IPC분류정보
국가/구분 |
한국(KR)/공개특허
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 |
10-1995-0700645
(1995-02-20)
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공개번호 |
10-1995-0703142
(1995-08-23)
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국제출원번호 |
PCT/DE1993/000757
(1993-08-19)
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국제공개번호 |
WO1994004909
(1994-03-03)
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DOI |
http://doi.org/10.8080/1019950700645
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발명자
/ 주소 |
- 김,윤옥
/ 독일연방공화국데-*****도르트문트암헤드브링크**
- 프리스,랄프,하.
/ 독일연방공화국데-*****도르트문트바이세타우베**
- 윤,대진
/ 독일연방공화국데-*****슈베르테빌링스터슈트라쎄**
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출원인 / 주소 |
- 아리트메트게엠베하 / 독일데-*****도르트문트펠트불루멘베크*
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대리인 / 주소 |
-
남상선
(NAM, Sang Sun)
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서울시 중구 서소문동 **-*,대한항공빌딩 *층(남앤드남국제특허법률사무소)
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심사청구여부 |
있음 (1998-08-19) |
심사진행상태 |
포기(등록료 미납) |
법적상태 |
포기 |
초록
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본 발명은 적어도 하나의 방사선 광윈, ATR소자 뿐만아니라 검파기 장치를 사용하여 감쇠된 전체 반사량을 수단으로 하여 샘플을 생체내에서 또는 밖에서 정략 및 정성분석하는 장치로서 본 발명은 상기 방사선 광원은 상기 ATR 소자에 조준된 주요 빔을 생성하고, 상기 주요 빔은 광학적으로 높은 밀도의 매질 및 낮은 밀도의 매질 사이의 경계면에서 전체 반사량 α1의 임계각 보다 큰 α의 각엑서 상기 ATR 소자에 충돌하고, 분석하고자 하는 샘플은 상기 ATR 소자의 적어도 한 측면에 배치될 수 있고, 그것의 표면 인접 층은 주요 방사선과
본 발명은 적어도 하나의 방사선 광윈, ATR소자 뿐만아니라 검파기 장치를 사용하여 감쇠된 전체 반사량을 수단으로 하여 샘플을 생체내에서 또는 밖에서 정략 및 정성분석하는 장치로서 본 발명은 상기 방사선 광원은 상기 ATR 소자에 조준된 주요 빔을 생성하고, 상기 주요 빔은 광학적으로 높은 밀도의 매질 및 낮은 밀도의 매질 사이의 경계면에서 전체 반사량 α1의 임계각 보다 큰 α의 각엑서 상기 ATR 소자에 충돌하고, 분석하고자 하는 샘플은 상기 ATR 소자의 적어도 한 측면에 배치될 수 있고, 그것의 표면 인접 층은 주요 방사선과 상호작용을 하고 상기 ATR 소자의 상기 주요 방사선의 임사각에 대응하여 검출기 장치가 상기 ATR 소자로 부터 방사되는 방사선을 검파하는 것을 특징으로 한다.
대표청구항
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적어도 하나의 방사선 광윈, ATR소자 뿐만아니라 검파기 장치를 사용하여 감쇠된 전체 방사량을 수단으로 하여 샘플을 생체내에서 또는 밖에서 정량 및 정성분석 하는 장치에 있어서, 상기 방사선 광원은 상기 ATR 소자에 조준된 주요 빔을 생성하고, 상기 주요빔은 광학적으로 높은 밀도의 매질 및 낮은 밀도의 매질 사이의 경계면에서 전체 반사량 α1의 임계각 보다 큰 α의 각에서 상기 ATR 소자에 충돌하고, 상기 주요 방사선과 상호 작용하는 표면에 인접한 분석하고자 하는 샘플의 층은 상기 ATR 소자의 적어도 한 측면에 배치될 수 있고
