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NTIS 바로가기대한전자공학회 2006년도 하계종합학술대회, 2006 June 21, 2006년, pp.377 - 378
Song, Geun-Sil (Department of Image Engineering, Graduate School of Advanced Imaging Science Multimedia & Film, Chung-Ang University) , Kim, Mi-Ae (Department of Image Engineering, Graduate School of Advanced Imaging Science Multimedia & Film, Chung-Ang University) , Lee, Won-Hyung (Department of Image Engineering, Graduate School of Advanced Imaging Science Multimedia & Film, Chung-Ang University)
The proposed method measures the correlation maps of SVD that are used to interpret data relations and structures between the original image and the distorted image. It seems that the SVD results can be used to assist us in gaining information about covariance structure of two images. This method is...
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