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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2005-0019192 (2005-03-08) |
공개번호 | 10-2006-0098864 (2006-09-19) |
등록번호 | 10-0715860-0000 (2007-05-01) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020050019192 |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2005-03-08) |
심사진행상태 | 등록결정(일반) |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 MOSFET 반도체 소자용 고압수소열처리 방법에 관한 것으로써, 고압 수소 처리를 적용한 고유전율 절연막 소자에 과포화로 존재하는 수소를 효과적으로 제거함으로써, 소자의 신뢰성을 개선하는 것을 특징으로 한다.즉, 계면 전하를 줄여주기 위해서는 고농도, 고압의 수소 처리가 필수적이지만, 이 경우 수소가 고유전율 절연막의 계면과 벌크에 같이 함유되어서, 결과적으로 소자의 초기 동작특성은 계면에 존재하는 수소의 계면전하 패시베이션(PASSIVATION)으로 인해 개선되나, 소자의 신뢰성은 절연막 BULK에 남아있는 수소로 인해
MOSFET 반도체 소자용 고압수소열처리 방법에 있어서, 상기 반도체 소자를 두 단계의 다른 분위기 가스의 열처리 공정을 적용하여, 전기적 특성을 개선하는 것을 특징으로 하는 MOSFET 반도체 소자용 고압수소열처리 방법.
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