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GAN 단결정 제조방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • H01L-021/20
출원번호 10-1997-0039655 (1997-08-20)
공개번호 10-1999-0016925 (1999-03-15)
등록번호 10-0450781-0000 (2004-09-20)
DOI http://doi.org/10.8080/1019970039655
발명자 / 주소
  • 박성수 / 경기도 성남시 분당구 야탑동 벽산아파트 ***동****호
  • 김대식 / 경기도 성남시 분당구 정자동 라이프아파트 ***동****호
출원인 / 주소
  • 삼성전자주식회사 / 경기도 수원시 영통구 매탄동 ***
대리인 / 주소
  • 이해영; 이영필 (LEE, HAE-YOUNG)
  • 서울 서초구 서초동****-*(리앤목 특허법인); 서울 서초구 서초동 ****-* (리앤목 특허법인)
심사청구여부 있음 (2001-11-29)
심사진행상태 등록결정(심사전치후)
법적상태 소멸

초록

본 발명의 GaN 단결정 제조 방법은, Si 기판위에 SiC 박막을 형성하는 단계와, 상기 SiC 박막의 Si 결정면위에 GaN 버퍼층 또는 AlGaN 버퍼층을 적층하는 단계와, 상기 GaN 버퍼층 위에 상기 GaN 버퍼층을 형성시키는 온도보다 높은 온도에서 GaN 단결정 박막을 성장시키는 단계, 및 상기 GaN 성장이 완료된 후, 상기 Si 기판을 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 따르면, 사파이어 또는 SiC 기판을 사용할 때 발생되는 결함 또는 크랙을 방지할 수 있으며, 고품질의 GaN 박막을 얻을 수 있다

대표청구항

(가) Si 기판위에 SiC 박막을 형성하는 단계;(나) 상기 SiC 박막의 Si 결정면위에 GaN 버퍼층을 적층하는 단계;(다) 상기 GaN 버퍼층위에 상기 GaN 버퍼층을 형성시키는 온도보다 높은 온도에서 GaN 단결정 박막을 성장시키는 단계; 및(라) 상기 GaN 성장이 완료된 후, 상기 Si 기판을 제거하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 GaN 단결정 제조 방법.

이 특허에 인용된 특허 (2)

  1. [일본] CRYSTAL GROWTH METHOD AND SEMICONDUCTOR LIGHT EMITTING DEVICE | KITAHATA MAKOTO, BAN YUZABURO, ISHIBASHI AKIHIKO
  2. [일본] EPITAXIAL GROWTH FOR GROUP III NITRIDE SEMICONDUCTOR | HASHIMOTO TADAAKI, KONDO OSAMU, ISHIDA MASAHIRO, SUGINO TAKASHI

이 특허를 인용한 특허 (4)

  1. [한국] GaN박막 SAW필터 및 이를 제조하는 방법 | 이용현, 이정희, 이석헌, 최영식
  2. [한국] 갈륨나이트라이드 기판 및 그 제조방법 | 유지범, 백호선
  3. [한국] 단결정 질화갈륨 국재 기판 및 그 제조방법 | 이즈미 카쓰토시, 나카오 모토이, 오오바야시 요시아키, 미네 케이지, 히라이 세이사쿠, 죠베 후미히코, 타나카 토모유키
  4. [한국] 질화물 반도체 및 그 제조방법 | 이정희, 함성호, 조현익
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