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연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

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수율 분석 방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • H01L-021/02
출원번호 10-2004-0118274 (2004-12-31)
공개번호 10-2006-0079011 (2006-07-05)
등록번호 10-0639029-0000 (2006-10-19)
DOI http://doi.org/10.8080/1020040118274
발명자 / 주소
  • 김민석 / 경기도 시흥시 정왕동 건영*차 ***동 ***호
출원인 / 주소
  • 동부일렉트로닉스 주식회사 / 서울 강남구 대치동 ***-**
대리인 / 주소
  • 허용록 (HAW, Yong Noke)
  • 서울 강남구 역삼동***-** 현죽빌딩 *층(선영특허법률사무소)
심사청구여부 있음 (2004-12-31)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 소멸

초록

본 발명은 수율 분석 방법에 관한 것으로, 보다 자세하게는 인라인에서 검사 및 리뷰 데이터를 추출하는 단계, 수율 손실과 결함품 다이의 상관 관계 그래프를 추출하는 단계, 샘플의 수를 늘려서 각 추출된 그래프에 검사 데이터를 누적 표시하여 2차원 추세선을 추출하는 단계, 상기 누적된 데이터에서 추출된 2차원 추세선의 기울기를 추출하는 단계로 이루어짐에 기술적 특징이 있다. 따라서, 본 발명의 수율 분석 방법은 DEFECT TYPE별, INSPECTION LAYER별, WAFER별 불량품 다이를 게산하여

대표청구항

수율 분석 방법에 있어서, (가) 인라인에서 검사 및 리뷰 데이터를 추출하는 단계; (나) 수율 손실과 결함품 다이의 상관 관계 그래프를 추출하는 단계; (다) 샘플의 수를 늘려서 각각의 추출된 그래프에 검사 데이터를 누적 표시하여 2차원 추세선을 추출하는 단계; 및 (라) 상기 누적된 데이터에서 추출된 2차원 추세선의 기울기를 추출하는 단계 를 포함하는 것을 특징으로 하는 수율 분석 방법.

이 특허에 인용된 특허 (2)

  1. [한국] 집적회로 장치의 수율 추정방법 | 이시다 히데키, 구로다 다카오
  2. [한국] 소자 및 반도체 웨이퍼들에 대한 수율 손실을 결정하기 위한 방법 및 기계 장치에 의해 판독가능한 프로그램 저장 장치 | 오트,라인홀트, 라머링,헤르베르트, 올렌도르프,하인리히
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