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문제 정의
- 본 논문에서는 Giri의 브레인스토밍 방법의 장점은 살리되, 단점을 보완하기 위하여 ad hoc 브레인스토밍 대신에 내장형 S/W에서 발생할 수 있는 고장메커니즘 (failure mechanism)을 정의하고 분류하여, 고장 메커니즘에 따라 해당 고장을 테스트하는데 적합한 케이스를 생성하는 방안을 제시하고자 한다. 고장 메카니즘이란 고장에 이르는 과정을 가리킨다.
- 본 논문에서는 내장형 S/W의 모델과 고장메카니즘, 그리고 그에 기반하여 테스트 전략을 설계하는 전략에 대하여 기술하고, 이를 Table2과 같이 정리하였다. Table2에 기술된 고장 메카니즘과 테스트 전략이 완벽하지는 않지만 테스트 목적을 고장 메커니즘으로 좀더 세분화하여 테스트 케이스를 생성함으로써 단순한 모델 기반의 테스트케이스 생성에 비해 오류 검증 능력을 높일 수 있다.
- 따라서 S/W의 모든 요소를 일괄로 테스트 하는 것 보다는 요소별 테스트를 수행하여 한 곳의 고장이 다른 곳으로 파급되지 않도록 하는 것이 중요하다. 본 논문에서는 내장형 S/W의 모델의 각 요소별로 divide-and -conquer 전략에 따라 테스트를 수행할 테스트 케이스를 생성하는 것이 매우 경제적이며, 타당한 전략이라고 하겠다.
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