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NTIS 바로가기대한기계학회 2008년도 추계학술대회B, 2008 Nov. 05, 2008년, pp.2511 - 2514
유동현 (성균관대학교 기계공학부 대학원) , 안영기 (성균관대학교 기계공학부 대학원) , 안덕민 (성균관대학교 정보통신공학부 대학원) , 김태성 (성균관대학교 기계공학부 & 나노과학기술원) , 이희명 (주)듀라소닉) , 김정인 (주)듀라소닉) , 이양래 (한국기계연구원) , 김현세 (한국기계연구원) , 임의수 (한국기계연구원)
As the minimum feature size decreases, techniques to avoid contamination and processes to maintain clean wafer surfaces have become very important. The deposition and detachment of nanoparticles from surfaces are major problem to integrated circuit fabrication. Therefore, cleaning technology which r...
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