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문제 정의
- 본 논문에서는 일반적인 ATE 제어 방식인 Software 주도형 제어방식 대신 Hardware의 비중을 높인 Hardware 주도형 제어방식을 제안하였다. ATE 제작 비용이 크게 증가하지 않는 범위 내에서 기존 ATE와 동등한 Test선별력을 유지하지만 Parallel Test Time의 감소가 가능한 Hardware 주도형 제어방식은 기존에 시도되었던 Test방식이나 알고리즘에 의존한 Te마 Time 감축이 아닌 설비 측면에서의 새로운 시도라 할 수 있다.
- 이에 대응하여 테스트 비용을 줄이기 위하여 Logic BIST를 사용하거나 PARA를 늘리는 방법을 사용하는데 모두 ATE를 사용하여 Test Time몰 줄이는데 초점이 맞추어져 있다. 본 논문은 TEST 비용 절감의 대전제인 Test Time 감축을 TEST방법이 아닌 ATE 제어 측면에서 방법을 제시하여 설비 효율 향상을 도모하고자 한다.
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