y. Yu, B. Hassan, M. S. Hossain, K. Ganesan, R. R. Unnithan, R. Evans, G. Egan, G. Chana, B. Nasr, and E. Skafidas, ACS Appl. Mater. Interfaces, 11, 17521 (2019). [DOI: https://doi.org/10.1021/acsami.9b02465]
-
T.T.T. Can, Y. J. Kwack, and W. S. Choi, Mater. Des., 199, 109408 (2021). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.matdes.2020.109408]
-
N. Farjam, T. H. Cho, N. P. Dasgupta, and K. Barton, Appl. Phys. Lett., 117, 133702 (2020). [DOI: https://doi.org/10.1063/5.0021038]
-
Y. J. Jeong, H. Lee, B. S. Lee, S. Park, H. T. Yudistira, C. L. Choong, J. J. Park, C. E. Park, and D. Byun, ACS Appl. Mater. Interfaces, 6, 10736 (2014). [DOI: https://doi.org/10.1021/am502595a]
-
F. Zheng, S. Zhang, J. Mo, H. Yi, S. Zhang, H. Yu, K. Lin, J. Sha, and Y. Chen, Small, 16, 2000397 (2020). [DOI: https://doi.org/10.1002/smll.202000397]
-
B. H. Kim, M. S. Onses, J. B. Lim, S. Nam, N. Oh, H. Kim, K. J. Yu, J. W. Lee, J. H. Kim, S. K. Kang, C. H. Lee, J. Lee, J. H. Shin, N. H. Kim, C. Leal, M. Shim, and J. A. Rogers, Nano Lett., 15, 969 (2015). [DOI: https://doi.org/10.1021/nl503779e]
-
H. J. Kwon, X. Li, J. Hong, C. E. Park, Y. J. Jeong, H. C. Moon, and S. H. Kim, Appl. Surf. Sci., 515, 145989 (2020). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2020.145989]
-
M. S. Onses, E. Sutanto, P. M. Ferreira, A. G. Alleyne, and J. A. Rogers, Small, 11, 4237 (2015). [DOI: https://doi.org/10.1002/smll.201500593]
-
Y. A. Huang, H. Wu, C. Zhu, W. Xiong, F. Chen, L. Xiao, J. Liu, K. Wang, H. Li, D. Ye, Y. Duan, J. Chen, H. Yang, W. Li, K. Bai, Z. Yin, and H. Ding, Int. J. Extreme Manuf., 3, 045101 (2021). [DOI: https://doi.org/10.1088/2631-7990/ac115a]
-
W. K. Bae, J. Kwak, J. W. Park, K. Char, C. Lee, and S. Lee, Adv. Mater., 21, 1690 (2009). [DOI: https://doi.org/10.1002/adma.200801908]
-
J. Lim, S. Jun, E. Jang, H. Baik, H. Kim, and J. Cho, Adv. Mater., 19, 1927 (2007). [DOI: https://doi.org/10.1002/adma.200602642]
-
S. Pekdemir, I. Torun, M. Sakir, M. Ruzi, J. A. Rogers, and M. S. Onses, ACS Nano, 14, 8276 (2020). [DOI: https://doi.org/10.1021/acsnano.0c01987]
-
W. Zou, H. Yu, P. Zhou, Y. Zhong, Y. Wang, and L. Liu, Appl. Surf. Sci., 543, 148800 (2021). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2020.148800]
-
J. Kang, Y. Jang, Y. Kim, S. H. Cho, J. Suhr, B. H. Hong, J. B. Choi, and D. Byun, Nanoscale, 7, 6567 (2015). [DOI: https://doi.org/10.1039/C4NR06984F]
-
Q. Wang, G. Zhang, H. Zhang, Y. Duan, Z. Yin, and Y. A. Huang, Adv. Funct. Mater., 31, 2100857 (2021). [DOI: https://doi.org/10.1002/adfm.202100857]
-
S. Lee, S. W. Kim, M. Ghidelli, H. S. An, J. Jang, A. L. Bassi, S. Y. Lee, and J. U. Park, Nano Lett., 20, 4872 (2020). [DOI: https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.0c00869]
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