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[국내논문] Test Time감축을 위한 자동 검사 설비 제어방법에 관한 연구
Researching the Control Methodology for Automatic Test Equipment Apparatus for Test Time Reduction 원문보기

한국전기전자재료학회 2010년도 하계학술대회 논문집 Vol.11, 2010 June 16, 2010년, pp.360 - 360  

변도훈 (삼성전자공과대학교) ,  최승철 (삼성전자공과대학교) ,  윤병희 (삼성전자)

초록
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반도체 산업은 지속적인 design rule 감소로 인해 직접도 및 Pin Count가 점점 증가함에 따라 보증해야할 회로의 수와 기능이 더불어 증가하고 있으며, 그 중 Test Cost 감소 방법 확보가 시급하게 되었다. 이에 따라 Test Cost 감소와 직결된 Test Time 감소 방법이 다양하게 제시되고 연구되고 있다. 본 논문은 Test Time의 한 부분인 반도체 검사 장비 (Automatic Test Equipment)의 효율적인 제어 방법을 제공함으로써, 관련 분야의 이해를 돕고자 한다.

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문제 정의

  • 이에 대응하여 테스트 비용을 줄이기 위하여 Logic BIST를 사용하거나 PARA를 늘리는 방법을 사용하는데 모두 ATE를 사용하여 Test Time몰 줄이는데 초점이 맞추어져 있다. 논문은 TEST 비용 절감의 대전제인 Test Time 감축을 TEST방법이 아닌 ATE 제어 측면에서 방법을 제시하여 설비 효율 향상을 도모하고자 한다.
  • 본 논문에서는 일반적인 ATE 제어 방식인 Software 주도형 제어방식 대신 Hardware의 비중을 높인 Hardware 주도형 제어방식을 제안하였다. ATE 제작 비용이 크게 증가하지 않는 범위 내에서 기존 ATE와 동등한 Test선별력을 유지하지만 Parallel Test Time의 감소가 가능한 Hardware 주도형 제어방식은 기존에 시도되었던 Test방식이나 알고리즘에 의존한 Te마 Time 감축이 아닌 설비 측면에서의 새로운 시도라 할 수 있다.
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