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NTIS 바로가기한국정보디스플레이학회 2007년도 7th International Meeting on Information Display 제7권2호, 2007 Aug. 27, 2007년, pp.1075 - 1078
Im, Kiju (Corporate R&D Center, Samsung SDI Co., LTD) , Choi, Byoung-Deog (Corporate R&D Center, Samsung SDI Co., LTD) , Hyang, Park-Hye (Corporate R&D Center, Samsung SDI Co., LTD) , Lee, Yun-Gyu (Corporate R&D Center, Samsung SDI Co., LTD) , Yang, Hui-won (Corporate R&D Center, Samsung SDI Co., LTD) , Kim, Hye-Dong (Corporate R&D Center, Samsung SDI Co., LTD)
Negative Bias Temperature Instability (NBTI) in Eximer Laser Annealing (ELA) based Low Temperature polysilicon (LTPS) Thin-Film Transistors (TFT) was investigated. Even though NBTI is generally appeared in devices with thin gate oxide, the TFT with gate oxide thickness of 120 nm, relatively thick, a...
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