본 장은 100MHz 수준의 고속 신호 샘플링을 위해 글리치 최소화 기법을 적용한 8비트 100MHz CMOS D/A 변환기 (Digital - to - Analog Converter : DAC) 회로를 제안한다. 제안하는 DAC는 0.35um Hynix CMOS 공정을 사용하여 설계 및 레이아웃을 하였으며, 응용되는 시스템의 속도, 해상도 및 면적 등의 사양을 고려하여 전류 모드 구조로 적용되었다. D/A 변환기의 선형 특성은 원래의 Spec. 과 유사하였으며, ${\pm}0.09LSB$ 정도의 DNL과 INL오차가 측정되었다. 제작된 칩 테스트 결과에 대한 오동작의 원인을 분석하였으며, 이를 통하여 칩 테스트를 위한 고려사항 등을 제안하였다.
본 장은 100MHz 수준의 고속 신호 샘플링을 위해 글리치 최소화 기법을 적용한 8비트 100MHz CMOS D/A 변환기 (Digital - to - Analog Converter : DAC) 회로를 제안한다. 제안하는 DAC는 0.35um Hynix CMOS 공정을 사용하여 설계 및 레이아웃을 하였으며, 응용되는 시스템의 속도, 해상도 및 면적 등의 사양을 고려하여 전류 모드 구조로 적용되었다. D/A 변환기의 선형 특성은 원래의 Spec. 과 유사하였으며, ${\pm}0.09LSB$ 정도의 DNL과 INL오차가 측정되었다. 제작된 칩 테스트 결과에 대한 오동작의 원인을 분석하였으며, 이를 통하여 칩 테스트를 위한 고려사항 등을 제안하였다.
This paper described an 8bit, 100Msample/s CMOS D/A converter using a glich-time minimization technique for the high-speed sampling rate of 100MHz level. The proposed DAC was implemented in 0,35um Hynix CMOS technology and adopts a current mode architecture to optimize sampling rate, resolution, chi...
This paper described an 8bit, 100Msample/s CMOS D/A converter using a glich-time minimization technique for the high-speed sampling rate of 100MHz level. The proposed DAC was implemented in 0,35um Hynix CMOS technology and adopts a current mode architecture to optimize sampling rate, resolution, chip area. The DAC linear characteristics was similar to the proposed specification the prototype error between DNL and INL is less than ${\pm}0.09LSB$ respectively. Also, fab-out chip was tested, analysed the cause of error operation, and proposed the field considerations for chip test.
This paper described an 8bit, 100Msample/s CMOS D/A converter using a glich-time minimization technique for the high-speed sampling rate of 100MHz level. The proposed DAC was implemented in 0,35um Hynix CMOS technology and adopts a current mode architecture to optimize sampling rate, resolution, chip area. The DAC linear characteristics was similar to the proposed specification the prototype error between DNL and INL is less than ${\pm}0.09LSB$ respectively. Also, fab-out chip was tested, analysed the cause of error operation, and proposed the field considerations for chip test.
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