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Micro-pyramidal structure fabrication on polydimethylsiloxane (PDMS) by Si (100) KOH wet etching 원문보기

Journal of the Korean Physical Society, v.71 no.8, 2017년, pp.506 - 509  

Hwang, Shinae ,  Lim, Kyungsuk ,  Shin, Hyeseon ,  Lee, Seongjae ,  Jang, Moongyu

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

A high degree of accuracy in bulk micromachining is essential to fabricate micro-electro-mechanical systems (MEMS) devices. A series of etching experiments is carried out using 40 wt% KOH solutions at the constant temperature of 70 degrees C. Before wet etching, SF6 and O-2 are used as the dry etchi...

참고문헌 (9)

  1. Proc. IEEE J. M. Bustillo 86 1552 1998 10.1109/5.704260 J. M. Bustillo, R. T. Howe and R. S. Muller, Proc. IEEE 86, 1552 (1998). 

  2. J. Microelectromech. Syst. B. H. Jo 9 76 2000 10.1109/84.825780 B. H. Jo, L. M. Van Lerberghe, K. M. Motsegood and D. J. Beebe, J. Microelectromech. Syst. 9, 76 (2000). 

  3. Proc. IEEE G. T. Akovacs 86 1536 1998 10.1109/5.704259 G. T. Akovacs, N. I. Maluf and K. E. Petersen, Proc. IEEE 86, 1536 (1998). 

  4. IEEE Electron Device Lett. A. Goyal 14 29 1993 10.1109/55.215090 A. Goyal, R. C. Jaeger, S. H. Bhavnani, C. D. Ellis, N. K. Phadke, M. Azimi-Rashti and J. S. Goodling, IEEE Electron Device Lett. 14, 29 (1993). 

  5. Microelectron. J. K. Biswas 37 519 2006 10.1016/j.mejo.2005.07.012 K. Biswas and S. Kal, Microelectron. J. 37, 519 (2006). 

  6. Ultrason. Sonochem. Q. Jiao 31 222 2016 10.1016/j.ultsonch.2015.12.019 Q. Jiao, X. Tan, J. Zhu, S. Feng and J. Gao, Ultrason. Sonochem. 31, 222 (2016). 

  7. Sens. Actuators A C. R. Yang 119 263 2005 10.1016/j.sna.2004.07.015 C. R. Yang, P. Y. Chen, Y. C. Chiou and R. T. Lee, Sens. Actuators A 119, 263 (2005). 

  8. Q. Michael 446 2001 Semiconductor manufacturing technology Q. Michael and S. Julian, Semiconductor manufacturing technology (Prentice Hall, US, 2001), Vol. 1, p. 446. 

  9. J. Microelectromech. syst. L. M. Landsberger 5 106 1996 10.1109/84.506198 L. M. Landsberger, S. Nsaeh, M. Kahrizi and M. Paranjape, J. Microelectromech. syst. 5, 106 (1996). 

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