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전자 에너지 분포 함수 측정을 위한 I V특성 곡선의 확률 밀도 함수를 이용한 Smoothing method
The study of advanced numerical differentiation for obtaining the electron energy distribution function 원문보기

대한전기학회 2005년도 제36회 하계학술대회 논문집 C, 2005 July 18, 2005년, pp.2082 - 2084  

장성호 (한양대학교 전기공학과) ,  정진욱 (한양대학교 전기공학과)

초록
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I-V 특성 곡선의 2차 미분을 통해서 얻어지는 전자 에너지 분포 함수를 정확하게 구하기 위해서는 스무딩 과정이 반드시 필요하다. 대표적인 스무딩 방법으로 가우시안 확률 밀도 함수를 instrument함수로 이용하는 가우시안 스무딩이 있다. 본 연구에서는 시스템에 따라서 instrument함수가 다르다는 점에 착안하여, 여러 가지 다른 종류의 확률 밀도 함수를 instrument함수로 사용 스무딩에 적용하여 확률 밀도 함수에 따른 노이즈 제거 및 전자 에너지 분포 함수의 정확도를 비교하였고. 동시에 대표적인 범용 스무딩 방법인 사비츠키-골래이 스무딩, Polynomial fitting과도 그 결과를 비교 분석하였다.

AI 본문요약
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제안 방법

  • 기본적으로 이번 실험은 원 I-V 특성 곡선에 노이즈를 첨가하여 노이즈가 포함된 I-V 특성 곡선을 만들었다. 이것을 가우시안 스무딩과 사비츠키-골래이 스무딩으로 스무딩 하고, 다시 이 신호를 2차 미분해서 노이즈가 포함되지 않은 원 PV 특성 곡선의 2차 미분 함수와 그 차이를 비교하는 방법으로 진행 하였다.
  • 보편적으로 스무딩 성능이 좋고, 특히 미분 특성이 우수하나, 차수와 창 데이터 길이를 결정하기 위한 기준이 주어져 있지 않다. 실험은 먼저 표준 편차(Standard deviation)가 0.001 인 노이즈를 가지는 I-V특성 곡선에 사비츠키-골래이 스무딩을 중H서, 스무딩의 최적 조건과 최소 오차 값을 찾아보았다. 사비츠키-골래이 스무딩의 경우 다항식 차수(order)와 창 테이 타 길이 (Window length, n L = n 이 두 가지 조건을 결정해 줘야 하며 그 결과는 <그림 5>의 그래프와 같이나타났다.
  • 이것을 가우시안 스무딩과 사비츠키-골래이 스무딩으로 스무딩 하고, 다시 이 신호를 2차 미분해서 노이즈가 포함되지 않은 원 PV 특성 곡선의 2차 미분 함수와 그 차이를 비교하는 방법으로 진행 하였다.
  • 사비츠키-골래이 스무딩은 보편적으로 양호한 결과를 보였지만, 노이즈의 종류에 따라 그 특성의 차이가 컸다. 이와 같은 이유로 본 연구에서는 2차 미분을 위한 스무딩 특성이 좋은 가우시안 스무딩과 사비츠키-골래이 스무딩을 집중적으로 비교 분석하였고. 그 결과 가우시안 스무딩의 우수성을 입증하였다.
  • 창 테이타 길이(Window length, nL=nR)를 변화 시키면서 스무딩하고 그 결과를 원 신호의 2차 미분과 비교해서 최소 오차일 때의 다항식 차수(order)와 창 테이타 길이(Window length, nL = nR)를 결정하였다. 가우시안 스무딩 역시 동일한 방법으로 최적의 표준편차() 를 결정하였다.

이론/모형

  • 적용하는 것으로 한정했다.(1차 또는 2차 미분 후에는 스무딩을 하지 않았다.) 또한, I-V특성 곡선의 미분은 중앙 차분 법을 사용하였다.
  • 본 연구에서는 2차의 가우시안 콘볼루션을 사용하였다. 2차 이상의 가우시안 컨볼루션의 경우, 결과의 차이는 극히 작다[3].
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