$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

고전압 전력반도체 소자 개발을 위한 단위공정에서 식각공정과 이온주입공정의 영향 분석
Analysis of the Effect of the Etching Process and Ion Injection Process in the Unit Process for the Development of High Voltage Power Semiconductor Devices 원문보기

청정기술 = Clean technology, v.29 no.4, 2023년, pp.255 - 261  

최규철 (동아대학교 화학공학과) ,  김경범 (동아대학교 화학공학과) ,  김봉환 (넥스젠 파워) ,  김종민 (동아대학교 화학공학과) ,  장상목 (동아대학교 화학공학과)

초록
AI-Helper 아이콘AI-Helper

파워반도체는 전력의 변환, 변압, 분배 및 전력제어 등을 감당하는데 사용되는 반도체이다. 최근 세계적으로 고전압 파워반도체의 수요는 다양한 산업분야에 걸쳐 증가하고 있는 추세이며 해당 산업에서는 고전압 IGBT 부품의 최적화 연구가 절실한 상황이다. 고전압 IGBT개발을 위해서 wafer의 저항값 설정과 주요 단위공정의 최적화가 완성칩의 전기적특성에 큰 변수가 되며 높은 항복전압(breakdown voltage) 지지를 위한 공정 및 최적화 기술 확보가 중요하다. 식각공정포토리소그래피공정에서 마스크회로의 패턴을 wafer에 옮기고, 감광막의 하부에 있는 불필요한부분을 제거하는 공정이고, 이온주입공정은 반도체의 제조공정 중 열확산기술과 더불어 웨이퍼 기판내부로 불순물을 주입하여 일정한 전도성을 갖게 하는 과정이다. 본 연구에서는 IGBT의 3.3 kV 항복전압을 지지하는 ring 구조형성의 중요한 공정인 field ring 식각실험에서 건식식각습식식각을 조절해 4가지 조건으로 나누어 분석하고 항복전압확보를 위한 안정적인 바디junction 깊이형성을 최적화하기 위하여 TEG 설계를 기초로 field ring 이온주입공정을 4가지 조건으로 나누어 분석한 결과 식각공정에서 습식 식각 1스텝 방식이 공정 및 작업 효율성 측면에서 유리하며 링패턴 이온주입조건은 도핑농도 9.0E13과 에너지 120 keV로, p-이온주입 조건은 도핑농도 6.5E13과 에너지 80 keV로, p+ 이온주입 조건은 도핑농도 3.0E15와 에너지 160 keV로 최적화할 수 있었다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Power semiconductors are semiconductors used for power conversion, transformation, distribution, and control. Recently, the global demand for high-voltage power semiconductors is increasing across various industrial fields, and optimization research on high-voltage IGBT components is urgently needed...

주제어

표/그림 (12)

참고문헌 (16)

  1. Kang, E. G., Kim, B. J., and Lee, Y. H., "A Study on?Electrical Characteristics of Trench Field Ring for?Breakdown Characteristics," J. Korean Inst. Electr. Electron.?Mater. Eng., 23(1), 1-5 (2010). 

  2. Kim, S. C. and Kim E. D., "Electrical Characterization and?Metal Contacts of ZnO Thin Films Grown by the PLD?Method," J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 15(1),?15-23 (2002). 

  3. Kang, E. G., "Study on 3.3 kV Super Junction Field Stop?IGBT According to Design and Process Parameters," J.?Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 30(4), 210-213?(2017). 

  4. Vaid, R. and Padha, N., "A Novel Trench Gate Floating?Islands Power MOSFET (TG-FLIMOSFET): Two-dimensional?Simulation Study," Microelectron. Reliab., 88(11), 3316-3326 (2011). 

  5. Tam, W. S., Siu, S. L., Wong, O. Y., Kok, C. W., Wong,?H., and Filip, V., "Modeling of Terminal Ring Structures?for High-voltage Power MOSFETs," Microelectron. Reliab.,?52(8), 1645-1650 (2012). 

  6. Schaur, S., Stadler, P., Meana-Esteban, B., Neugebauer, H.,?and Serdar Sariciftci, N., "Electrochemical Doping for?Lowering Contact Barriers in Organic Field Effect?Transistors," Organic Electronics, 13(8), 1296-1301 (2012). 

  7. Darbandy, G., Aghassi, J., Sedlmeir, J., Monga, U., Garduno,?I., Cerdeira, A., and Iniguez, B., "Temperature Dependent?Compact Modeling of Gate Tunneling Leakage Current in?Double Gate MOSFETs," Solid-State Electronics, 81,?124-129 (2013). 

  8. Kang, E. G., "Optimal Design of Field Ring for Power?Devices," Inst. Korean Electr. Electron. Eng., 14(3), 199-204?(2010). 

  9. Jung, E. S., Kyoung, S. S., Chung, H., and Jang, E. G., "A?Study of Field-Ring Design using a Variety of Analysis?Method in Insulated Gate Bipolar Transistor (IGBT)," J.?Electr. Eng. Technol., 9(6), 1995-2003 (2014). 

  10. Niedernostheide, F. J., Schulze, H. J., Laska, T., and?Philippou, A., "Progress in IGBT Development," IET Power?Electron., 11(4), 646-653 (2018). 

  11. NCS(National Competency Standards), Electrical and?Electronics, Electronic Device Development, Semiconductor?Development, Learning Modules. 

  12. Kim, B. H., Shin, H. K., Park, J. Y., and Chang, S. M.,?"Optimizing Collector-Emitter Saturation Voltage at 3000 V?Insulated Gate Bipolar Transistors Using Laser Thermal?Annealing," Trans. Electr. Electron. Mater., 20, 7-11 (2018). 

  13. Kim, B. H., Park, J. Y., Park, K. H., Shin, H. K., Kim, G.?J., and Chang, S. M., "Optimized Design of Multi-Zone?Junction Termination Extension for High Voltage Power?Devices (IGBTs)," J. Nanosci. Nanotechnol., 17(8), 5606-5611 (2017). 

  14. Williams, K. R., Gupta, K., and Wasilik, M., "Etch Rates for?Micromachining Process-partII," J. Microelectromech. Syst.,?12(6), 761-778 (2003). 

  15. Ion Implantation Chapter 7, Semiconductor Materials Lab,?Hanyung University. 

  16. Kim, B. H., Park, G. H., Choi, J. G., and Chang, S. M.,?"Study on the Breakdown Voltage in the Implantion and?Drive in Process," Korea/Japan/Taiwan Chemical Engineering?Conference (2019). 

저자의 다른 논문 :

관련 콘텐츠

오픈액세스(OA) 유형

GOLD

오픈액세스 학술지에 출판된 논문

저작권 관리 안내
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로