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영재성 판별 도구 개발 방법 및 판별 도구를 이용한영재성 판별 방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/공개특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G09B-019/00
출원번호 10-2003-0026631 (2003-04-28)
공개번호 10-2004-0092729 (2004-11-04)
DOI http://doi.org/10.8080/1020030026631
발명자 / 주소
  • 박상찬 / 대전광역시유성구구성동한국과학기술원산업공학과
  • 홍계항 / 대전광역시유성구구성동한국과학기술원산업공학과
출원인 / 주소
  • 한국과학기술원 / 대전 유성구 구성동 ***-*
대리인 / 주소
  • 이종일 (Lee, Jong Il)
  • 서울특별시 강남구 역삼동 ***-*번지 ***빌딩 ***호
심사청구여부 있음 (2003-04-28)
심사진행상태 거절결정(일반)
법적상태 거절

초록

본 발명은 영재성 판별 도구 개발 방법 및 판별 도구를 이용한 영재성 판별 방법에 관한 것이다. 특히 영재의 암묵적 이론에 근거한 영재성에 대한 정의를 바탕으로 영재 성향을 지닌 영재 학생들을 판별하고, 이 학생들이 어떤 분야의 영재성을 지니고 있으며, 어떤 특성을 가지는 지를 세부적으로 판별할 수 있는 영재성 판별 도구를 개발하는 방법과 개발되어진 영재성 판별 도구를 이용하여 많은 학생들이 용이하게 영재성을 파악할 수 있는 영재성 판별 방법의 개발에 대한 것이다.영재는 기존의 지적 능력에 의존한 분석에서 현재는 창의성, 과제 집착

대표청구항

영재성 판별 도구 개발 방법에 있어서,일반 평재를 대상으로 암묵적 영재성 설문 조사 결과를 분석하여 영재 평재 판별 모델 개발 단계와;상기 영재를 대상으로 한 설문 조사 결과 중 영재 평재 판별 모델을 적용하여 평재 성향을 가진 영재 학생 그룹을 제거하는 영재 그룹 추출 단계와;상기 영재 그룹 추출 후, 얻어진 순수 영재 학생 그룹의 설문 조사 결과를 분석하여 특성 그룹별 분류 모델을 개발하는 영재 성향의 개별 특성 그룹 분류 모델 개발 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 영재성 판별 도구 개발 방법.

발명자의 다른 특허 :

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. [한국] 학습 매니지먼트 정보를 제공하기 위한 방법, 시스템 및 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체 | 고승재
  2. [한국] 학습 매니지먼트 정보를 제공하기 위한 방법, 시스템 및 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체 | 고승재
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