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NTIS 바로가기한국전기전자재료학회 1999년도 춘계학술대회 논문집, 1999 May 01, 1999년, pp.489 - 492
이제혁 (수원대학교 전자재료공학과) , 변문기 (수원대학교 전자재료공학과) , 임동규 (수원대학교 전자재료공학과) , 정주용 (수원대학교 전자재료공학과) , 이진민 (수원대학교 전자재료공학과)
The effects of alternate bias stress on p-channel poly-Si TPT's has been systematically investigated. It has been shown that the application of alternate bias stress affects device degradation for the negative bias stress as well as device improvement for the positive bias stress. This effects have ...
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