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NTIS 바로가기韓國情報技術學會論文誌 = Journal of Korean institute of information technology, v.8 no.12, 2010년, pp.29 - 35
안진호 , 심재훈 , 문병인
본 논문에서는 고밀도 SOC 테스트 모드에서 발생하는 열 문제를 테스트 시간 손실 없이 효율적으로 해결할 수 있는 스케줄링 알고리즘을 제안한다. 제안한 알고리즘은 코어 간 인접도를 고려하여 발열 영역에 인접한 코어들의 테스트 순서를 제어하고 평균 온도가 높은 코어들의 테스트 시간을 할당 TAM 크기로 조절함으로써 최대 발열 온도를 감소시킬 수 있다. ITC"02 벤치마크 회로를 대상으로 한 실험결과 제안한 방법은 발열온도 제어와 테스트 시간 감소 모두에 효과적이며 계산시간 또한 기존 연구 대비 크게 향상되어 고밀도 SOC 테스트에 적합함을 확인할 수 있었다.
In this paper, we propose a scheduling algorithm capable of solving the thermal problem in test mode of a highly integrated SOC without the loss of test time. The proposed method can reduce the maximum temperature in test mode with the test order control based on the adjacency among cores and with t...
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