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Machine Vision Algorithm Design for Remote Control External Defect Inspection 원문보기

Journal of platform technology, v.10 no.3, 2022년, pp.21 - 29  

Kang, Jin-Su (Kumoh National Institute of Technology, Dept. of Electronic Engineering) ,  Kim, Young-Hyung (Kumoh National Institute of Technology, Dept. of IT Convergence Engineering) ,  Yoon, Sang-Goo (Will-B) ,  Lee, Yong-Hwan (Kumoh National Institute of Technology, Dept. of Electronic Engineering)

Abstract ▼ AI-Helper 아이콘AI-Helper

Recently, the scope of the smart factory has been expanded, and process research to minimize the part that requires manpower in many processes is increasing. In the case of detecting defects in the appearance of small products, precise verification using a vision system is required. Reliability and ...

주제어

#Remote control   #Machine vision   #Defect inspection   #Image processing   #hardware  

표/그림 (6)

참고문헌 (11)

  1. M. Y. Kim, M. S. Jeong, Y. H. Kim, K. H. Cho and S. Y. Kim "Defect Detection of Injection Molding Machine Results for Smart Factory," Proceedings of KIIT Conference, 2021, pp. 116-117. 

  2. P. Madhuri, A. S. Nagesh, M. Thirumalaikumar, Z. Varghese and A. V. Varun, "Performance analysis of smart camera based distributed control flow logic for machine vision applications," 2009 IEEE International Conference on Industrial Technology, 2009, pp. 1-6, doi: 10.1109/ICIT.2009.4939499. 

    crossref

  3. J. S. Kang, S.G. Yoon and Y. H. Lee, "Use of Vision for Product Defect Inspection", Proceedings of KIIT Conference, Jun. 2021, pp. 160-161. 

  4. J. S. Kang and Y. H. Lee "High-speed image processing system for smart factories", Proceedings of KIIT Conference, Oct. 2020, pp. 100-101. 

  5. W. Chong, Z. Hong and L. Zhen "Hardware/software co-design of embedded image processing system using systemc modeling platform," 2011 International Conference on Image Analysis and Signal Processing, 2011, pp. 524-528, doi: 10.1109/IASP.2011.6109098. 

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  6. D. C. K. Kho, M. F. A. Fauzi and S. L. Lim, "Hardware Parallel Processing of 3×3-pixel Image Kernels," 2020 IEEE REGION 10 CONFERENCE (TENCON), 2020, pp. 1272-1276, doi: 10.1109/TENCON50793.2020.9293914. 

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  7. C. S. Seo, Y. H. Kim and Y. H. Lee "FPGA Implementation of FAST Algorithm for Object Recognition", Journal of KIIT, Vol. 13, No. 8, Aug. 2015, pp.1-8 

  8. S. B. Byun and Y. H. Lee "Study of Image Stitching Algorithm for Hardware Implementation", Proceedings of KIIT Conference, May. 2013, pp. 217-219. 

  9. J. S. Kang, S.S. Kim, Y. H. Lee and Y. H. Kim, "Vision Inspection and Correction for DDI Protective Film Attachment", JOURNAL OF ADVANCED INFORMATION TECHNOLOGY AND CONVERGENCE, Vol. 10, No. 2, Dec. 2020, pp. 153-166. 

    상세보기

  10. J. Y. Jeong, Y. H. Lee, J. M. Lee and Y. H. Kim, "Design of Defect Judgment System based on Vision Data", Proceedings of KIIT Conference, Jun. 2021, pp. 343-344. 

  11. S. Y. Kim, C. Y. Lee, S. G. Yoon and Y. H. Lee "Development of Image Correction Algorithm for Taphole Vision Test", Proceedings of KIIT Conference, Oct. 2020, pp. 45-46. 

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