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연합인증

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광통신용 레이저 다이오드 칩의 제조방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • H01S-005/30
출원번호 10-1998-0063651 (1998-12-31)
공개번호 10-2000-0046923 (2000-07-25)
등록번호 10-0280978-0000 (2000-11-14)
DOI http://doi.org/10.8080/1019980063651
발명자 / 주소
  • 신기철 / 경기도 안양시 동안구 호계동 ***번지
  • 이호성 / 경기도 안양시 동안구 호계동 ***번지
  • 송준석 / 경기도 안양시 동안구 호계동 ***번지
  • 구본조 / 경기도 안양시 동안구 호계동 ***번지
출원인 / 주소
  • 주식회사 엘에스 / 서울특별시 강남구 삼성동 ***
대리인 / 주소
  • 손은진 (SOHN, Eun Jin)
  • 서울 강남구 역삼동 ***-** 신원빌딩 *층(손.김국제특허법률사무소)
심사청구여부 있음 (1998-12-31)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 소멸

초록

본 발명은 광섬유 통신에 이용되는 광원중의 하나인 레이저 다이오드(LD)칩에 관한 것이다. 특히, 본 발명은 칩의 절단 수율을 높일 수 있는 레이저 다이오드칩의 제조방법에 관한 것이다. 본 발명의 레이저 다이오드 칩 제조방법은 광통신용 레이저 다이오드 칩을 제조하기 위해 (1) 3차 MOCVD 성장이 끝난 n형 InP, p형 InP, n형 InP, p형 InP 및 InGaAs층이 차례대로 적층된 웨이퍼의 표면에 질화박막(Si3N4)을 증착하고, 포토리소그라피 공정으로 V-메사(V-mesa)와 V-그루브(V-groove)를 에칭하기

대표청구항

광통신용 레이저 다이오드 칩을 제조하기 위해 (1) 3차 MOCVD 성장이 끝난 n형 InP, p형 InP, n형 InP, p형 InP 및 InGaAs층이 차례대로 적층된 웨이퍼의 표면에 질화박막(Si3N4)을 증착하고, 포토리소그라피 공정으로 V-메사(V-mesa)와 V-그루브(V-groove)를 에칭하기 위해 에칭용 원도우(window)를 열고, 황산, 과산화수소 및 증류수가 혼합된 용액을 이용하여 InGaAs층을 에칭하는 단계와; (2) 염산계 용액을 이용하여 전류차단층인 InP층을 에칭하는 단계와;(3) PECVD를 이용하

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