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NTIS 바로가기대한전기학회 1988년도 전기.전자공학 학술대회 논문집, 1988 July 01, 1988년, pp.346 - 349
설영권 (고려 대학교 전기공학과) , 최종일 (고려 대학교 전기공학과) , 이내인 (고려 대학교 전기공학과)
Conductance technique is the moat accurate method and gives more detailed information about interface of the MIS structure than other methods. With the measurement of the equivalent parallel conductance and capacitance, the characterization of Si-SiN interface is developed. The interface state densi...
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