적어도 하나의 방사선 광윈, ATR소자 뿐만아니라 검파기 장치를 사용하여 감쇠된 전체 방사량을 수단으로 하여 샘플을 생체내에서 또는 밖에서 정량 및 정성분석 하는 장치에 있어서, 상기 방사선 광원은 상기 ATR 소자에 조준된 주요 빔을 생성하고, 상기 주요빔은 광학적으로 높은 밀도의 매질 및 낮은 밀도의 매질 사이의 경계면에서 전체 반사량 α1의 임계각 보다 큰 α의 각에서 상기 ATR 소자에 충돌하고, 상기 주요 방사선과 상호 작용하는 표면에 인접한 분석하고자 하는 샘플의 층은 상기 ATR 소자의 적어도 한 측면에 배치될 수 있고, 상기 ATR소자의 상기 주요 방사선의 입사각에 대응하여 검출기 장치가 상기 ATR소자로 부터 방사되는 방사선을 검파하는 것을 특징으로 하는 장치.제1항에 있어서, 측정 빔은 샘플 물질의 분석을 위해 필요로 되는 측정 샘플에 따라 상기 검출기에서의 측정신호를 자체 눈금 측정방법으로 생성하는 것을 특징으로 하는 장치.제1 또는 2항에 있어서, 상기 방사선 광원은 레이저 다이오우드이며 이것의 파장의 안정성은 예컨대 일정한 온도 제어에 의해 보장되는 것을 특징으로 하는 장치.제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 온도를 주변온도 이상에서 일정하게 고정시킬 수 있는 방법으로 온도 제어를 PTC 저항기로 수행하는 것을 특징으로 하는 장치.제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 온도 제어가 온도를 필요에 따라 고정시키는 방법으로 팰티에 효과로 수행되는 것을 특징으로 하는 장치.제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 ATR 소자가 반원통 반구형 또는 불규칙 형태인 것을 특징으로 하는 장치.제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 ATR 소자가 필요의 유리 또는 플라스틱 랜즈인 것을 특징으로 하는 장치.제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 레이저 다이오우드는 다중 방식, 필요하다면 단일방식으로 조작가능하게 하는 것을 특징으로 하는 장치.제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 검출기, 장치가 냉각 되지 않는 포토다이오우드인 것을 특징으로 하는 장치.제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서, 설치 구성부에 적어도 하나의 방사선 광원을 갖는 상기 ATR소자가 조밀하게 구성되고, 방사선 광원이 PTC 저항기와 대응하는 수의 검출기 장치가 결합되는 것을 특징으로 하는 장치.제10항에 있어서, 상기 ATR 소자를 상기 설치부에 그것이 상기 설치부내의 리세스 내면에 그것의 공동의 상부 폭면에 삽입시킬 수 있는 방법으로 위치시킬 수 있고 이에따라 차광 장치로서 사용되는 내부 공동을 에워싸는 것을 특징으로 하는 장치.제11항에 있어서, 다른 추가의 검출기가 조합되어 상기 리세스내부에 광-집중 특성을 갖는 부품이 되고 상기 부품이 반사 방사선을 측정하게 하는 것을 특징으로 하는 장치.제1항 내지 제12항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광원과 상기 각각의 검출기 장치가 입사와 반사각에 따라 배열되는 것을 특징으로 하는 장치.제1항 내지 제13항 중 어는 한 항에 있어서, 각각의 온도제어 뿐만아니라 상기 광원의 에너지 공급이 자체 눈금 측정이 되는 것을 특징으로 하는 장치.제1항 내지 제14항 중 어느 한 항에 있어서, 물리적 파라메터 온도, 전력, 전류 강도 뿐만 아니라 다른 물리적 파라메터의 변화는 샘플 물질의 분석에 사용되는 압력에 따라 좌우되는 것을 특징으로 하는 장치.제1항 내지 제15항 중 어느 한 항에 있어서, 공기중의 물리적 변화, 예컨대 온도는 샘플 물질의 분석에 사용되는 것을 특징으로 하는 장치.제1항 내지 제16항 중 어느 한 항에 있어서, 샘플 및 공기에 의해 야기된 물리적 파라메터의 변화의 보정은 적절한 수학적 평가의 알고리즘으로 인해 각각의 다중의 선형 회귀를 계속하게 하는 것을 특징으로 하는 장치.제1항 내지 제17항 중 어느 한 항에 있어서, 전류 강도를 각각 변경 시킴에 의해 주요 방사선 광원의 레이저 칩의 장소 위존 도핑을 전자 밀도를 변경시키고 반사율의 장소 의존상을 결과하여 동일하거나 변경되는 파장의 수개의 방사선 광속의 방사가 일어나도록 하는 방법으로 상기 주요 방사선 광원의 내부 구조를 변경시킬 수 있는 것을 특징으로 하는 장치.제1항 내지 제18항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 샘플과 다른 투과 깊이에서 상호작용을 변경시키는 상기 ATR소자를 향해 하나의 주요 방사선 광원으로 부터 하나이상의 광선의 방사선 광속을 조사할 수 있는 것을 특징으로 하는 장치.제1항 내지 제19항 중 어느 한 항에 따른 장치를 사용하는 방법에 있어서, 필요에 따라서 각각의 샘플을 분석하기 전에 또는 분석한 다음에 상기 검출된 방사선이 공기 표준 측정에 의해 측정되는 것을 특징으로 하는 방법.제20항에 있어서, 혈액 글루코오스, 콜레스테롤, 및 알콜등의 혈액성분의 비침입 분석에 사용되도록, 측정 결과가 피부 영역에 부여되는 압력에는 거의 의존 하지 않는 방식으로, 혈액이 순환되는 피부 영역을 바람직하게 지문 영역으로 위치시킬 수 있는 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.