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NTIS 바로가기Physics and technology of high-k gate dielectrics, 2007, 2007년, pp.299 - 310
Van Elshocht, S. , Hardy, A. , Adelmann, C. , Caymax, M. , Conard, T. , Franquet, A. , Richard, O. , Van Bael, M.K. , Mullens, J. , De Gendt, S.
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